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[发明专利]包括用于提供多次成像和测量能力的可插入组件的3D显微镜-CN201510309903.2有效
发明人： J·J·徐;K·K·李;R·库迪纳;R·索塔曼;H·P·源;侯震 -专利权人：泽伊塔仪器科技（上海）有限公司
申请日： 2011-12-22 - 公布日： 2019-01-04 - 主分类号： G02B21/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种包括用于提供多次成像和测量能力的可插入组件的3D显微镜。一种三维(3D)显微镜包括有助于多次成像和测量能力的多个可插入的组件。这些能力包括Nomarski成像、偏振光成像、定量差分干涉对比度(q‑DIC)成像、机动偏振光成像、相移干涉测量法(PSI)以及垂直扫描干涉测量法(VSI)。
包括用于提供多次成像测量能力插入组件显微镜

[发明专利]包括用于提供多次成像和测量能力的可插入组件的3D显微镜-CN201810762225.9有效
发明人： J·J·徐;K·K·李;R·库迪纳;R·索塔曼;H·P·源;侯震 -专利权人：科磊半导体设备技术(上海)有限公司
申请日： 2011-12-22 - 公布日： 2022-02-01 - 主分类号： G02B21/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种包括用于提供多次成像和测量能力的可插入组件的3D显微镜。一种三维(3D)显微镜包括有助于多次成像和测量能力的多个可插入的组件。这些能力包括Nomarski成像、偏振光成像、定量差分干涉对比度(q‑DIC)成像、机动偏振光成像、相移干涉测量法(PSI)以及垂直扫描干涉测量法(VSI)。
包括用于提供多次成像测量能力插入组件显微镜

[发明专利]一种成像光谱测量装置-CN200710018075.2无效
发明人：相里斌;李霞;赵建科;袁艳 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2007-06-18 - 公布日： 2008-01-30 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种成像光谱测量装置，尤其是一种对空间目标进行探测的成像光谱测量装置。本发明的技术解决方案是：本发明为一种成像光谱测量装置，该装置包括光谱成像相机，还包括有与光谱成像相机连接的光路测量补偿装置，该光路测量补偿装置包括反射镜和可变形镜DM，可变形镜DM设置在光谱成像相机的入射光路上本发明的目的在于提供一种成像光谱测量装置，解决背景技术中大气抖动、大气散射等使测量结果误差大的技术问题。
一种成像光谱测量装置

[发明专利]一种全stokes偏振矢量的测量装置及测量方法-CN202310325353.8在审
发明人：李克武;崔志英;邱元芳;郑驰;沈开远 -专利权人：宁波永新光学股份有限公司
申请日： 2023-03-29 - 公布日： 2023-07-21 - 主分类号： G01J4/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种全stokes偏振矢量的测量装置，包括成像镜头和成像探测器，成像镜头将待测光线投射到成像探测器上，特点是成像探测器包括面阵列探测器，面阵列探测器的接收面上设置有由多个成像子单元组成的成像像元，成像像元上覆盖有基板，基板由通光光谱宽度大于等于成像探测器光谱宽度的材料制成，基板的外表面设置有多个基于全介质超表面的偏振测量单元，偏振测量单元由3对共6个偏振测量子单元组成，分别用于完成(I,I135°)和(IR,IL)3对正交偏振分量的转换分离和聚焦，偏振测量子单元与成像子单元一一对应，优点是能够同时实现线偏振光和圆偏振光的成像测量；且装置的重量轻，测量的分辨率高，测量速度快。
一种 stokes 偏振矢量测量装置测量方法

[发明专利]一种三维形貌测量装置-CN201310188857.6有效
发明人：刘浪;刘威;战玉臣;庞淑屏;万晓新 -专利权人：沈阳同联集团高新技术有限公司
申请日： 2013-05-20 - 公布日： 2017-07-21 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本发明公开了一种三维形貌测量装置，包括投影单元和成像单元，投影单元包括投影镜头、光源和条纹图像发生器；投影单元利用来自光源的光经过条纹图像发生器、投影镜头将条纹图像投影至测量对象；成像单元，包括成像元件和成像镜头，成像镜头将测量对象上的条纹图像成像于成像元件上；所述投影单元的光轴和成像单元的光轴平行，投影单元的物距等于成像单元的像距，投影单元的像距等于成像单元的物距，投影镜头和成像镜头的焦距相等。本发明在参考平面上的投影条纹间距相等，且成像景深范围内的条纹间距相等，且两者条纹间距也相等，实现非远心光路上的“远心条纹图像”效果；扩大了使用范围，在微观测量和宏观测量均可以获得“远心条纹图像”效果。
一种三维形貌测量装置

[发明专利]光学成像的像差测量方法及光学成像方法-CN202010645403.7有效
发明人：安其昌;刘欣悦;张景旭;李洪文 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2020-07-07 - 公布日： 2021-09-03 - 主分类号： G01J9/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学成像的像差测量方法及光学成像方法，应用的光学成像系统用于产生一路参考光以及一路测量光，将测量光发射至被测样品并获取由被测样品反射回的测量光，根据参考光和由被测样品返回的测量光的干涉光对被测样品进行成像光学成像系统的成像装置用于捕获干涉光中属于第一波段范围的光实现焦前成像，得到第一光强分布图像，以及捕获干涉光中属于第二波段范围的光实现焦后成像，得到第二光强分布图像，根据第一光强分布图像和第二光强分布图像获得光学成像系统成像的像差信息，进而能够根据成像像差进行相应校正，提高成像精度。
光学成像测量方法方法

[实用新型]结构光测量头-CN201820276891.7有效
发明人：王敏捷;梁雨时 -专利权人：上海图漾信息科技有限公司
申请日： 2018-02-27 - 公布日： 2018-09-25 - 主分类号： G01S17/08 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种结构光测量头。该测量头包括：向被测空间投射结构光的光源；与光源之间具有预定的相对空间位置关系并且包括图像传感器和成像视场角调整组件的成像单元，被被测空间内障碍物反射的结构光经由成像视场角调整组件在图像传感器上成像，其中成像视场角调整组件起到成像透镜的功能并被设置为压缩成像单元在特定方向上的成像视场角；以及用于固定光源和成像单元的测量头基座，测量头基座确保光源和成像单元之间的相对空间位置关系。由此，能够通过在成像镜头中并入特定方向上的视场角压缩功能来增大条状或线形光的成像线宽，从而为线形光定位提供更多的信息，改善测量精度并提供抗扰动能力。
测量头成像视场角成像单元结构光调整组件光源相对空间位置图像传感器线形光本实用新型障碍物反射成像镜头成像透镜固定光源压缩成像线抗扰动视场角投射成像测量

[实用新型]一种光谱共焦测量装置-CN202123455872.1有效
发明人：杜勇刚;谭晓军;郭号;周峰 -专利权人：东莞市普密斯精密仪器有限公司
申请日： 2021-12-31 - 公布日： 2022-06-28 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本实用新型属于光学测量技术领域，具体涉及一种光谱共焦测量装置，包括壳体、分光件以及光谱共焦测量镜头，所述壳体内设置有容置腔，所述分光件设置于所述容置腔内，所述壳体的顶部开设有第一窗口，所述壳体的底部开设有第二窗口，所述第一窗口与所述第二窗口对应设置，所述光谱共焦测量镜头装设于所述容置腔内，所述光谱共焦测量镜头位于所述分光件的外侧。本实用新型设计巧妙，成像镜头通过第一窗口以及第二窗口能够正常在成像镜头内汇聚成像，同时分光件从成像镜头的成像光路上分离出用于光谱共焦测量镜头的光谱共焦测量光路，实现了光谱共焦测量镜头与成像镜头共轴测量，不影响成像镜头单独使用，通用性强、成本低。
一种光谱测量装置

[发明专利]用于运行混合医学成像单元的方法-CN200710160146.2有效
发明人：黛安娜·马丁;塞巴斯蒂安·施米特 -专利权人：西门子公司
申请日： 2007-12-24 - 公布日： 2008-06-25 - 主分类号： A61B5/055 文献下载
摘要：一种用于运行混合医学成像单元的方法，该混合医学成像单元包括具有高位置分辨率的第一成像装置和具有高灵敏度的核医学的第二成像装置，它们分别从共同的检查空间采集成像的测量信号，其中，在所述第二成像装置的当前运行的测量信号采集期间根据连续采集的测量信号在检查空间中确定一个区域，在该区域中随后借助于所述第一成像装置采用针对区域的测量协议进行针对区域的测量信号采集。
用于运行混合医学成像单元方法

[发明专利]一种远心条纹相位测量装置-CN201410274240.0有效
发明人：刘浪;万晓新;庞淑屏;刘威 -专利权人：沈阳华慧高新技术有限公司
申请日： 2014-06-18 - 公布日： 2018-09-28 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本发明公开了一种远心条纹相位测量装置，包括投影单元和成像单元，投影单元包括投影镜头、光源和条纹图像发生器；光源照射条纹图像发生器生成条纹图像、投影镜头将条纹图像投影至被测物体；成像单元包括成像元件和成像镜头，成像镜头将被测物体上的条纹图像成像于成像元件上；所述投影单元的投影光轴和成像单元的成像光轴对称交叉，投影单元的放大倍数与成像单元的放大倍数互为倒数；投影镜头与成像镜头焦距相等。本发明在景深范围内对投影条纹等间距成像，在微观测量和宏观测量领域均实现了非远心光路上的“远心条纹”效果；提高了相位测量精度。
一种条纹相位测量装置

[实用新型]超声成像设备-CN202022450417.1有效
发明人：张懿轩;杨佳丽;张蕾;程力;王若瑾;王璐 -专利权人：武汉联影医疗科技有限公司
申请日： 2020-10-29 - 公布日： 2022-01-25 - 主分类号： A61B8/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种超声成像设备，包括：超声主机和惯性测量单元，超声主机与惯性测量单元连接，其中，惯性测量单元用于检测超声成像设备当前的空间坐标信息；超声主机用于采用超声成像设备当前的空间坐标信息、超声成像设备所在空间的空间特征信息和超声成像设备的目的地址为超声成像设备规划行驶路径，控制超声成像设备行驶至目的地址。该超声成像设备可以方便地对超声成像设备进行来回的移动。
超声成像设备

[发明专利]一种可同时用于高分辨力成像和光度测量的光电望远镜-CN200610112432.7无效
发明人：饶长辉;吴碧琳 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2006-08-17 - 公布日： 2007-04-04 - 主分类号： G01B9/06 文献下载
摘要：一种可同时用于高分辨力成像和光度测量的光电望远镜，包括望远镜系统、自适应光学系统、成像系统和光度测量系统，成像系统和光度测量系统位于自适应光学系统的变形镜后，光度测量系统核心探测器件为EMCCD探测器。本发明中可提高光度测量系统的测量精度和成像系统的成像分辨力，同时光度测量系统核心探测器件EMCCD噪声小(读出噪声＜1e^－)量子效率高，可进一步提高目标光度信息测量的精度。
一种同时用于分辨力成像光度测量光电望远镜

[发明专利]量子成像方法及量子成像系统-CN201010571095.4无效
发明人：陈智鹏 -专利权人：上海电机学院
申请日： 2010-12-02 - 公布日： 2011-06-08 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种量子成像方法和量子成像系统。所述量子成像方法包括如下步骤：产生混沌激光；将所述混沌激光分为照射待成像物体的信号光和空闲光；将所述信号光照射物体；将照射物体后的信号光进行桶测量并与所述空闲光进行关联测量，将时间关联转化为空间关联；对所述物体进行多次关联测量，利用压缩感知算法对关联测量的数据进行信号处理，获得所述物体的图像。本发明的量子成像方法和量子成像系统能够提高成像效果。
量子成像方法系统

[发明专利]测量物体的几何维度的方法及系统-CN201610237667.2有效
发明人：铁木尔·科林;西里尔·瓦拉登 -专利权人：联发科技（新加坡）私人有限公司
申请日： 2016-04-15 - 公布日： 2018-11-13 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明提供一种测量物体的几何维度的方法及系统。其中，该测量物体的几何维度的方法，包括：测量第一成像单元的光学特性；测量第二成像单元的光学特性；测量参考对象的几何维度；排列包括第一被测物体的一或多个被测物体、第二成像单元、反射表面、第一成像单元及该参考对象；在该第一成像单元中形成该第一被测物体的映像与该参考对象的映像的图像；在该第二成像单元中形成该第一被测物体的图像；测量在该第一成像单元中形成的该图像的几何维度；测量在该第二成像单元中形成的该图像的几何维度本发明提供的测量物体的几何维度的方法可物体维度非接触式测量实现，简化测量方法。
测量物体几何维度方法系统

[实用新型]基板厚度测量装置-CN201720227849.1有效
发明人：成振宇;朴相永 -专利权人： EO技术株式会社
申请日： 2017-03-08 - 公布日： 2017-10-24 - 主分类号： B23K26/38 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种基板厚度测量装置，具体涉及一种以如下内容为特征的基板厚度测量装置包括摄像装置、使发射自基板的测量光束成像的成像光学仪器以及移动所述成像光学仪器和所述基板中至少一个的传送装置；所述成像光学仪器是收集发射自基板第1面的测量光束中基板第1面图像成像于所述摄像装置上，并通过所述传送装置移动所述成像光学仪器和所述基板中至少一个之后，收集发射自基板第2面的测量光束中基板第2面图像成像于所述摄像装置上；依据所述成像光学仪器和所述基板中至少一个的移动距离和所述基板折射率测量所述基板第
厚度测量装置