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[实用新型]一种量块长度非接触检测装置-CN202221372379.5有效
发明人：杨凡 -专利权人：南京师范大学
申请日： 2022-06-02 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本实用新型属于计量技术领域，公开了一种量块长度非接触检测装置，包括：双显微成像系统、显微镜固定滑轨、潜望装置、样品定位平台、精密平动平台；双显微成像系统中均包括显微物镜；双显微成像系统分别安装于所述显微镜固定滑轨的左侧和右侧，并沿着显微镜固定滑轨滑动；样品定位平台固定在精密平动平台上，样品定位平台用于放置待测量块；潜望装置设置于显微物镜附近，用于将待测量块边界的像折转入显微成像系统。本方案无需测量双显微成像系统之间的距离，无须双显微成像系统放大倍数完全相同，只需保证待测量块两边界分别落入对应显微成像系统视野即可实现量块尺寸测量，适用于量块加工误差的高精度检验。
一种量块长度接触检测装置

[发明专利]用于大型结构物变形或位移参数的自校准式测量装置及方法-CN201610628659.0有效
发明人：高文武;屈战辉 -专利权人：西安敏文测控科技有限公司
申请日： 2016-08-03 - 公布日： 2018-10-02 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于大型结构物变形或位移参数的自校准式测量装置和方法，包括成像系统和安装在大型结构物测量点上的不少于一只的测量靶标，还包括安装在大型结构物上变形或位移变化可忽略区域的基准靶标，基准靶标和测量靶标在成像系统的敏感元的不同位置上成像，测量点的位移或变形参数根据测量靶标的结果和基准靶标的结果计算得到。本发明而克服了测量系统因环境温度、时效性或成像系统因自身安装基础变形引起的测量误差，提高了测量精度。
用于大型结构变形位移参数校准测量装置方法

[实用新型]用于大型结构物变形或位移参数的自校准式测量装置-CN201620834141.8有效
发明人：高文武;屈战辉 -专利权人：西安敏文测控科技有限公司
申请日： 2016-08-03 - 公布日： 2017-06-06 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于大型结构物变形或位移参数的自校准式测量装置，包括成像系统和安装在大型结构物测量点上的不少于一只的测量靶标，还包括安装在大型结构物上变形或位移变化可忽略区域的基准靶标，基准靶标和测量靶标在成像系统的敏感元的不同位置上成像，测量点的位移或变形参数根据测量靶标的结果和基准靶标的结果计算得到。本实用新型而克服了测量系统因环境温度、时效性或成像系统因自身安装基础变形引起的测量误差，提高了测量精度。
用于大型结构变形位移参数校准测量装置

[发明专利]激光雷达以及激光雷达测量装置-CN201710040385.8在审
发明人：尚弘;王飞;王豪;刘小康 -专利权人：北京佳光科技有限公司
申请日： 2017-01-18 - 公布日： 2017-05-10 - 主分类号： G01S17/08 文献下载
摘要：本发明提供了一种激光雷达以及激光雷达测量装置，涉及雷达技术领域，该激光雷达包括依次设置的环形激光光束发射系统、接收成像系统以及信息处理器；其中，所述发射系统用于发射激光光束并将该光束投射在被测量物体上；所述接收成像系统与所述发射系统相对设置，所述接收成像系统用于接收投射在被测量物体上的激光光束并成像；所述信息处理器用于定位激光光束在接收成像系统的成像位置并计算被测量物体的精确位置。该激光雷达以及激光雷达测量装置能够克服传统的激光雷达不能适用的恶劣环境。
激光雷达以及测量装置

[发明专利]基于变密度条纹的三维振动视觉测量系统和方法-CN201811573311.1有效
发明人：钟剑锋;钟舜聪;张秋坤 -专利权人：福州大学
申请日： 2018-12-21 - 公布日： 2020-08-11 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于变密度条纹的三维振动视觉测量系统及方法，该测量系统包括变密度条纹和视觉成像及处理系统。该三维振动测量方法包括以下步骤：在被测振动结构表面安装变密度条纹；将视觉成像及处理系统安装于固定支架，调整好变密度条纹成像位置和成像镜头的参数，使变密度条纹成像于面阵相机的中心位置；再启动视觉成像及处理系统的测量模式，对振动结构的振动进行测量。
基于密度条纹三维振动视觉测量系统方法

[发明专利]动量空间成像系统及其应用-CN201810101383.X有效
发明人：资剑;石磊;张译文;殷海玮;胡松婷;崔靖 -专利权人：复旦大学;上海复享光学股份有限公司
申请日： 2018-02-01 - 公布日： 2021-08-10 - 主分类号： G01N21/17 文献下载
摘要：本发明公开了一种动量空间成像系统及其应用。该动量空间成像系统至少包括下述部件：物镜、光学透镜A、光学透镜B和成像设备，光信号依次通过所述的物镜、所述的光学透镜A、所述的光学透镜B后由所述的成像设备接收。本发明的动量空间成像系统可用于测量和表征微纳光子学材料在动量空间中的光学信息，如带隙性质、能带结构、色散关系等。该系统可以实现显微区域样品的光学测量，最小测量范围可达1微米；还可以实现动量空间的观察测量。动量空间成像系统能够对样品的测量区域进行精确选择，并可进一步用于样品动量空间信息的选择与探测。
动量空间成像系统及其应用

[发明专利]一种测量系统及方法-CN201610159222.7在审
发明人：赵新才;邹文康;陶世兴;徐乐;李剑;陈韬;温伟峰;何徽;王旭;肖正飞;畅里华;汪伟;刘宁文;彭其先;邓建军 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2016-03-17 - 公布日： 2016-06-15 - 主分类号： H05H1/00 文献下载
摘要：本发明实施例提供了一种测量系统，属于测量技术领域，应用于测量等离子体的分布和速度。所述系统包括：等离子体分布区域、成像装置及图像分析装置，所述成像装置包括光阑、第一偏振分光镜、第一成像器件和第二成像器件。由同一个光源发出的具有预设时间差且偏振方向正交的第一光束和第二光束入射到等离子体分布区域，由等离子体分布区域出射的第一光束在第一成像器件内成像，由等离子体分布区域出射的第二光束在第二成像器件内成像。图像分析装置根据所述第一成像器件和所述第二成像器件所采集的图像获得所述等离子体的分布和速度。此外，基于所述测量系统，本发明还提供了一种测量方法，有效地实现了等离子体的分布和速度的测量。
一种测量系统方法

[实用新型]一种测量系统-CN201620208552.6有效
发明人：赵新才;邹文康;陶世兴;徐乐;李剑;陈韬;温伟峰;何徽;王旭;肖正飞;畅里华;汪伟;刘宁文;彭其先;邓建军 -专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日： 2016-03-17 - 公布日： 2016-09-14 - 主分类号： H05H1/00 文献下载
摘要：本实用新型实施例提供了一种测量系统，属于测量技术领域，应用于测量等离子体的分布和速度。所述测量系统包括等离子体分布区域、成像装置及图像分析装置，所述成像装置包括光阑、第一偏振分光镜、第一成像器件和第二成像器件。由等离子体分布区域出射的第一光束在第一成像器件内成像，由等离子体分布区域出射的第二光束在第二成像器件内成像。图像分析装置根据所述第一成像器件和所述第二成像器件所采集的图像获得所述等离子体的分布和速度。本实用新型实施例提供的测量系统有效地实现了等离子体分布区域中等离子体的分布及速度的测量。
一种测量系统

[发明专利]与多个成像模态使用的量化体模-CN201680022583.5在审
发明人： A.E.尤伯三世;K.P.考恩;D.M.格里菲思;I.斯托扬诺维奇;D.柳施蒂克;M.霍伊科;R.芙洛;R.雷德蒙;H.赫尔内兹;S.巴拉苏布拉马尼恩 -专利权人：拜耳医药保健有限公司
申请日： 2016-02-26 - 公布日： 2018-01-02 - 主分类号： A61B6/03 文献下载
摘要：描述了在成像程序期间使用的扫描中体模。该体模可以包含至少一个测量插入物和/或至少一个被测量插入物。测量插入物可以具有辐射检测能力，而被测量插入物可以包含放射性材料。还描述了包含成像模态和扫描中体模的成像模态系统，以及使用扫描中体模以将患者成像或者进行侦察扫描的方法。
成像使用量化

[发明专利]一种适用于小扰动环境的摄影测量系统-CN201810605729.X在审
发明人：李传荣;苏国中;张丹丹;黎荆梅;李伟;马灵玲;钱永刚;朱家佳;窦帅;汪琪;刘耀开 -专利权人：中国科学院光电研究院
申请日： 2018-06-12 - 公布日： 2019-12-20 - 主分类号： G01C11/00 文献下载
摘要：本公开提供了一种适用于小扰动环境的摄影测量系统，包括：飞行平台、以及搭载于飞行平台的：主光学成像分系统和置于主光学成像分系统两侧一定基线距离的副光学成像分系统，用于采集视场范围内的序列影像并提供大基高比影像数据；双天线位置姿态测量分系统，用于测量摄站的位置与姿态信息；同步控制单元，用于控制主光学成像分系统和副光学成像分系统同步成像，以及主光学成像分系统和副光学成像分系统与双天线位置姿态测量分系统在同一时间基准下工作
光学成像分系统位置姿态测量飞行平台双天线摄影测量系统同步控制单元基线距离时间基准同步成像序列影像影像数据姿态信息基高比小扰动视场测量采集

[发明专利]用于将成像工具放置在测试和测量工具中的系统和方法-CN201610922537.2有效
发明人： P·A·林斯拉;C·N·休伯;D·N·基尔斯利 -专利权人：弗兰克公司
申请日： 2016-09-14 - 公布日： 2020-10-16 - 主分类号： G01R15/12 文献下载
摘要：分析系统可以包括测试和测量工具以及成像工具两者，所述测试和测量工具用于生成表示被测装置的至少一个参数的测量数据，所述成像工具用于生成表示目标场景的图像数据。电气隔离机构可以使操作分析工具的用户通过成像工具与测试和测量电路电气隔离。电气隔离机构可以包括围绕成像工具的至少一部分并且具有靠近成像工具的开口使得电磁辐射可以通过开口进入并且到达成像工具的绝缘涂层。开口的尺寸可被设置为使得标准手指不能穿过开口到成像工具的预定距离内。另外地或可替代地，定位在开口上方的窗口可以防止通过开口接近成像工具。
用于成像工具放置测试测量中的系统方法

[实用新型]一种适用于小扰动环境的摄影测量系统-CN201820908646.3有效
发明人：李传荣;苏国中;张丹丹;黎荆梅;李伟;马灵玲;钱永刚;朱家佳;窦帅;汪琪;刘耀开 -专利权人：中国科学院光电研究院
申请日： 2018-06-12 - 公布日： 2019-01-01 - 主分类号： G01C11/00 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种适用于小扰动环境的摄影测量系统，包括：飞行平台、以及搭载于飞行平台的：主光学成像分系统和置于主光学成像分系统两侧一定基线距离的副光学成像分系统，用于采集视场范围内的序列影像并提供大基高比影像数据；双天线位置姿态测量分系统，用于测量摄站的位置与姿态信息；同步控制单元，用于控制主光学成像分系统和副光学成像分系统同步成像，以及主光学成像分系统和副光学成像分系统与双天线位置姿态测量分系统在同一时间基准下工作
光学成像分系统摄影测量系统位置姿态测量飞行平台双天线小扰动同步控制单元本实用新型基线距离时间基准同步成像序列影像影像数据姿态信息基高比视场测量采集

[实用新型]一种可升降植物表型测量装置-CN201520605296.X有效
发明人：韩志国;郭威 -专利权人：型云科技（上海）有限公司
申请日： 2015-08-12 - 公布日： 2016-02-03 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种可升降植物表型测量装置，包括成像单元和安装有图像处理软件的计算机；所述的成像单元安装在成像固定架上，成像固定架安装于一使成像固定架上下移动的升降装置上；所述成像单元设置于受测植物的上方；成像单元和升降装置与计算机电性连接。与现有技术相比，本实用新型具有以下优点：1、通过调节成像单元的高低，可以测量更多的植物样品。同样的成本，提高了通量。2、通过软件控制可以实现定时对植物进行表型测量，例如每天测量10-20次，能够更精准的记录植物表型的变化；3、植物无须移动，可以保持自然生长的状态。
一种升降植物表型测量装置

[发明专利]肌肉力学参数的测量装置及方法、弹性成像方法-CN201910156056.9有效
发明人：曹艳平;李国洋;郑阳;刘燕霖 -专利权人：清华大学
申请日： 2019-03-01 - 公布日： 2020-12-22 - 主分类号： A61B8/08 文献下载
摘要：本申请涉及一种肌肉力学参数的测量装置，该装置包括：激励组件，包括至少两个方向的线性阵列超声换能器，用于在肌肉内部发射聚焦的脉冲信号；超声成像组件，与所述激励组件连接，用于对所述脉冲信号在所述肌肉内部激励的剪切波进行超声成像，得到超声成像序列；处理器，与所述超声成像组件连接，用于获取所述超声成像序列，并对所述超声图像序列进行分析，得到所述肌肉两个方向对应的力学参数。由于激励组件包括至少两个方向的线性阵列超声换能器，使得操作人员无需多次改变激励组件的测量方向及测量位置，操作简便，减少了人为操作带来的测量误差，保证肌肉力学参数的测量准确性。本申请还涉及一种肌肉力学参数的测量方法及弹性成像方法。
肌肉力学参数测量装置方法弹性成像

[实用新型]一种齿轮尺寸测量仪-CN201920721243.2有效
发明人：张玥超 -专利权人：闽清县盛旺佳食用菌农业专业合作社
申请日： 2019-05-17 - 公布日： 2019-12-24 - 主分类号： G01B21/10 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种齿轮尺寸测量仪，其结构包括显示屏、封条、触控板、握柄、充电口、启动键、检测头、精密成像测量机构，显示屏通过镶嵌的方式安装在检测头正端面，封条设于检测头正端面，本实用新型一种齿轮尺寸测量仪，结构上设有精密成像测量机构，在对齿轮进行测量时，而突出的齿轮会与成像管接触，成像管与齿轮接触的部分会朝向内部被动推移，从而令内部碳素头与显示屏背部成像片相接触，从而在显示屏上显示出齿轮的平面图，从而方便对其进行精确的电子测量，在对较小的齿轮进行检测时，能够通过成像对齿轮进行检测，从而降低人工误差率。
齿轮检测头显示屏本实用新型尺寸测量仪测量机构精密成像成像管正端面封条误差率显示屏背部齿轮接触电子测量成像片充电口触控板启动键检测碳素握柄成像测量推移镶嵌

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