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[发明专利] 一种PCB可测性快速标识方法 -CN201110030157.5 无效
发明人：
于治楼 ;杜光芹 ;翟西斌
- 专利权人：
浪潮电子信息产业股份有限公司
申请日：
2011-01-27
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公布日：
2011-08-10
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主分类号：
G06F17/50 文献下载
摘要： 本发明公开了一种PCB可测性快速标识方法，属于EDA技术 领域，对PCB上的NET属性增加可测试 属性，可导出每个NET的可测试 属性，通过外挂可测试 性分析 控件，分析 NET的可测试 性，并生成分析 报告和建议。可测试 分析 控件对NET的可测试 性进行分析 ，计算总NET和可测量的NET，并得出总测试 覆盖率；根据电源类，内存类，总线类，时钟类信号对NET进行分类，并得出各类线的测试 覆盖率；生成可测试 分析 表，分析 报告及建议；导出NET的可测试 分析 表和分析 报告；导出NET的可测试 分析 表和分析 报告。本发明实现了对ICT针床信号的可测性进行较为科学、准确的分析 ，有利于提高PCB焊接的质量，进一步提高了PCB设计效率。一种 pcb 可测性 快速 标识 方法
[发明专利] 一种测试 仪表，及其测试 方法 -CN201510011727.4 有效
发明人：
朱天全 ;鲍胜青 ;赵军亮
- 专利权人：
北京奥普维尔科技有限公司
申请日：
2015-01-09
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公布日：
2018-02-23
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主分类号：
H04B10/071 文献下载
摘要： 本申请公开了一种测试 仪表，及其测试 方法，包括控制测试 单元、数据分析 单元、数据存储单元、光缆测试 单元、光纤测试 单元和显示单元，所述测试 方法包括1控制测试 单元接收测试 指令，将该测试 指令转换成数据信息，并发送至数据分析 单元；2数据分析 单元接收控制测试 单元发送的数据信息并转换为操作指令，发送至光缆测试 单元；3光缆测试 单元检测出光纤故障所在的光缆，并发送至数据分析 单元；4数据存储单元对光缆测试 数据进行存储；5数据分析 单元接收光缆测试 单元的测试 结果并转换成测试 数据发送至显示单元；本发明解决了现有技术 无法实现的将光缆测试 和光纤测试 集为一体、结构简单、成本低、功耗小的技术 问题。一种 测试 仪表 及其 方法
[实用新型] 一种通用芯片信号分析 测试 治具 -CN202223599572.5 有效
发明人：
陶杉 ;段超毅 ;蒋伟 ;周闯
- 专利权人：
深圳凯智通微电子技术有限公司
申请日：
2022-12-27
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公布日：
2023-06-06
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主分类号：
G01R31/28 文献下载
摘要： 本实用新型公开一种通用芯片信号分析 测试 治具，所述通用芯片信号分析 测试 治具包括夹球测试 座以及信号分析 转接板；所述夹球测试 座用于与芯片相连接导通，夹球测试 座弹片顶部与芯片锡球夹紧导通，底部引脚与信号分析 转接板焊盘一一对应焊接导通；所述信号分析 转接板可以根据芯片信号需要做到厚度在0.1mm‑2.0mm之间任何厚度，与所述测试 座Pin To Pin Tob面一一对应焊盘焊接相连导通，所述信号分析 转接板板上或者板边缘设置有多个所需信号测试 点，所述多个测试 点用以将所述芯片的信号引出。本实用新型的通用芯片信号分析 测试 治具，能够解决现有技术 中芯片信号分析 治具无法还原芯片真实的工作状态及通用性，信号衰减大等测试 结果不精准的技术 问题。一种 通用 芯片 信号 分析 测试
[发明专利] 静态报告合并分析 技术 -CN201911254882.3 在审
发明人：
赵光光 ;李涛
- 专利权人：
北京关键科技股份有限公司
申请日：
2019-12-09
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公布日：
2020-07-03
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主分类号：
G06F11/36 文献下载
摘要： 本发明涉及一种静态报告合并分析 技术 ，对多测试 工具报告的二次分析 、除重、合并技术 ，包括：步骤1)首先对行业标准规则进行分类并重新编号；步骤2)其次需要对测试 工具中的规则进行映射，如果不映射的话，无法对结果进行分析 整理，因此只能有唯一的对映关系；步骤3)运行测试 工具，对被测项目进行分析 ，分析 完成之后，对每个测试 工具的报告汇总在一起；步骤4)对汇总在一起的报告进行分析 ，依次分析 读取每个测试 工具的报告，对报告中的每条问题进行分析 ；步骤5)分析 完成之后，通过页面进行展示，测试 人员或开发人员可对每条问题进行查看，确认为不是问题的，可进行编辑删除，确认完成之后，重新保存到数据库，同时可生成测试 报告。静态 报告 合并 分析 技术
[发明专利] 一种推进电机测试 系统 -CN202310763381.8 在审
发明人：
王君林 ;潘煜
- 专利权人：
湖南贝特新能源科技有限公司
申请日：
2023-06-27
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公布日：
2023-08-08
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主分类号：
G01R31/34 文献下载
摘要： 本发明公开了一种推进电机测试 系统，属于推进电机测试 技术 领域，包括测试 设备模块、需求分析 模块和测试 控制模块；测试 设备模块用于对当前应用的测试 设备进行补充分析 ，确定补充设备，根据获得的补充设备进行相应的测试 设备补充；所述需求分析 模块用于根据推进电机对应的订单信息确定对应的测试 方案；所述测试 控制模块用于进行推进电机的测试 过程控制，实时识别需要进行测试 的推进电机信息，将获得的推进电机信息发送给需求分析 模块进行分析 ，获得对应的测试 方案，根据获得的测试 方案控制对应的测试 设备对相应的推进电机进行测试 ，获得对应的测试 数据；通过测试 设备模块和需求分析 模块之间的相互配合，实现根据推进电机的实际应用情况进行测试 。一种 推进 电机 测试 系统
[发明专利] 半导体器件的测试 方法及相关装置 -CN202310598932.X 在审
发明人：
刘富德 ;郑大伟
- 专利权人：
长沙道尚循环科技有限公司
申请日：
2023-05-25
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公布日：
2023-08-08
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主分类号：
G01R31/26 文献下载
摘要： 本发明涉及半导体测试 技术 领域，公开了一种半导体器件的测试 方法及相关装置，用于提高对半导体器件测试 时的准确率。方法包括：对待测试 半导体进行标识分析 ，确定半导体标识信息；通过半导体标识信息对待测试 半导体进行测试 环境数据构建，生成目标测试 环境；对待测试 半导体进行通电测试 并获取测试 数据集合；对测试 数据集合进行预处理得到候选数据集合；对候选数据集合进行随机噪声添加得到待分析 数据集合；将待分析 数据集合输入每个目标基模型进行半导体性能分析 ，得到初始性能分析 结果；基于初始性能分析 结果对多个目标基模型进行元模型构建，得到目标元模型；将初始性能分析 结果输入目标元模型进行数据修正，得到目标性能分析 结果。半导体器件 测试 方法 相关 装置
