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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]电磁干涉图案的应用-CN200980142382.9有效
发明人：乔纳森.M.R.韦弗;菲利普.S.多布森;戴维.P.伯特;斯蒂芬.汤姆斯;凯文.E.多彻蒂;张瑗 -专利权人：格拉斯哥大学理事会
申请日： 2009-08-25 - 公布日： 2011-10-12 - 主分类号： G01D5/26 文献下载
摘要：提供可见光干涉图案的各种使用。适当的干涉图案是通过来自孔的图案的衍射形成的那些。在此公开的典型使用涉及空间度量，例如平动的和/或角位置确定系统。干涉图案的一部分在像素话的检测器例如CCD芯片上被俘获，并且俘获的图案与计算的图案相比较。最强处之间的间隔的非常精确的测量是可能的，从而允许在干涉图案中检测器的位置的非常精确的测量。
电磁干涉图案应用

[发明专利]加工装置和振动检测方法-CN202210877936.7在审
发明人：吉田博斗;北原信康;高乘佑 -专利权人：株式会社迪思科
申请日： 2022-07-25 - 公布日： 2023-02-17 - 主分类号： H01L21/67 文献下载
摘要：加工装置中，振动检测单元包含：光源；干涉单元，其将来自光源的光照射至被测量部件，生成被测量部件的包含干涉图案的干涉图案图像；以及拍摄单元，其拍摄通过干涉单元而生成的被测量部件的干涉图案图像。控制单元具有：存储部，其将通过拍摄单元在规定的时机拍摄的第一干涉图案图像以及在与第一干涉图案图像不同的时机拍摄的第二干涉图案图像进行存储；比较部，其对存储于存储部的第一干涉图案图像与第二干涉图案图像进行比较；以及振动检测部，其根据通过比较部进行了比较的第一干涉图案图像与第二干涉图案图像而检测振动。
加工装置振动检测方法

[发明专利]利用干涉图案的移动追踪-CN200410062475.X无效
发明人：戴尔·W·施罗德;马歇尔·T·德皮尤;罗摩克里希纳·卡卡罗拉;谢彤;格雷戈里·D·范维格瑞恩 -专利权人：安捷伦科技有限公司
申请日： 2004-07-08 - 公布日： 2005-04-20 - 主分类号： G06K11/06 文献下载
摘要：本发明公开了通过利用来自表面(130、230)的反射光(111、211)产生干涉图案(310)来追踪在所述表面(130、230)上的移动的系统、方法和设备。其中作为传感器(301、302、303、304、305)在所述表面上移动的结果，生成了至少一个对应于对干涉图案(310)的尺寸的检测结果的信号图案(401C、403C、405C、504C、502C)。
利用干涉图案移动追踪

[发明专利]一种消除图像中干涉图案的方法及装置-CN202111594531.4在审
发明人：刘文钊;冯晓刚;马昆;陈超 -专利权人：荣耀终端有限公司
申请日： 2021-12-23 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本申请实施例提供一种消除图像中干涉图案的方法及装置，涉及图像处理领域，能够消除设置于电子设备显示屏下方的ToF传感器采集的图像中的干涉图案。该方法包括：电子设备预先获取与同一参数的K个不同值一一对应的K个干涉图案；电子设备采集第一图像并测量采集该第一图像时的第一参数值，根据第一参数值从K个干涉图案中确定第一干涉图案，并根据第一干涉图案确定第二干涉图案，再从第一图像中消除该第二干涉图案；使得处理后的第一图像不包括干涉图案；这样就可以实现ToF传感器设置于电子设备显示屏下方，且达到与设置于边框上同样的测量精度。
一种消除图像干涉图案方法装置

[发明专利]用于掠入射干涉仪的干涉带图案鉴别器-CN03823744.X有效
发明人： C·A·李;M·J·特罗诺洛恩;A·W·库拉维克 -专利权人：康宁股份有限公司
申请日： 2003-07-28 - 公布日： 2005-11-02 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：通过修改成可区分含两种信息的重迭干涉图案的掠入角干涉仪，有关透射平面平行试样的平直度和厚度变化信息。改变干涉仪的掠射角，可识别重迭干涉图案内独特的局部干涉带强度的调制频率。基于不同干涉图案的局部干涉带强度可按其各自的调制频率区分。
用于入射干涉仪干涉图案鉴别器

[发明专利]抗振型干涉扫描系统及其方法-CN200810167457.6无效
发明人：叶胜利;陈亮嘉;林世聪 -专利权人：陈亮嘉
申请日： 2008-10-13 - 公布日： 2010-06-09 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：抗振型干涉扫描系统与其方法，包括：光源模组模块；光学模组模块，其是接收该光源模组模块所产生的光场以分别形成对应于一待测物的表面形貌的一高同调性干涉图案与一低同调性干涉图案；以及控制单元，其是锁定该高同调性干涉图案的亮暗分布，进而锁定该低同调性干涉图案的条纹分布；或该控制单元是先进行具有一特定行程的快速扫描动作，再根据该特定行程、形成该高同调性干涉图案的光场的光波波长与扫描动作开始前的该高同调性干涉图案的亮暗分布，锁定扫描动作完成后的该高同调性干涉图案的亮暗分布，进而锁定扫描动作完成后的该低同调性干涉图案的条纹分布。
抗振型干涉扫描系统及其方法

[发明专利]自参考和自校准干涉图案叠加测量-CN202210245037.5在审
发明人：杨东岳;戴鑫托;朴东锡;唐明浩;姆德·莫塔西·贝拉;帕凡·库玛尔·查特哈马佩塔·史瑞帕达拉;C·W·王 -专利权人：科磊股份有限公司
申请日： 2018-12-21 - 公布日： 2022-05-10 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本申请实施例涉及自参考和自校准干涉图案叠加测量。两对对准标靶(一对对齐，另一对错位一偏置距离)形成在不同的掩模上以产生第一对共轭干涉图案。另一对对准标靶也形成于掩模上以产生相较于该第一对倒置的第二对共轭干涉团。当使用该掩模所形成的图案被覆盖时，两对共轭干涉图案中的该第一干涉图案和该第二干涉图案的暗区与亮区的失准被确定。计算一放大系数(该干涉图案失准对该标靶失准的放大系数)，以作为该干涉图案对中的相对暗区和相对亮区的失准的差值相对于两倍该偏置距离的比率。该干涉图案失准除以该放大系数以产生一自参考且自校准标靶失准量并予以输出。
参考校准干涉图案叠加测量

[发明专利]自参考和自校准干涉图案叠加测量-CN201880085680.8有效
发明人：杨东岳;戴鑫托;朴东锡;唐明浩;姆德·莫塔西·贝拉;帕凡·库玛尔·查特哈马佩塔·史瑞帕达拉;C·W·王 -专利权人：科磊股份有限公司
申请日： 2018-12-21 - 公布日： 2022-04-08 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：两对对准标靶(一对对齐，另一对错位一偏置距离)形成在不同的掩模上以产生第一对共轭干涉图案。另一对对准标靶也形成于掩模上以产生相较于该第一对倒置的第二对共轭干涉团。当使用该掩模所形成的图案被覆盖时，两对共轭干涉图案中的该第一干涉图案和该第二干涉图案的暗区与亮区的失准被确定。计算一放大系数(该干涉图案失准对该标靶失准的放大系数)，以作为该干涉图案对中的相对暗区和相对亮区的失准的差值相对于两倍该偏置距离的比率。该干涉图案失准除以该放大系数以产生一自参考且自校准标靶失准量并予以输出。
参考校准干涉图案叠加测量

[发明专利]全息图显示装置-CN202110660602.X在审
发明人：金相昊;李德镐;杨秉春;李并浩;赵宰范 -专利权人：三星显示有限公司;首尔大学校产学协力团
申请日： 2021-06-15 - 公布日： 2021-12-17 - 主分类号： G03H1/22 文献下载
摘要：全息图显示装置包括：光产生器，产生光；空间光调制器，形成干涉图案；以及控制器，向空间光调制器供给用于形成干涉图案的干涉数据，空间光调制器由多个像素形成，并且包括：第一区域，以第一图案排列多个像素；以及第二区域，以不同于第一图案的第二图案排列多个像素，控制器包括：数据生成器，生成针对第一区域的第一干涉数据以及针对第二区域的第二干涉数据；补偿器，输出基于第一干涉数据生成的第一补正数据以及据利用第一图案与第二图案的第一差异值补正第二干涉数据而生成的第二补正数据；以及输出器，基于第一补正数据和第二补正数据来输出干涉数据。
全息图显示装置

[发明专利]一种光场调控光刻中的涡旋光剪切干涉调焦方法-CN201710944259.5有效
发明人：梁宜勇;李雄风;詹世超;朱蓓蓓;墨洪磊 -专利权人：浙江大学
申请日： 2017-10-12 - 公布日： 2019-09-24 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种光场调控光刻中的涡旋光剪切干涉调焦方法，它利用涡旋光的光场特性实现约束曝光，利用涡旋光的干涉特性实现调焦。从基片表面反射并经物镜透射的涡旋光束，在光学平行平板上进行剪切干涉。干涉图案当准焦时呈现对称性，当离焦时为非对称分叉图案，并且在正负离焦状态下其分叉图案正好相反，利用图案可实现调焦检测。本发明的调焦方法简单紧凑，涡旋光束一物两用，干涉调焦检测有很高的灵敏度，且干涉图案不受光源稳定性和光斑均匀性等影响。
一种调控光刻中的涡旋剪切干涉调焦方法

[发明专利]标记全息图的方法-CN201280012881.8有效
发明人：迈克尔·T·塔克莫里;马克·A·谢弗顿;安德鲁·A·伯恩斯;苏密特·贾殷 -专利权人：沙特基础创新塑料IP私人有限责任公司
申请日： 2012-03-29 - 公布日： 2013-12-04 - 主分类号： G03H1/02 文献下载
摘要：本发明描述了记录体全息图像的方法，其中将包含光反应性染料的全息记录介质（14）暴露于具有所述染料对其敏感的波长的多个相干光束，由此在其中形成干涉条纹图案。发生在相长干涉区域中的光反应产生由染料的光反应区域和染料的未反应区域的周期排列形成的干涉条纹图案。这种产生的干涉条纹图案可以包括，但并非必须包括任何图像或其他的编码信息。随后将干涉条纹图案的选择区以这种方式暴露于光化辐射以部分地或完全漂白、除去、或去活化光反应性染料条纹图案，由此产生由没有被漂白、除去、或去活化的干涉条纹图案的区域形成的全息图案、形状、或图像。
标记全息图方法

[发明专利]基于异质结光栅的偏振滤波器及制备方法-CN201310080587.7有效
发明人：翟天瑞;林远海;张新平;刘红梅;王丽 -专利权人：北京工业大学
申请日： 2013-03-13 - 公布日： 2013-07-10 - 主分类号： G02B5/30 文献下载
摘要：在基底上的一维激光干涉图案由相邻的两种不同周期的金属激光干涉图案连接组成，两种激光干涉图案的条纹方向一致，两种不同周期的激光干涉图案的周期之比范围为0.6-1.5，入射光所在的激光干涉图案的周期范围为200nm将记录介质溶液旋涂在基底上，将两种不同周期的激光干涉图案分别与连续记录介质薄膜的两个相邻区域作用，显影、定影，将金属纳米颗粒溶胶旋涂在异质结纳米光栅结构上，加热即可。
基于异质结光栅偏振滤波器制备方法

[发明专利]电磁干涉图案识别层析成像-CN201680074323.2有效
发明人：赛尔古依·Y·谢苗诺夫 -专利权人：埃姆丹索有限公司
申请日： 2016-10-16 - 公布日： 2021-11-02 - 主分类号： A61B6/02 文献下载
摘要：用于图像重建系统中的电磁干扰图案识别层析成像(EMIPRT)方法包括：经由电磁层析成像系统生成与成像域中的对象相对应的电磁场数据，并且以递归的方式重复地使用所生成的电磁场数据，进行以下处理：形成未受干扰的电磁干涉图像，基于未受干扰的电磁干涉图像形成受干扰的电磁界面图像，识别重复形成的受干扰的电磁界面图像中的电磁干涉图案，以及通过使所识别的电磁干涉图案从受干扰的电磁界面图像中无效或衰减来形成叠加图像。形成受干扰的电磁界面图像还基于目标因子，该目标因子是在形成未受干扰的电磁干涉图像的步骤期间的实验电磁场与计算出的电磁场之间的差异的泛函。
电磁干涉图案识别层析成像

[发明专利]采用全息干涉测量法的视觉质量评估增强-CN202111420312.4在审
发明人： E·V·克莱恩 -专利权人：国际商业机器公司
申请日： 2021-11-26 - 公布日： 2022-06-14 - 主分类号： G06F9/50 文献下载
摘要：本公开的实施例涉及采用全息干涉测量法的视觉质量评估增强。提供了使用全息干涉测量法执行视觉质量评估的方法、系统和计算机程序产品。各方面包括获取基于参考对象的参考全息图案以及获取基于测试对象的测试全息图案。各方面还包括通过将测试全息图案叠加到参考全息图案上来创建干涉图案。各方面进一步包括基于干涉图案确定参考对象与测试对象之间的差异。
采用全息干涉测量视觉质量评估增强

[发明专利]光电编码器-CN201410605327.1在审
发明人：夜久亨;加藤庆显 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2014-09-03 - 公布日： 2015-03-18 - 主分类号： G01D5/34 文献下载
摘要：一种光电编码器包括：具有基于伪随机数据的绝对图案的绝对标尺、和探测头，该探测头包括向绝对标尺的绝对图案发射光的光源和从绝对图案接收光的光接收单元，并且其检测探测头相对于绝对标尺的绝对位置。在光电编码器中，绝对图案由以重复方式布置的光栅部和暗部组成。光电编码器进一步包括：干涉图案生成装置，其与光栅部组合起来产生干涉图案；以及包括干涉图案信号处理单元，其基于光接收单元接收的干涉图案来检测绝对图案的伪随机数据。
光电编码器

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