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- [发明专利]熔盐的电化学净化方法-CN201510237627.3在审
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黄卫;蒋锋;田丽芳;佘长锋;郑海洋;龙德武;李晴暖
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中国科学院上海应用物理研究所
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2015-05-11
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2017-01-04
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C25C3/00
- 本发明公开了熔盐的电化学净化方法。本发明提供了一种熔盐的电化学净化方法,步骤(1):采用三个电极:阴极、阳极和参比电极,确定熔融的待净化熔盐的电化学窗口及在待净化熔盐电化学窗口内杂质的电化学还原峰电位;以石墨为阳极材料,以惰性金属为阴极材料,所述的惰性金属为不与待净化熔盐发生反应的金属;步骤(2):以比步骤(1)中确定的杂质的电化学还原峰电位负、大于或等于待净化熔盐的电化学窗口的电压进行电解。本发明的方法,不但适用氯化物熔盐体系,也适用氟化物熔盐体系,单次实验操作即达到同时净化除去熔盐中金属阳离子杂质和含氧阴离子杂质,并且不需在熔盐体系加入其它化学试剂,净化过程不会对熔盐产生次生污染。
- 电化学净化方法
- [实用新型]半导体用超纯化学品储罐的杂质检测装置-CN202122303376.8有效
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宋国华
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无锡氟士德防腐科技有限公司
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2021-09-23
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2022-05-13
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G01N21/90
- 本实用新型涉及半导体储存技术领域,且公开了半导体用超纯化学品储罐的杂质检测装置,包括壳体,所述壳体顶部固定连接有检测机构,所述检测机构表面通过螺纹套螺纹连接有固定机构。该半导体用超纯化学品储罐的杂质检测装置,通过设置检测机构,在使用的过程中,先将该装置放入需要检测的半导体用超纯化学品储罐内,打开补光灯,启动电机,电机的转动带动传动杆的转动,传动杆的转动带动第一齿轮的转动,操作人员可以通过控制盒对传感相机检测到的画面进行观察,发现罐体内存在杂质,及时进行处理,从而能有效防止半导体用超纯化学品在储存时受到罐体内的杂质影响,造成半导体用超纯化学品的损坏,降低了半导体用超纯化学品损坏的风险
- 半导体用超纯化学品杂质检测装置
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