专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种SOC芯片高温测试的方法和装置-CN201910986062.7在审
  • 吉喆;薛志明 - 福州瑞芯微电子股份有限公司
  • 2019-10-17 - 2020-02-21 - G01R31/28
  • 本发明提供了一种SOC芯片高温测试的方法和装置,所述装置包括运行辅助电路、测试辅助电路、待测芯片和统计分析模块;所述待测芯片分别与运行辅助电路、测试辅助电路、统计分析模块连接;所述待测芯片上设置有基础系统模块、功能运行模块、回路测试模块和温度控制模块;所述统计分析模块用于实时获取待测芯片在测试过程中的测试数据,并将测试数据发送至显示设备进行显示。通过上述方案,在进行芯片老化测试时,不仅能覆盖到芯片内部各个模块的系统级功能的HTOL测试,也能够覆盖芯片管脚电路的测试,同时,还可以监控每颗HTOL芯片的实时电性参数和运行状态,便于老化数据分析和老化失效分析
  • 一种soc芯片高温测试方法装置
  • [发明专利]一种基于大数据分析的能力测量方法及装置-CN202310011014.2在审
  • 朱益宏;吴少华 - 广东中大管理咨询集团股份有限公司
  • 2023-01-05 - 2023-04-07 - G06F18/214
  • 本发明涉及智能测量领域,揭露一种基于大数据分析的能力测量方法及装置,所述方法包括:获取待测量能力的应用场景,识别待测量能力的能力维度因子,对能力维度因子进行模糊化处理,得到模糊能力水平;构建能力维度因子与待测量能力之间的关联关系,根据能力维度因子、模糊能力水平及关联关系,构建能力分析模型;利用预构建的能力测试项目,对历史能力测试对象进行测试,得到历史测试数据;对能力分析模型进行训练,得到训练好的能力分析模型;利用训练好的能力分析模型确定实时测试数据的测试数据分布和能力测试项目的测试项目分布,根据测试数据分布和测试项目分布,得到能力测量结果。
  • 一种基于数据分析能力测量方法装置
  • [发明专利]SSR集中管理平台压力测试管理系统-CN201610043795.3有效
  • 吴延庆 - 浪潮电子信息产业股份有限公司
  • 2016-01-22 - 2018-09-04 - G06F11/36
  • 本发明公开SSR集中管理平台压力测试管理系统,涉及计算机安全测试技术,其系统架构主要包括四大模块:SSR集中管理模块、状态监控模块、压力测试模块和统计分析结果模块;其中,所述SSR集中管理模块负责统一配置测试环境,所述状态监控模块负责检测SSR运行状态、安装SSR机器运行状态,所述压力测试模块负责统一运行测试脚本并进行测试,所述统计分析结果模块负责统计分析日志传输过程对机器的影响,以及日志收集的结果分析。本发明可以减少测试人员在测试阶段对每个机器的复杂操作,强大的结果收集与报表展示功能更能让程序执行的效果简洁明了,方便分析调优。
  • ssr集中管理平台压力测试系统
  • [发明专利]具有编码识别的分析系统-CN200980130411.X有效
  • W.佩特里希;S.卡尔维拉姆;M.泽尔 - 霍夫曼-拉罗奇有限公司
  • 2009-08-03 - 2011-06-29 - G01N33/487
  • 提出一种用于鉴定样本中的至少一种分析物、尤其是用于鉴定体液中的葡萄糖的分析系统(110)。该分析系统(110)被设立用于在使用至少一个测试元件的情况下对分析物进行鉴定。测试元件具有至少一个用于鉴定分析物的分析区(116)。测试元件此外包括至少一个具有至少一个测试元件特定信息和/或至少一个位置特定信息的编码(118)。分析系统(110)包括探测器(124),以及此外包括至少一个输送设备(142),该输送设备(142)被设立用于在至少一个第一位置中通过探测器(124)来实现对分析区的检测并且在至少一个与第一位置不同的第二位置中通过探测器在测试元件是测试条(154)时,分析系统(110)被设立用于检测编码(118)的至少测试元件特定信息。在测试元件是测试带(114)时,分析系统(110)被设立用于通过探测器(124)来检测至少位置特定信息。
  • 具有编码识别分析系统
  • [发明专利]分析读数装置及分析读数方法-CN201110223580.7无效
  • 王继华;王治才 - 广州万孚生物技术有限公司
  • 2011-08-05 - 2012-01-18 - G01N21/17
  • 本发明提供一种分析读数装置及分析读数方法,用于对化验检测的测试条进行读数和分析,该测试条上设有检测区和空白区,该分析读数装置包括光电检测电路和处理器,该光电检测电路包括:至少两个光源,与所述测试条的测试区和空白区位置相应,能够发出与所述测试条的测试区和空白区相应的光;和至少一个光检测器,光检测器接收来自两个区域的反射光线;所述至少两个光源所发出的光照射到测试条的测试区和空白区,并反射经由所述光检测器接收,然后反馈检测信息给处理器分析读数方法:处理器根据时序设计分别控制至少两个光源分别点亮,光线照射在测试条的空白区和测试区后,经反射由光检测器接收,然后反馈检测信息给处理器,处理器根据所接收的检测信息进行分析和判定。本发明分析读数装置及分析读数方法,读数干扰少,精确度高。
  • 分析读数装置方法
  • [发明专利]一种DRAM老化测试数据分析系统-CN202211382214.0在审
  • 沈友峰;钟剑桥 - 沛顿科技(深圳)有限公司
  • 2022-11-07 - 2023-01-31 - G06F16/903
  • 本发明公开了一种DRAM老化测试数据分析系统,涉及DRAM老化测试技术领域;为了便于快速锁定可能失效的原因;包括历史测试数据库、测试数据输入模块、良率数据判断模块、Bin Map集中性分析模块、Slot相关性分析模块、BIB相关性分析模块、OVEN相关性分析模块、程序Bin Gap分析模块、程序失效item分析模块,失效模型分析模块、失效模型输入模块、分析报告和预警模块。本发明通过对良率和机台的相关性建立对应的联系,在生产过程中自动对比测试过程中是否出现异常点,如低良率、失效集中性、Bin Gap、连续fail,从而可以及时的发现异常的数据,提高数据分析的时效性。
  • 一种dram老化测试数据分析系统
  • [发明专利]化学需氧量的自动分析方法-CN02113482.0无效
  • 张新申;蒋小萍 - 四川大学
  • 2002-03-20 - 2004-03-10 - G01N35/08
  • 一种化学需氧量的自动分析方法,包括标样的测试分析与试样的测试分析,标样和试样的测试分析均包括基线的测绘与谱图的测绘。产生基线的溶液为推动液,该推动液通过测试分析仪器的分析流路形成基线被测绘,标样或试样在测试分析仪器的进样流路与氧化液混合后进入分析流路,在推动液的推动下通过分析流路形成谱图被测绘。
  • 化学需氧量自动分析方法
  • [发明专利]车载多媒体终端的测试系统-CN201310133935.2无效
  • 黄维权 - 深圳市凌启电子有限公司
  • 2013-04-17 - 2013-07-10 - G01C25/00
  • 本发明实施例涉及电子技术领域,公开了一种车载多媒体终端的测试系统。其中,该系统包括:数据采集设备,用于采集车载多媒体终端的编号信息和测试数据;数据分析设备,与所述数据采集设备连接,用于对所述测试数据进行分析;数据管理设备,与所述数据分析设备连接,用于对所述编号信息和所述数据分析设备输出的测试结果进行存储和展示本实施例提供的车载多媒体终端测试系统中可实现测试数据采集、分析、存储的自动化操作,可大大提高测试速度和效率,降低成本,且便于用户对产品测试数据的管理。
  • 车载多媒体终端测试系统

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