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[发明专利]基于EDXRF光谱仪快速检测土壤中稀土总量的方法-CN201510999025.1有效
发明人：詹秀春;樊兴涛;袁继海;翟磊;蒯丽君;焦距;刘晓 -专利权人：国家地质实验测试中心
申请日： 2015-12-28 - 公布日： 2018-09-11 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明提供一种基于EDXRF光谱仪快速检测土壤中稀土总量的方法，包括：选用Ce元素的Lβ1谱线、Nd元素的Lα1谱线和Y元素的Kα谱线作为EDXRF法分析稀土总量检测的分析谱线；将Ce元素的Lβ1谱线和Nd元素的Lα1谱线所在的能量区域合并作为一个感兴趣区，分析得到感兴趣区所对应的谱线强度值；还分析得到Y元素的Kα谱线的谱线强度值；通过与标准工作曲线对比分析，再分别乘以RHREE和RLREE，得到被测土壤样品中稀土总量
基于 edxrf 光谱仪快速检测土壤稀土总量方法

[发明专利]钛镍形状记忆合金的低频阻尼的预测方法-CN200710012513.4无效
发明人：李永华;李玉海;齐广霞 -专利权人：沈阳理工大学
申请日： 2007-08-20 - 公布日： 2008-01-23 - 主分类号： G01N19/00 文献下载
摘要：钛镍形状记忆合金的低频阻尼的预测方法，其特征在于工作步骤为：定量计算该频率下的钛镍形状记忆合金的本征阻尼谱线；确定该频率下的钛镍形状记忆合金的瞬态阻尼谱线，从总的阻尼谱线中减去本征阻尼谱线，得到瞬态阻尼谱线；预测其他频率下的瞬态阻尼谱线，求出其他频率ω₂下的瞬态阻尼D_T(ω₂)；预测其他频率下的阻尼谱线，将计算得到的本征阻尼谱线与所预测的其他频率下的瞬态阻尼谱线相加，即得到所预测的其他频率下的阻尼谱线，阻尼谱线的峰值的相对误差约为3.1－3.3％。
形状记忆合金低频阻尼预测方法

[发明专利]航空γ能谱数据NASVD降噪有效奇异值数目确定方法-CN202210200599.8有效
发明人：张胜;王强;王永军;王瑞军;唐首普;王虎;王会波;张春雷;孟凡兴 -专利权人：核工业航测遥感中心
申请日： 2022-03-03 - 公布日： 2022-06-03 - 主分类号： G06F17/16 文献下载
摘要：本发明涉及一种航空γ能谱数据NASVD降噪有效奇异值数目确定方法，构建输入谱线数据矩阵后，利用NASVD算法得到主成分矩阵和幅度矩阵，接着利用“滑窗法”对获取的谱线主成分进行分类，对分类后的谱线主成分进行谱线重构，得到系列重构谱线。然后对系列重构谱线中相邻谱线之间的相关性进行分析计算，得到重构谱线的系列相关系数。以相关系数的绝对值作为判断依据，确定有效奇异值的数目。本发明通过一种简单、高效的方法能够快速确定航空γ能谱数据NASVD降噪中有效奇异值的数目，提高了降噪质量、缩短了处理时间周期，避免人工靠经验或推荐值确定有效奇异值数目产生过降噪或产生结果系统性误差，避免返工和重复计算，降低操作者的工作强度。
航空数据 nasvd 有效奇异数目确定方法

[发明专利]一种在线内标法测定铁基合金中高含量钴的方法-CN202310136252.6在审
发明人：王丹;李辉;张重远 -专利权人：中国科学院金属研究所
申请日： 2023-02-20 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： G01N21/73 文献下载
摘要：一种在线内标法测定铁基合金中高含量钴的方法，包括以下步骤：自制静态微混合器，待测液和内标液经过蠕动泵后进入自制静态微混合器，混合液经微混合器出口进入仪器的雾化室进行分析；在ICP‑AES上进行测定，在选定的仪器工作参数、钴分析谱线和内标谱线处进行检测，为垂直观测方式；分析谱线的选择和干扰校正，钴元素分析谱线为228.6nm，并通过基体匹配法消除铁基体干扰；内标谱线的选择，选择钇作为内标元素，内标谱线为224.3nm；解决了目前高含量钴的分析中：化学法测试步骤繁杂、周期长，仪器法测试结果波动大的问题，提高了工作效率和结果的准确性和稳定性。
一种在线内标法测定合金中高含量方法

[发明专利]钛合金中钒元素的测量方法-CN201110333823.2无效
发明人：朱莉 -专利权人：攀钢集团江油长城特殊钢有限公司
申请日： 2011-10-28 - 公布日： 2012-06-27 - 主分类号： G01N21/73 文献下载
摘要：本发明公开了一种钛合金中钒元素的测量方法，所述方法包括下述步骤：使用硫酸将试样溶解，然后加入几滴硝酸，加纯水配置成试样溶液；配制含有不同浓度钒的标准溶液；利用电感耦合等离子体发射光谱仪测定标准溶液的谱线强度，以钒元素浓度为横坐标，以谱线强度为纵坐标绘制工作曲线；利用电感耦合等离子体发射光谱仪测定试样溶液的谱线强度，根据工作曲线计算钒元素浓度，在利用电感耦合等离子体发射光谱仪测定谱线强度的过程中，选择分析谱线为
钛合金元素测量方法

[发明专利]用于CPT磁力仪系统的VCSEL激光管参数自动调节方法-CN201410768518.X在审
发明人：孙晓洁;杨锋;丁昊;寇军;李凯;张笑楠;赵博涛;杨文良;朱志忠 -专利权人：北京航天控制仪器研究所
申请日： 2015-08-04 - 公布日： 2015-07-29 - 主分类号： G01R33/032 文献下载
摘要：本发明公开了用于CPT磁力仪系统的VCSEL激光管参数自动调节方法，首先在稳定原子气室温度的基础上，通过步进增加激光管的驱动电流并探测光强，确定扫描电流的范围；然后在初始工作温度基础上增加激光管温度步进，重复扫描三角波驱动电流和全范围搜寻吸收谱线；当首次读取到吸收谱线后，利用调节电流精确锁定在当前工作温度条件下的吸收谱线处电流值，并微调温度步进，调整吸收谱线到最佳位置；最后记录当前的激光管工作参数，完成整个采用本发明的激光管参数自动调节方法，方便了VCSEL激光管的测试及工作参数的设置，提高了工作效率和整机性能。
用于 cpt 磁力系统 vcsel 激光管参数自动调节方法

[发明专利]钢渣矿渣基全固废胶凝材料中硫化物和硫酸盐的检测方法-CN202210682036.7在审
发明人：王利杰;杨志强;张健;程晓娟;赵梦莹 -专利权人：首钢集团有限公司
申请日： 2022-06-15 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明特别涉及钢渣矿渣基全固废胶凝材料中硫化物和硫酸盐的检测方法，属于分析检测技术领域，通过试验确定SKa1,2谱线和SO3Ka1,2谱线的峰值强度2θ角度、相互的谱线重叠系数；然后，使用谱线重叠系数计算出校准样品中SKa1,2谱线和SO3Ka1,2谱线的实际强度；最后，使用实际强度建立工作曲线，计算硫化物(以S计)和硫酸盐(以SO<
钢渣矿渣基全固废胶凝材料硫化物硫酸盐检测方法

[发明专利]谱域OCT与线共焦同步扫描系统-CN201810745406.0在审
发明人：高峰;邢利娜;金幸杰;史国华 -专利权人：中国科学院苏州生物医学工程技术研究所
申请日： 2018-07-09 - 公布日： 2018-11-06 - 主分类号： A61B3/12 文献下载
摘要：本发明公开了一种谱域OCT与线共焦同步扫描系统，包括：谱域光学相干层析模块、慢扫描模块、快扫描模块、照明模块、狭缝反射镜、成像透镜、二向色镜及探测器。本发明将线扫描共焦检眼镜和谱域OCT结合，共用大部分的器件，见底成本，消除线扫描共焦的鬼影的同时，实现双系统的单独工作和间隙工作。本发明用狭缝反射镜，取代分光镜，减少角膜鬼影对图像的影响，本发明的谱域OCT的扫描振镜分开，并与线共焦系统共用快扫描镜模块，通过共用线共焦的成像透镜组成4f系统，实现了谱域OCT的共轭扫描。
谱域OCT 共焦同步扫描系统成像透镜二向色镜反射镜快扫描线扫描鬼影狭缝反射光学相干层析光栅共焦系统扫描振镜照明模块分光镜共用线检眼镜慢扫描双系统样品光探测器分光共轭角膜谱域扫描图像

[发明专利]一种半导体激光吸收光谱气体分析方法-CN200710067513.4有效
发明人：王健;顾海涛;刘立鹏 -专利权人：王健
申请日： 2007-03-02 - 公布日： 2007-08-15 - 主分类号： G01N21/39 文献下载
摘要：本发明公开了一种半导体激光吸收光谱气体分析方法，所述方法包括以下步骤：a.确定半导体激光器的工作温度范围和工作电流范围；b.在所述半导体激光器的工作温度范围内划分出至少二个工作温度区间和至少一个无吸收谱线温度区间，使任一工作温度区间对应被测气体的至少一条吸收谱线；c.测得所述半导体激光器的工作环境温度T，根据所述工作环境温度T确定拟使用的被测气体的吸收谱线；d.根据半导体激光器的工作温度T_work和步骤c确定的吸收谱线的中心频率，确定并调整半导体激光器的工作电流；e.半导体激光器发出的光穿过被测气体并被接收；对接收到的光信号进行吸收光谱分析，得到被测气体的被测参数并显示。
一种半导体激光吸收光谱气体分析方法

[发明专利]用ICP检测PVD法制造的亚微米级银粉中铅含量的方法-CN201110167692.5有效
发明人：冯冬梅;彭家斌;刘猛;王琴 -专利权人：宁波广博纳米新材料股份有限公司
申请日： 2011-06-21 - 公布日： 2012-02-08 - 主分类号： G01N21/73 文献下载
摘要：检测PVD法制造的亚微米级银粉中铅含量的方法，步骤包括：制备亚微米级银粉，将标准纯银与银粉样品皆按照：每1g银粉加入10~30mL硝酸，混合、加热使银完全溶解，将溶液冷却，分别定容，绘制银溶液中不同铅谱线下的标准曲线：取浓度为0.00，10.00μg/mL的铅标准溶液，于电感耦合等离子体光谱仪设定的工作条件下测定铅的谱线强度，以铅浓度为横坐标，谱线强度为纵坐标，绘制标准曲线，选出最佳谱线，测定粉溶液中谱线强度，及对应铅含量本发明具有谱线寻找容易、检测成本低，更利于工厂实际检测的优点。
icp 检测 pvd 法制微米银粉含量方法

[发明专利]一种锌铝镁合金中微量元素的含量的检测方法-CN202010144203.3在审
发明人：刘洋;王莉 -专利权人：首钢京唐钢铁联合有限责任公司
申请日： 2020-03-04 - 公布日： 2020-06-12 - 主分类号： G01N21/73 文献下载
摘要：本发明提供一种锌铝镁合金中微量元素(包括铝、镁、铁、铅、镉)的检测方法：采用光谱法检测微量元素标准工作溶液，获得微量元素标准工作溶液中微量元素的谱线强度，根据该谱线强度和所述微量元素标准工作溶液的浓度，绘制微量元素标准工作曲线；采用光谱法检测待测锌铝镁合金溶液，根据所述微量元素的最佳检测波长，获得所述待测锌铝镁合金溶液中微量元素的对应谱线强度；根据所述微量元素标准工作曲线和所述待测锌铝镁合金溶液中微量元素的对应谱线强度确定所述待测锌铝镁合金中微量元素的含量
一种镁合金微量元素含量检测方法

[发明专利]一种基于FFT的信号谱线分析方法与装置-CN201910741117.8在审
发明人：齐乐;王培培;韩敏;吴之光;滕达 -专利权人：山东超越数控电子股份有限公司
申请日： 2019-08-12 - 公布日： 2019-10-25 - 主分类号： G06F17/14 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于FFT的信号谱线分析方法与装置，包括：将原始信号加窗截断并执行FFT，获得频率谱、幅度谱、和相位谱；执行多谱线插值，确定多谱线频率和多谱线幅度；确定是否需要进行谱线修正和修正方向；当确定为需要进行谱线修正时，通过多谱线幅度计算修正因子，并使用修正因子、多谱线频率和多谱线幅度修正频率谱、幅度谱、和相位谱并作为分析结果输出；当确定为不需要进行谱线修正时，直接将频率谱、幅度谱、和相位谱作为分析结果输出。本发明的技术方案能够使用FFT分析并修正不同信号谱线或不同类型的信号谱线，通过可参数化配置的计算手段消除频谱泄露和栅栏效应的影响，降低误差并提高精度，且易于在FPGA上实施。
多谱线信号谱线修正幅度谱频率谱相位谱谱线修正因子参数化配置幅度计算幅度修正计算手段原始信号栅栏效应输出加窗截断频谱泄露分析

[实用新型]谱域OCT与线共焦同步扫描系统-CN201821082196.3有效
发明人：高峰;邢利娜;金幸杰;史国华 -专利权人：中国科学院苏州生物医学工程技术研究所
申请日： 2018-07-09 - 公布日： 2019-08-13 - 主分类号： A61B3/12 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种谱域OCT与线共焦同步扫描系统，包括：谱域光学相干层析模块、慢扫描模块、快扫描模块、照明模块、狭缝反射镜、成像透镜、二向色镜及探测器。本实用新型将线扫描共焦检眼镜和谱域OCT结合，共用大部分的器件，见底成本，消除线扫描共焦的鬼影的同时，实现双系统的单独工作和间隙工作。本实用新型用狭缝反射镜，取代分光镜，减少角膜鬼影对图像的影响，本实用新型的谱域OCT的扫描振镜分开，并与线共焦系统共用快扫描镜模块，通过共用线共焦的成像透镜组成4f系统，实现了谱域OCT的共轭扫描。
本实用新型谱域OCT 共焦同步扫描系统成像透镜二向色镜反射镜快扫描线扫描鬼影狭缝反射光学相干层析光栅共焦系统扫描振镜照明模块分光镜共用线检眼镜慢扫描双系统样品光探测器分光共轭角膜谱域扫描图像

[发明专利]一种基于LIBS单谱线的煤岩识别方法-CN202310409336.2在审
发明人：刘聪;朱胜强;戴建平;邱锦波;庄德玉;张启志;方彤;胡涛 -专利权人：中煤科工集团上海有限公司
申请日： 2023-04-17 - 公布日： 2023-07-04 - 主分类号： G06F18/24 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于LIBS单谱线的煤岩识别方法，包括：步骤S1、获取煤样本集和岩石样本集，每一样本包括N个LIBS光谱数据；步骤S2、基于煤样本集和岩石样本集中所有样本的LIBS光谱强度，确定能够显著区分煤和岩石的目标谱线波长；步骤S3、基于所有样本的目标谱线波长对应的LIBS光谱强度数据构建单谱线煤岩识别模型；步骤S4、获取目标工作面上采样点对应的目标谱线波长的LIBS光谱强度，输入所述单谱线煤岩识别模型中，生成采样点的煤岩识别结果
一种基于 libs 单谱线识别方法

[发明专利]一种半导体激光吸收光谱气体分析方法及系统-CN200710069036.5有效
发明人：王健;顾海涛;刘立鹏 -专利权人：王健
申请日： 2007-05-31 - 公布日： 2008-02-13 - 主分类号： G01N21/39 文献下载
摘要：本发明公开了一种半导体激光吸收光谱气体分析方法，所述方法包括以下步骤：a.确定半导体激光器的工作温度范围和工作电流范围；b.确定半导体激光器的输出光频率范围，在该光频率范围内选择至少两条被测气体的吸收谱线，并确定与吸收谱线对应的工作温度区间；c.测得半导体激光器的工作环境温度T，确定半导体激光器的工作温度和拟使用的被测气体的吸收谱线；d.根据半导体激光器的工作温度和拟使用的吸收谱线，确定并调整半导体激光器的工作电流
一种半导体激光吸收光谱气体分析方法系统

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