专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种通用芯片信号分析测试治具-CN202223599572.5有效
  • 陶杉;段超毅;蒋伟;周闯 - 深圳凯智通微电子技术有限公司
  • 2022-12-27 - 2023-06-06 - G01R31/28
  • 本实用新型公开一种通用芯片信号分析测试治具,所述通用芯片信号分析测试治具包括夹球测试座以及信号分析转接板;所述夹球测试座用于与芯片相连接导通,夹球测试座弹片顶部与芯片锡球夹紧导通,底部引脚与信号分析转接板焊盘一一对应焊接导通;所述信号分析转接板可以根据芯片信号需要做到厚度在0.1mm‑2.0mm之间任何厚度,与所述测试座Pin To Pin Tob面一一对应焊盘焊接相连导通,所述信号分析转接板板上或者板边缘设置有多个所需信号测试点,所述多个测试点用以将所述芯片的信号引出。本实用新型的通用芯片信号分析测试治具,能够解决现有技术中芯片信号分析治具无法还原芯片真实的工作状态及通用性,信号衰减大等测试结果不精准的技术问题。
  • 一种通用芯片信号分析测试
  • [发明专利]基于词法分析的自动测试方法及装置-CN201610755786.7在审
  • 彭佳斌 - 广州唯品会信息科技有限公司
  • 2016-08-29 - 2017-01-25 - G06F11/36
  • 本发明公开了一种基于词法分析的自动测试方法,其中所述基于词法分析的自动化测试方法包括以下步骤获取待测试项目的源代码;对所述源代码的内容进行词法分析,获得所述待测试项目的测试用例,并形成测试用例列表;根据所述测试用例列表筛选待运行的目标测试用例;根据所述目标测试用例修改预设的测试代码,以使所述测试代码只能让目标测试用例可以被执行。本发明还公开了一种基于词法分析的自动测试装置。本发明可以在程序测试时筛选测试用例列表,节约测试时间。
  • 基于词法分析自动测试方法装置
  • [发明专利]一种人机工程学数据的测试分析处理方法-CN201610283934.X有效
  • 翟越;程辉;李艳;崔怡平;汪路;常焕庆;张亚楠;董婧;邹愈;原兴霞 - 长安大学
  • 2016-04-29 - 2018-09-14 - A61B5/00
  • 本发明公开了一种人机工程学数据的测试分析处理方法,采用人机工程学数据测试系统对被测试者的人机工程学数据进行测试分析处理;人机工程学数据测试系统包括人机工程学数据测试装置、上位处理器以及与上位处理器连接的数据存储器、参数设置单元和显示单元;对被测试者的人机工程学数据进行测试分析处理时,过程如下:一、数据测试及同步上传;二、数据分析处理,过程如下:身份识别编号识读与判断、最近一次测试记录查找及判断、两次测试数据对比分析和对比分析结果输出本发明方法步骤简单、设计合理且实现简便、使用效果好,能对人机工程学数据进行简便、快速测试,并能将本次测试出的人机工程学数据与前侧测试数据进行对比分析
  • 一种人机工程学数据测试分析处理方法
  • [发明专利]延迟链分析系统及方法-CN202310380347.2在审
  • 张大勇;杨晓帅;金智;申英俊;孙锴 - 中国科学院微电子研究所
  • 2023-04-11 - 2023-07-21 - G04F10/00
  • 本发明提供一种延迟链分析系统,包括测试信号发生器、FPGA芯片及上位机;FPGA芯片包括延迟链模块和集成逻辑分析仪,延迟链模块包括一个或多个延迟链,上位机包括测试控制器和数据分析器;测试信号发生器与FPGA芯片连接,延迟链的输出端与集成逻辑分析仪连接,集成逻辑分析仪的输出与上位机连接;测试信号发生器用于产生与延迟链时钟接近的测试信号;延迟链用于测量时间的微小间隔;集成逻辑分析仪用于连续抓取时钟上升沿时延迟链寄存器输出的温度码并传输至上位机;测试控制器用于控制测试进程,接收集成逻辑分析仪输出的温度码并存储为可分析的文件;数据分析器用于分析测试控制器存储的文件,形成延迟时间表。
  • 延迟分析系统方法
  • [发明专利]一种自动驾驶车辆测试方法、系统、装置和存储介质-CN202311075840.X在审
  • 周鲁东;刘博;张娜;何贝 - 北京斯年智驾科技有限公司
  • 2023-08-25 - 2023-09-19 - G05B23/02
  • 本申请实施例公开了一种自动驾驶车辆测试方法、系统、装置和存储介质。方法由处理器执行,包括:向待测试车辆发出执行初始测试方案的指令;通过通讯网络获取待测试车辆反馈的初始测试方案对应的测试数据;基于测试数据确定分析结果;响应于分析结果不满足预设条件,基于分析结果确定补充测试方案;生成并向补充测试车辆发送控制指令,以控制补充测试车辆执行补充测试方案。本说明书通过向待测试车辆远程发送指令,并基于待测试车辆返回的测试数据进行分析,在分析结果不满足预设条件时,控制其他自动驾驶车辆(即补充测试车辆)进行补充测试,从而可以实现自动驾驶车辆的自动化测试,节约人力的同时提高了测试的效率
  • 一种自动驾驶车辆测试方法系统装置存储介质
  • [发明专利]一种测试仪表,及其测试方法-CN201510011727.4有效
  • 朱天全;鲍胜青;赵军亮 - 北京奥普维尔科技有限公司
  • 2015-01-09 - 2018-02-23 - H04B10/071
  • 本申请公开了一种测试仪表,及其测试方法,包括控制测试单元、数据分析单元、数据存储单元、光缆测试单元、光纤测试单元和显示单元,所述测试方法包括1控制测试单元接收测试指令,将该测试指令转换成数据信息,并发送至数据分析单元;2数据分析单元接收控制测试单元发送的数据信息并转换为操作指令,发送至光缆测试单元;3光缆测试单元检测出光纤故障所在的光缆,并发送至数据分析单元;4数据存储单元对光缆测试数据进行存储;5数据分析单元接收光缆测试单元的测试结果并转换成测试数据发送至显示单元;本发明解决了现有技术无法实现的将光缆测试和光纤测试集为一体、结构简单、成本低、功耗小的技术问题。
  • 一种测试仪表及其方法
  • [发明专利]软件测试管理方法、存储介质及系统-CN202211310119.X在审
  • 白雪枫 - 平安银行股份有限公司
  • 2022-10-25 - 2023-01-17 - G06F11/36
  • 本申请公开了一种软件测试管理方法、存储介质及系统,方法包括:获取软件测试任务的测试数据,以及为软件测试任务配置的任务评价规则;根据任务评价规则对测试数据进行评审分析,得到测试数据的分析结果;对分析结果按照预设量化规则进行量化处理,得到分析结果的测试工作指标;将测试工作指标与任务生产指标进行匹配,得到匹配结果,并根据匹配结果确定是否调整任务评价规则。通过对软件测试过程中的测试数据进行统一管理,并设定任务评价规则,能够形成有效的分析结果,从而提高对软件测试人员的管理效率。
  • 软件测试管理方法存储介质系统
  • [发明专利]基于人工智能的测试报告分析方法、装置、设备及介质-CN202210949281.X在审
  • 李成杰 - 中国平安人寿保险股份有限公司
  • 2022-08-09 - 2022-11-22 - G06F11/36
  • 本申请适用于自动化测试技术领域,尤其涉及一种基于人工智能的测试报告分析方法、装置、设备及介质。该方法通过获取基于第一测试报告集构建的根因集合和训练集及第二测试报告集,提取第二测试报告集中每个测试报告的报错关键点,将每个报错关键点与根因集合进行匹配,得到根因字段,将根因字段作为对应测试报告的标注,根据标注后的测试报告和对应的报错关键点,生成测试数据向量构成测试集,将训练集与测试集进行K近邻相似性分析,确定相似性最大时对应的K值为目标个数,提取待分析测试报告的报错关键点,确定从根因集合中匹配到目标个数的根因为待分析测试报告的分析结果,从而实现测试报告的自动化分析,能够有效地提高测试开发效率。
  • 基于人工智能测试报告分析方法装置设备介质
  • [发明专利]多端口存储器自我修复电路及方法-CN200710103427.4有效
  • 曾子维;黄瑜真;吴俊贤;李进福;包建元 - 智原科技股份有限公司
  • 2007-05-09 - 2008-11-12 - G11C29/44
  • 一种多端口存储器自我修复电路以及其对应方法,上述的自我修复电路包括测试分析模块以及瑕疵定位模块。其中瑕疵定位模块耦接于测试分析模块。测试分析模块测试一可修复多端口存储器以产生一错误位置,并根据错误位置判断上述测试是否产生端口相关错误。若上述测试产生端口相关错误,则瑕疵定位模块根据错误位置产生一瑕疵位置并提供瑕疵位置至测试分析模块,测试分析模块根据瑕疵位置决定如何修复上述可修复多端口存储器。反之,若上述测试未产生端口相关错误,则测试分析模块根据错误位置决定如何修复上述可修复多端口存储器。
  • 多端存储器自我修复电路方法
  • [发明专利]一种基于测试序列分析的UVM验证加速方法-CN201910557257.X有效
  • 倪伟;徐春琳;储萍;王月恒;宋宇鲲;张多利 - 合肥工业大学
  • 2019-06-25 - 2023-03-24 - G06F30/398
  • 本发明公开了一种基于测试序列分析的UVM验证加速方法,其步骤包括:创建系统配置类Sys_cfg以及序列分析器,在激励产生器中设置一个用于控制测试序列切换的开关变量Switch,封装所有组件形成UVM验证平台,激励产生器产生测试序列并发送至序列发生器,序列分析器接收来自序列发生器的测试序列并分析测试序列类型,将分析结果反馈给激励产生器,激励产生器根据反馈结果控制开关变量Switch的状态,并根据开关变量Switch的状态切换测试序列类型。本发明通过分析已发送测试序列是否达到预设比重来切换测试序列类型,从而减少发送冗余随机测试序列,及时进行边界条件测试,进而提高验证效率。
  • 一种基于测试序列分析uvm验证加速方法

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