专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]功率半导体组件以及电梯-CN201620946954.6有效
  • 迫田友治 - 株式会社日立制作所
  • 2016-08-25 - 2017-04-12 - H01L23/367
  • 本实用新型涉及一种功率半导体组件以及具有该功率半导体组件的电梯。该功率半导体组件(100)包括设有功率半导体器件的半导体模块(102);与所述半导体模块组装在一起,用以冷却所述半导体模块的散热器(104);以及,充填在所述半导体模块和所述散热器之间的间隙中的导热膏(据此,不需要将半导体模块从散热器卸下,便能够从散热器的外部通过该注入孔直接向半导体模块和散热器之间的间隙补充导热膏。既可以省去拆装半导体模块的作业量和时间,又可以保证良好的散热效果。
  • 功率半导体组件以及电梯
  • [发明专利]金氧半导体模块与发光二极管显示设备-CN202011054299.0在审
  • 涂高维;张渊舜;杨立昌;林益胜 - 聚积科技股份有限公司;力士科技股份有限公司
  • 2020-09-30 - 2021-04-30 - H01L27/088
  • 本发明提供一种金氧半导体模块,包含:半导体基板,及多个形成于半导体基板的金氧半导体组件,金氧半导体组件以至少一沟槽彼此间隔。每一个金氧半导体组件包括形成于半导体基板的重掺杂半导体层、形成于重掺杂半导体层的磊晶层、定义于磊晶层内,以裸露重掺杂半导体层的开口;及金属图案单元,金属图案单元具有位于磊晶层上的源极金属图案、位于磊晶层上的栅极金属图案;以及通过开口,自重掺杂半导体层向上延伸并凸伸出磊晶层的漏极金属图案。此外,本发明并提供具有此金氧半导体模块的发光二极管显示设备,借此,可适用于芯片级封装,且将金氧半导体模块整合于发光二极管显示面板,有助于缩减电路板上组件覆盖区的面积,而可增加显示区域。
  • 半导体模块发光二极管显示设备
  • [发明专利]一种半导体卡包装容器及光盘包装容器-CN201910876982.3有效
  • 留国典;留君铭 - 精密产品有限公司
  • 2019-09-17 - 2021-10-22 - B65D25/10
  • 本发明公开了一种半导体卡包装容器,包括能够关闭和打开的盒体,所述盒体上设有装卡部,所述装卡部上设有轮廓与半导体卡外形吻合的置卡槽;所述装卡部在所述置卡槽相对的两侧分别设有弹扣组件和压扣组件,所述弹扣组件和所述压扣组件用于将半导体卡限制在所述置卡槽内,并且当所述压扣组件受力时,所述弹扣组件半导体卡弹出所述置卡槽。本发明提供的半导体卡包装容器,存取半导体卡都很顺畅方便,存取卡都不会存在划伤用户的问题,并且可以重复利用,利用本包装容器存放半导体卡,也不易发生半导体卡遗失和损坏的问题。
  • 一种半导体包装容器光盘
  • [实用新型]一种半导体生产时的气体控制系统-CN202220399869.8有效
  • 冯辉;袁华伟;刘兵;常浩 - 瑞奥华科技工程(成都)有限公司
  • 2022-02-28 - 2022-07-15 - H01L21/00
  • 本实用新型涉及气体控制设备技术领域,具体涉及一种半导体生产时的气体控制系统;包括底座、支撑柱,支撑板、生产台、密封箱、支撑组件、喷气组件和净化组件,通过生产台对密封箱进行支撑,支撑组件设置于密封箱的内部,喷气组件设置于密封箱的上方,能够对密封箱内部生产的半导体进行喷气,净化组件设置于密封箱的侧边,能够将其排出的毒气进行净化处理,在生产半导体时,需要对其生产的半导体进行喷气时,便将半导体放置在密封箱的内部,随后,便启动喷气组件,支撑组件便将喷气组件进行支撑,从而喷气组件进行准确的将气体喷射在生产半导体上,提高对半导体的生产。
  • 一种半导体生产气体控制系统
  • [发明专利]一种半导体晶圆检测装置-CN202210979056.0有效
  • 吴龙军 - 徐州领测半导体科技有限公司
  • 2022-08-16 - 2022-10-28 - H01L21/687
  • 本发明涉及半导体晶圆生产技术领域,公开了一种半导体晶圆检测装置,包括对接环、顶升杆、连接螺栓、辨识组件与检测组件,对接环上通过螺纹连接的方式对称设有顶升杆,顶升杆上端面通过连接螺栓安装有辨识组件,辨识组件下方设有检测组件,本发明在对半导体晶圆的平整度进行检测时,能够快速的通过痕迹判断半导体晶圆的平整情况,在半导体晶圆检测结束后,能够对半导体晶圆表面的脏污以及标识板上的痕迹进行清除,在提高半导体晶圆的检测效率的同时,能够避免半导体晶圆在进行检测时导致脏污附着的情况发生
  • 一种半导体检测装置
  • [发明专利]半导体工艺炉的电极机构和半导体工艺炉-CN201911368034.5有效
  • 闫志顺;赵福平;郑建宇 - 北京北方华创微电子装备有限公司
  • 2019-12-26 - 2022-11-25 - C23C16/505
  • 本发明提供一种半导体工艺炉的电极机构和半导体工艺炉,半导体工艺炉的电极机构包括连接板、第一电极组件、第二电极组件、第一传导座、第二传导座和悬臂组件,其中,连接板与半导体工艺炉的炉门连接;悬臂组件穿过连接板及炉门向半导体工艺炉炉体的方向延伸;第一传导座、第二传导座设置在悬臂组件上,分别与半导体工艺炉的晶舟的两个端部可分离的电连接;第一电极组件穿设于悬臂组件内部,与第一传导座电连接;第二电极组组件穿过连接板及炉门与第二传导座电连接。本发明提供的半导体工艺炉的电极机构和半导体工艺炉,能够改善工艺结果,减少工艺时间,增加设备产能,降低加工成本。
  • 半导体工艺电极机构

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