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- [发明专利]一种红外线温度侦测元件及测温的方法-CN202010764007.6在审
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黄键全
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黄键全
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2020-08-01
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2020-10-02
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G01J5/20
- 该半导体的表面至少设置一个倒立金字塔结构;一金属电极,设置在所述倒立金字塔结构的表面,一平坦的欧姆接触电极,设置在所述半导体的背面,本发明还提供了一种红外温度侦测元件测温的方法,包括如下步骤,金属电极与倒立金字塔结构的表面形成萧特基接触,金属电极中的载子受入射光子激发后形成电子电洞对或热载子,而平坦的欧姆接触电极与半导体的背面形成欧姆接触,由所述金属电极中的载子激发后形成电子电洞对或热载子而越过金属电极与半导体介面的萧特基能障,形成光电流,且依据所述光电流信号计算被测物的温度值。
- 一种红外线温度侦测元件测温方法
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