专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种实现纳米晶和纳米晶异质结构的方法-CN202211302808.6有效
  • 沈将华;王云飞;王宁宁 - 西北工业大学
  • 2022-10-24 - 2023-08-25 - C22F1/00
  • 本发明公开了一种实现纳米晶和纳米晶异质结构的方法,属于高强度、高电导率块状金属制备技术领域。所述实现纳米晶和纳米晶异质结构的方法的步骤包括:对温度为77K的金属块进行多道次冲击,实现金属块的工程应变不小于60%,即得兼具纳米晶和纳米晶异质结构的金属块。通过采用低温高应变率的变形条件,抑制了位错湮灭、提高了饱和位错密度、降低了晶成核临界尺寸,进而促进了晶粒细化和晶生成。大量的纳米晶界以极低的电导率损失(晶界的电阻率比晶界要低一个数量级)协调了变形并贡献了可观的强度。
  • 一种实现纳米孪晶异质结构方法
  • [发明专利]一种在透射电镜中测量面心立方晶体样品里晶面宽度的方法-CN201911287507.9有效
  • 郑春雷;闫志刚 - 燕山大学
  • 2019-12-14 - 2021-01-12 - G01B11/02
  • 本发明提供一种在透射电镜中测量面心立方晶体样品里晶面宽度的方法,包括如下步骤:步骤一、建立面心立方晶体样品里晶面的第一模型,所述第一模型是根据投影几何获得的;步骤二、将面心立方透射电镜样品放入电镜后,查找含有晶组织的薄区,将所检测晶粒倾转到110晶带轴;步骤三:调节放大倍数,采集晶面的投影图像,包括明场图像和暗场图像,并从图像中测量出晶面的投影宽度;步骤四:将步骤三中测量的晶面的投影宽度值代入第一模型中,确定透射样品中晶面的实际宽度。本发明操作简单,仅仅需要将样品倾转到低指数的110晶带轴;计算公式简洁,能够在透射电镜测试过程中快速计算出所晶面的实际宽度;不用加装硬件和软件即可测量。
  • 一种透射电镜中测量立方晶体样品里孪晶面宽度方法
  • [发明专利]一种制备具有确定晶取向的纳米晶金属试样的方法-CN201910135959.9有效
  • 梁春园;张奕志;刘嘉斌;王宏涛 - 浙江大学
  • 2019-02-25 - 2021-03-19 - G01N23/2202
  • 本发明公开了一种制备具有确定晶取向的纳米晶金属试样的方法,包括以下步骤:选取层错能较低的材料,制成圆棒;剪切上述圆棒,得到纳米金属尖端,将此圆棒装入样品杆固定端,使断口端朝外;取另一圆棒,制备出金属针尖,剪切圆棒,后装入样品杆活动端,使金属针尖朝外;将样品杆插入透射电镜中,选择与所需形成的晶取向的纳米晶材料具有相同晶体取向的纳米金属尖端,使该纳米金属尖端处于正焦状态;使活动端针尖与该纳米金属尖端正对;在固定端和活动端间施加电压,活动端针尖与固定端纳米金属尖端相接触,发生熔化,形成纳米晶金属试样。本发明方法可以快捷地制备出一定晶取向的纳米晶材料。
  • 一种制备具有确定取向纳米金属试样方法

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