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[发明专利]电子束探测装置、探测组件和校准方法-CN202210409220.4在审
发明人：劳大鹏;赵一霖;陈旭;杨晨;朱金台 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2022-04-19 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01N23/203 文献下载
摘要：本申请实施例提供了一种电子束探测装置、探测组件和校准方法，电子束探测装置包括：电子源，用于出射电子束，并沿多条扫描路径中的一条移动；探测组件，所述探测组件包括至少两个几何体，所述几何体包括至少两组平行的线性边缘，其中所述至少两组平行的线性边缘的倾斜角度不同，且同时位于所述电子束的所述多条扫描路径中的至少一条上；处理器，用于根据所述电子束扫描过所述至少两组平行的线性边缘来获取所述电子束的参数。能够得到电子束的准确参数，通过该参数校准该电子束，进而保证根据该参数得到的待测样品的组成成分和形貌特征探测更精确。
电子束探测装置组件校准方法

[发明专利]测量单晶晶向的方法、系统及介质-CN202210343742.9在审
发明人：施奇伟;刘晫苒;但承益;钟圣怡;陈哲;王浩伟 -专利权人：上海交通大学
申请日： 2022-04-02 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01N23/203 文献下载
摘要：本发明提供一种测量单晶晶向的方法、系统及介质，涉及晶体学凝聚态物理和粒子衍射技术领域，包括：步骤S1：扫描单晶样品，录得一部分衍射图案，依据布拉格衍射条件计算标准衍射图案，配准两类衍射图案以得到各个实验衍射图案对应的晶向角、图案中心坐标值；步骤S2：根据几何关系对图案中心坐标值做拟合计算，得到样品表面相对于衍射探测器的位置；步骤S3：应用拟合所得的样品表面的位置来计算单晶样品的实际晶向角。本发明能够纠正实验操作误差、精确测量单晶晶向。
测量单晶晶方法系统介质

[发明专利]一种脉冲磁场处理对金属零件微观组织影响的分析方法-CN202010477831.3有效
发明人：邢志国;王海斗;黄艳斐;郭伟玲;李琳 -专利权人：中国人民解放军陆军装甲兵学院
申请日： 2020-05-29 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01N23/203 文献下载
摘要：本发明公开了一种脉冲磁场处理对金属零件微观组织影响的分析方法，改变磁处理的参数之一磁场强度，对脉冲磁场放电次数相同、试样尺寸相同的20Cr2Ni4A齿轮钢试样进行微观组织观察，分析不同磁场强度下的材料微观组织的变化。首先，用EBSD测试材料的晶粒组织变化，并分析晶粒组织变化原因。然后，利用EDS对试样进行测试，通过能谱分析图进行材料的元素种类和含量的分析。最后，分析不同场强下的材料晶粒组织和元素种类含量的变化原因。本方案通过分析不同磁场强度下的材料微观组织的变化，为以后较为复杂的20Cr2Ni4A齿轮钢零件进行磁场处理的性能奠定了基础。
一种脉冲磁场处理金属零件微观组织影响分析方法

[发明专利]一种夹杂物评价方法、装置、存储介质及电子设备-CN202310788167.8在审
发明人：刘向明;王伟;陈立平;侯永亮;苑小倩;王勇;王硕康;孙静;刘延强;黎敏;刘嘉;李智博 -专利权人：首钢京唐钢铁联合有限责任公司
申请日： 2023-06-29 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01N23/203 文献下载
摘要：本申请的实施例提供了一种夹杂物评价方法、装置、存储介质及电子设备，所述方法包括：获取目标样品在初始分析面积中存在的目标夹杂物的尺寸，所述目标夹杂物为尺寸大于预设尺寸且为预设类别的夹杂物；基于每个目标夹杂物的尺寸，将所述每个目标夹杂物映射于至少一个预设尺寸区间中；统计每个预设尺寸区间包括的目标夹杂物的数量，作为目标夹杂物数量；根据各个所述目标夹杂物数量确定所述目标样品的目标夹杂物级别，所述夹杂物级别用于评价样品中预设类别夹杂物的含量程度。本申请的实施例提供了一种能精准且自动评价产品中夹杂物含量水平的方法，从而能为相关工艺或产品改进提供数据支撑。
一种夹杂评价方法装置存储介质电子设备

[发明专利]一种高强钢中小角度晶界的显示及定量分析方法-CN202210221363.2在审
发明人：刘学伟;赵楠;周丽萍 -专利权人：上海梅山钢铁股份有限公司
申请日： 2022-03-07 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G01N23/203 文献下载
摘要：本发明涉及一种高强钢中小角度晶界的显示及定量分析方法，所述方法包括以下步骤：步骤1：取制样：将待测样品镶嵌、磨光、抛光，制成普通金相样品后，再进行震动抛光，切割成0.25～2mm的薄片；步骤2：将制备好的样品放入扫描电镜样品室，步骤3：通过EBSD采集晶体衍射花样；步骤4：利用软件进行数据处理显示小角度晶界；步骤5：利用软件进行数据处理对小角度晶界进行定量分析。该方法将高强钢中大量的小角度晶界显示出来，并定量分析了不同角度晶界的百分含量，该方法填补了现有微观组织观察方法不能清晰显示小角度晶界并进行定量分析的难题，为高强钢组织细化强化机理研究，现场冷却工艺制定提供了重要的理论支撑。
一种高强中小角度显示定量分析方法

[发明专利]一种鉴别文书上红印油指印真实性的方法-CN202310487622.0在审
发明人：秦旗;吕昱帆;吴浩;李孝君;刘寰 -专利权人：公安部鉴定中心
申请日： 2023-05-04 - 公布日： 2023-09-08 - 主分类号： G01N23/203 文献下载
摘要：本发明公开了一种鉴别文书上红印油指印真实性的方法。本发明方法包括如下步骤：对待鉴别的文书上的红印油指印中的红印油纹线进行X‑射线能谱分析，当谱图中存在手印物质的特征峰时，判定其为真实红印油指印；所述手印物质的特征峰包括K和Na的特征峰。本发明针对文书上红印油指印的鉴别提供了一种新的方法，具体利用扫描电子显微镜(SEM)成像技术和X‑射线能谱分析技术，对文书上红印油手印进行成分检验，当红印油指印中含有K、Na、Cl代表主的无机物的成分元素分布情况时，可判定为真实的红印油指印；本发明方法可实现红印油指印真实性的鉴别，且可实现无损分析。
一种鉴别文书印油指印真实性方法

[发明专利]具有转台的劳厄测量系统及其操作方法-CN202280009892.4在审
发明人： M·贝拉塞尔;K·R·格阿夫劳 -专利权人：普罗托专利有限责任公司
申请日： 2022-01-12 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G01N23/203 文献下载
摘要：提供了一种用于测量晶体样品的晶向的X射线衍射装置。该装置包括转台，该转台包括至少一个托盘；限定平面的转台支撑平台；以及电动的转台移动系统，其用于使转台沿平行于平面的第一轴线线性移动、沿垂直于平面的第二轴线线性移动，以及围绕第二轴线能够旋转地移动；设置在外壳内的X射线组件；以及电动的X射线组件移动系统，其用于使X射线组件沿第三轴线线性移动，该第三轴线平行于平面且不平行于第一轴线；其中对于每个晶体样品，致动电动的转台移动系统和电动的X射线组件移动系统中的至少一个，以将准直的X射线束对准相应的测量位置，并测量晶体样品的晶向。
具有转台测量系统及其操作方法

[发明专利]一种铜箔微观晶粒应变的分析方法-CN202310550157.0在审
发明人：李红琴;杨红光;金荣涛 -专利权人：九江德福科技股份有限公司
申请日： 2023-05-16 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： G01N23/203 文献下载
摘要：本发明涉及材料微观分析技术领域，公开了一种铜箔微观晶粒应变的分析方法，包括如下步骤：S1、准备铜箔样品，确定待分析铜箔样品表面为截面；S2、剪取铜箔样品；S3、抛光铜箔样品表面，将铜箔样品放入离子束切割抛光仪，对铜箔样品表面进行抛光；S4、对S3中的抛光后的铜箔样品采用电子背散射衍射分析技术设备进行测试；S5、对S4中得到的测试结果进行图像匹配分析处理，得到样品的内核平均取向差、晶粒取向散布和晶粒参照取向偏差角分布数据。本发明对铜箔进行离子抛光并通过EBSD技术得到了样品的内核平均取向差、晶粒取向散布和晶粒参照取向偏差角分布数据，实现了铜箔材料断裂、翘曲的原因以及晶粒变形情况的可视化。
一种铜箔微观晶粒应变分析方法

[发明专利]一种钢铁材料复杂多相组织的高效定量化分析方法-CN202310298145.3在审
发明人：王静靓;尚成嘉;徐斌;钱融涛 -专利权人：北京科技大学
申请日： 2023-03-24 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： G01N23/203 文献下载
摘要：本发明提供了一种钢铁材料复杂多相组织的高效定量化分析方法，涉及钢铁材料显微组织分析技术领域。该方法对复相组织样品进行EBSD表征，根据输出的EBSD原始数据文件(ctf文件)，首先分离出面心立方相(奥氏体)，然后基于畸变程度不同的体心立方相菊池带衬度值不同、对应灰度值不同这一特点，确定EBSD原始数据中每个被判定为体心立方相的像素点实际对应的相种类(铁素体、贝氏体、马氏体等)。本发明的方法适用于含有奥氏体和不同体心立方相的复杂多相组织。与现有技术相比，本发明可以对含有面心立方相，并具有多种体心立方相组织(两种及以上)的相成分分布和含量进行准确的分析。
一种钢铁材料复杂多相组织高效量化分析方法

[发明专利]用于实时可配置的反向扫描器的系统和方法-CN202180045293.3在审
发明人： J·班达翰 -专利权人：史密斯探测公司
申请日： 2021-06-24 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： G01N23/203 文献下载
摘要：本文描述了用于反向散射成像的系统和方法。提供了一种用于对物体成像的可实时配置的物体反向散射成像系统。该反向散射成像系统包括：源阵列，其包括多个离散源；以及准直器阵列，其包括与损失多个离散源相对应的多个准直器。损失源阵列被配置为以至少部分基于损失物体相对于损失反向散射成像系统的速度确定的频率选择性地激活所述多个离散源。
用于实时配置反向扫描器系统方法

[发明专利]X射线管检查系统-CN202180074137.X在审
发明人：彼得·J·罗斯柴尔德 -专利权人：维肯检测公司
申请日： 2021-10-29 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： G01N23/203 文献下载
摘要：管检查系统(100)包括：便携式X射线扫描器(102)，能够输出X射线的扫描束(104)；透射检测器模块(106)，能够检测通过管(108)透射的扫描束的X射线；联接构件(104)，能够将便携式X射线扫描器(102)机械地联接到透射检测器模块(106)以形成管检查组件；以及运动约束特征(114)，能够约束检查组件(100)相对于管(108)在管的径向上的运动。运动约束特征(114)还允许并且还可以便于管检查组件在管的轴向上的平移运动。即使在手持操作的情况下，也可以以最小的对准关注、所需的任何对准的简易性以及与管的接合和脱离的更高的效率来实现管的高效、高质量的X射线成像。
射线检查系统

[发明专利]一种基性岩中原位锆石的寻找方法-CN202010845752.3有效
发明人：韦帅;邓宇峰 -专利权人：合肥工业大学
申请日： 2020-08-20 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： G01N23/203 文献下载
摘要：本发明公开了一种基性岩中原位锆石的寻找方法，是将新鲜基性岩制成探针薄片后，结合偏光显微镜、偏光镜阴极发光仪、电子探针分析仪BSE成像及电子探针能谱仪进行分析，从而准确判断原位锆石的位置。本发明的方法可以解决在硅不饱和的基性岩(SiO2＜52％)中难以寻找硅酸盐矿物锆石(ZrSiO4)的问题，并可以观察基性岩原位锆石的形态特征及与其它矿物的空间关系特征，便于在此基础上进行实验分析。
一种基性岩中原位寻找方法

[发明专利]获取熔覆金属三维组织信息的检测台及其操作办法-CN202010702406.X有效
发明人：郭卫民;丁宁;白雪;陈立宗;刘珑;侯南 -专利权人：山东省分析测试中心;山东省科学院激光研究所
申请日： 2020-07-21 - 公布日： 2023-07-21 - 主分类号： G01N23/203 文献下载
摘要：本发明涉及熔覆金属检测领域，具体涉及获取熔覆金属三维组织信息的检测台及其操作办法，上述检测台包括旋转架和安装在旋转架上的底座。底座上设置有多个安装槽，安装槽上设置有样品台组件，样品台组件包括托台，托台转动连接在安装槽内，托台上设置有第一转轴，第一转轴上安装有样品台，样品台上设置有用于放置样品的样品槽。上述获取熔覆金属三维组织信息的检测台，样品台通过第一转轴旋转安装在托台上，在探测特定样品时，工作人员通过旋转样品台使样品台及样品以第一转轴为轴转动，进而使样品的不同的面朝向EBSD探头，便于探测同一样品不同面的形貌，获得同一样品不同位置的形貌数据，进而提高后续熔覆金属性能分析的准确度。
获取金属三维组织信息检测及其操作办法

[发明专利]一种基于石英阴极发光特征的热液石英脉世代的判别方法-CN202310228210.5在审
发明人：管申进;李盛;王雷;任涛;侯文文;朱振东;管经纬;周杰浩;胡守东;杨天赐;蔡佳锟 -专利权人：昆明理工大学
申请日： 2023-03-10 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： G01N23/203 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于石英阴极发光特征的热液石英脉世代的判别方法，主要为：根据野外矿床地质特征对斑岩矿床进行采样，获得若干石英样品；制作电子探针片，利用偏光显微镜确认石英的矿物学、形态学及产出特征，基于石英的矿物学、形态学及产出特征对石英样品进行筛选，得到后续进行CL照片拍摄的样品；利用扫描电镜‑阴极荧光谱仪对筛选出的石英样品进行阴极发光照片的拍摄及背散射电子成像，得到扫描电镜‑阴极发光图像和背散射图像；对拍摄过阴极发光照片的薄片进行微量元素分析；基于扫描电镜‑阴极发光图像，利用背散射图像环带结构核‑边的明暗程度、震荡环带特征、嵌布特征及微量元素测试反映出的不同颜色特征对石英的期次阶段进行划分。
一种基于石英阴极发光特征热液世代判别方法

[发明专利]一种用于识别矿物分布和含量的方法、系统和电子设备-CN202310370041.9有效
发明人：原园;杨继进 -专利权人：中国科学院地质与地球物理研究所
申请日： 2023-04-10 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： G01N23/203 文献下载
摘要：本发明属于材料分析领域，具体涉及一种用于识别矿物分布和含量的方法、系统和电子设备，旨在解决现有检测方法无法准确获得矿物成分、分布和含量的问题。本方法包括：对待识别的矿物样品进行平整度处理及增强导电性处理，并进行背散射电子信号图像采集；采集元素面分布信息，提取元素浓度分界线，并叠加到背散射电子信号图像上，划分为多个一级分界区；对各一级分界区进行像素灰度识别，划分为二级分界区，即双因素边控区；对双因素边控区进行X射线能谱采集，并与矿物谱图库比对，得到矿物样品的矿物种类、分布和含量信息。本发明可对样品中灰度近似、相邻生长的不同矿物进行精确的识别，从而获得准确的矿物分布和含量信息。
一种用于识别矿物分布含量方法系统电子设备

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