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[发明专利]基于机器视觉检查薄膜滤光片是否挑错的系统及检测方法-CN201910287050.5在审
发明人：李京辉;朱宏干;姚亚星 -专利权人：北极光电(深圳)有限公司
申请日： 2019-04-11 - 公布日： 2019-06-21 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种基于机器视觉检查薄膜滤光片是否挑错的系统，包括有载物盒、光谱分析仪、检测装置以及图像对比系统，所述载物盒内设有用于供薄膜滤光片阵列分布的放置区；所述光谱分析仪，用于对载物盒内放置的薄膜滤光片进行光谱分析，并将光谱分析结果传送至图像对比系统；所述检测装置包括用于对载物盒内挑选后剩下的薄膜滤波片进行照明的照明组件以及用于对载物盒内挑选后剩下的薄膜滤波片进行图像采集并将图像采集的信息传送至图像对比系统的相机与现有技术相比，该系统及检测方法将待检测薄膜滤光片进行光谱测试，挑出合格的薄膜滤光片后，再置入检测装置内进行拍照检测，在图像对比分析系统内进行比对检测是否有挑错或挑漏现象。
薄膜滤光片载物盒图像对比系统检测装置薄膜滤波片光谱分析仪检测基于机器视觉检查图像采集光谱分析结果比对检测分析系统光谱测试光谱分析图像对比信息传送照明组件阵列分布放置区物盒置入拍照传送相机

[实用新型]一种特种玻璃光谱分析用固定装置-CN202120124410.2有效
发明人：却红光 -专利权人：合肥亚星玻璃有限公司
申请日： 2021-01-18 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： G01N21/25 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种特种玻璃光谱分析用固定装置，涉及光谱分析技术领域，为解决现有特种玻璃光谱分析时对特种玻璃固定只有单一的角度，固定灵活性差，导致光谱分析不精准的问题。所述光谱分析仪主体的上端设置有显示器机构，所述光谱分析仪主体的前端设置有存放腔，所述存放腔的内部设置有放置板，所述放置板的上端设置有连接柱，且连接柱与放置板固定连接，且连接柱设置有两个，所述连接柱的一端设置有电机机构
一种特种玻璃光谱分析固定装置

[发明专利]测量二维结构元件的阵列的局部临界尺寸均匀性-CN202180030428.9在审
发明人：孔德欣;丹尼尔·施密特;阿隆·J·赛普勒;玛乔丽·程;罗伊·科雷特;尹戈尔·蒂罗韦斯 -专利权人：诺威有限公司;国际商业机器公司
申请日： 2021-02-23 - 公布日： 2022-12-02 - 主分类号： G06N20/00 文献下载
摘要：一种用于测量二维结构元件的阵列的局部临界尺寸均匀性的方法、系统和非暂时性计算机可读介质，方法可以包括：获得所获取的阵列的光学光谱分析光谱；将所获取的阵列的光学光谱分析光谱馈送至经训练的机器学习过程，其中，经训练的机器学习过程被训练以将光学光谱分析光谱映射至平均临界尺寸(CD)和局部临界尺寸均匀性(LCDU)；以及通过经训练的机器学习过程输出阵列的平均CD和LCDU。
测量二维结构元件阵列局部临界尺寸均匀

[发明专利]可固定于显微镜上的光纤光谱分析探头-CN201010131545.8无效
发明人：李庆熊;瑞安·爱德华·沙利文;周新;王晓路 -专利权人：必达泰克光电设备(上海)有限公司
申请日： 2010-03-04 - 公布日： 2011-05-18 - 主分类号： G01N21/63 文献下载
摘要：本发明公开了一种可固定于显微镜上的光纤光谱分析探头，可直接固定于标准显微镜物镜上面，以使显微镜具有光谱分析功能。安装此光纤光谱分析探头的显微镜适合于微区采样，拉曼分析以及荧光分析并可方便地切换重组不同的激发/检测波长。该光纤光谱分析探头仅由少量的光学元器件组成，且紧凑小巧以至于对显微镜光路的影响达到最小。
固定显微镜光纤光谱分析探头

[发明专利]一种基于等离子体的便携式光谱分析装置-CN201910674260.X在审
发明人：曾葆青;黎瑜;姜芮芮;柴璇;陈涛;柳建龙;杜知了;赵培阳 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2019-07-25 - 公布日： 2019-11-22 - 主分类号： G01N21/73 文献下载
摘要：一种基于等离子体的便携式光谱分析装置，属于光谱分析领域。所述基于等离子体的便携式光谱分析装置包括微波源系统1、微波传输系统2、微波等离子体炬光源系统3、等离子体光源捕获系统4、光谱检测系统5、进样系统6。本发明通过在微波等离子体炬光源系统的内导体中打孔，将光纤导入至系统的开放端，直接近距离对等离子体光源进行捕获，并传输至光谱检测系统，利用光纤将光谱检测探头集成到了微波等离子体炬光源系统中，设备体积大幅降低
微波等离子体炬光源系统等离子体等离子体光源光谱分析装置光谱检测系统微波传输系统微波源系统捕获系统光谱分析光谱检测光纤导入进样系统打孔便携性近距离开放端内导体探头捕获光纤传输

[发明专利]光谱分析方法、装置、终端设备及介质-CN202211409528.5有效
发明人：石壮威;王晨卉;毕海 -专利权人：季华实验室
申请日： 2022-11-11 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： G01N21/25 文献下载
摘要：本发明公开了一种光谱分析方法、装置、终端设备及介质，该方法包括：获取待分析样本的光谱数据，并根据所述光谱数据构建对应的邻接矩阵；基于所述邻接矩阵，对所述光谱数据的批次误差进行移除；对移除批次误差的光谱数据进行集成学习得到对应的光谱分析结果本发明能够提升对样品进行光谱分析时的准确性。
光谱分析方法装置终端设备介质

[发明专利]光谱分析装置和终端设备以及成像方法-CN202111592099.5在审
发明人：黄乾友;范策;李情情;黄志雷;王宇 -专利权人：北京与光科技有限公司
申请日： 2021-12-23 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本发明提供一光谱分析装置和带有光谱分析装置的终端设备以及工作方法，其中所述光谱分析装置包括一光谱芯片，一光学系统以及至少一数据处理单元，其中所述光学系统位于所述光谱芯片的光学路径，其中所述光谱芯片与所述至少一数据处理单元电气地连接，且所述光谱芯片设有多个透射谱矩阵，其中所述光学系统具有可变焦距，以供通过调整所述光学系统的焦距，由所述光学系统调制入射所述光谱芯片的入射光，并由所述数据处理单元基于所述光谱芯片对应的特定透射谱矩阵计算出所述入射光对应的光谱信息
光谱分析装置终端设备以及成像方法

[实用新型]一种制作光谱分析样品的模具-CN201120024004.5有效
发明人：陈胜;徐金华;陈爽;马鑫;刘剑波 -专利权人：东莞市亿铖达焊锡制造有限公司
申请日： 2011-01-25 - 公布日： 2011-09-07 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种制作光谱分析样品的模具，包括底板、转轴、左半模和右半模；转轴垂直设置在底板上；左半模和右半模的同一端铰接在转轴上；其中：左半模和右半模的型腔中相应设置有凹入的台阶；台阶的位置位于各自型腔侧壁的上部由于采用了台阶式的型腔结构，不仅改变了光谱分析样品取样面上分析点的位置，使之更具有代表性和较高的重现性；而且也改变了光谱分析样品的热应力分布，由此改善了分析点处的径向偏析和纵向偏析性能；改善了光谱分析样品的取样性能，提高了材料光谱分析的准确性；对高含量元素存在的严重偏析也有所改善，有助于光谱分析向高含量分析领域的拓展。
一种制作光谱分析样品模具

[发明专利]一种光谱分析系统及方法-CN202311019587.6在审
发明人：陈辉 -专利权人：成都源谱医疗科技有限公司
申请日： 2023-08-14 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01N21/25 文献下载
摘要：本发明公开一种光谱分析系统，包括若干个不同波长的led的Led阵列，用于装载样品的样品池，用于将Led发出的光在横向和纵向进行准直后照射样品的非球面透镜，用于接收来自样品的光线的光电探测器；Led阵列和/或样品池配置有运动机构，用于实现Led阵列和样品池之间的相对运动；与光电探测器电连接的控制单元，运动机构受控于控制单元，Led受控于控制单元，控制单元固化有数据处理模块，数据处理模块用于光谱分析。本发明还公开了适用于该种光谱分析系统的光谱分析方法。本发明采用LED阵列扫描实现对光谱信号的采集，进而实现物质成分和浓度的光谱检测；成本低、操作便捷，适合在消费市场普及应用。
一种光谱分析系统方法

[发明专利]一种电厂废水零排放系统-CN202310147050.1在审
发明人：张华;杨旭 -专利权人：济南森华工程技术有限公司
申请日： 2023-02-20 - 公布日： 2023-06-02 - 主分类号： C02F1/00 文献下载
摘要：本发明属于废水处理技术领域，具体涉及一种电厂废水零排放系统。所述系统包括：废水分析单元，配置用于对废水进行立体光谱分析，得到废水的立体光谱图，然后对立体光谱图基于多方向立体图像分析模型进行多方向立体图像分析，得到多个立体图像特征系数，将每个立体图像系数与设定的多个值域进行比较分析其利用对废水中各个成分进行光谱分析，然后对这些光谱进行立体光谱分析，得到每一种成分的占比，然后根据占比来调整废水处理系统中各个单元的运行时间，以此实现废水处理的精细化，同时提升了废水处理的质量。
一种电厂废水排放系统

[发明专利]波长可调谐激光器的自动化测试控制系统及方法-CN200510048295.0无效
发明人：王路;赵玲娟;张靖;俞涛;王鲁峰;王圩 -专利权人：中国科学院半导体研究所
申请日： 2005-12-31 - 公布日： 2007-07-11 - 主分类号： G01J3/00 文献下载
摘要：本发明涉及激光器技术领域，特别是一种波长可调谐激光器的自动化测试控制系统及方法。该系统，由计算机、通用接口总线(GPIB)板卡及数据线、光谱分析仪、程控可控电流源、直流电源、温度控制仪、热电致冷器、激光器、透镜和光纤组成，GPIB板卡连接于光谱分析仪和程控可控电流源，温度控制仪连接于热电致冷器，热电致冷器连接于激光器，光信号通过透镜和光纤传送到光谱分析仪，上述过程是用GPIB总线将计算机、程控电流源、光谱分析仪连接起来实现命令和数据的传输。
波长调谐激光器自动化测试控制系统方法

[实用新型]一种装有直接测厚装置的磷化铟圆片磨削设备-CN201721243773.8有效
发明人：雷冬;李朋朋;宋舒婷;彭罗汉 -专利权人：武汉光谷量子技术有限公司
申请日： 2017-09-26 - 公布日： 2018-05-01 - 主分类号： H01L21/67 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种装有直接测厚装置的磷化铟圆片磨削设备，涉及磨削设备技术领域，包括砂轮，砂轮表面设有一容置空间；红外光收发装置，红外光收发装置设于容置空间中；红外光收发装置用于发射和接收红外光；红外光谱分析仪，红外光谱分析仪连接红外光收发装置；红外光谱分析仪用于分析红外光收发装置接收的红外光的光谱强度；计算机，计算机连接红外光谱分析仪，计算机用于根据红外光谱分析仪的分析结果计算磷化铟圆片的厚度，实现在磨削过程中直接
一种装有直接装置磷化铟圆片磨削设备

[发明专利]一种荧光、拉曼、激光诱导原子发射光谱联用系统-CN201410067077.0无效
发明人：陈斌;徐晓轩;陆道礼;王斌 -专利权人：江苏大学
申请日： 2014-02-27 - 公布日： 2014-05-28 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明公开了一种荧光、拉曼、激光诱导原子发射光谱联用系统，包括光源模块、光路模块和检测模块(3)，通过将荧光、拉曼、激光诱导原子发射光谱分析集成于同一系统中，可以根据不同检测需求切换相应的检测模式，实现拉曼、荧光、激光诱导原子发射光谱分析在同一仪器平台中联用。本发明大大降低光谱分析检测中对仪器平台的需求，为检测物质的荧光、拉曼、激光诱导原子发射光谱信号提供了便利，可应用于对复杂物质成分检测分析。
一种荧光激光诱导原子发射光谱联用系统

[发明专利]定量光谱的频率配准偏差的确定和校正-CN201680045262.7有效
发明人：刘翔;加里·耶赫;亚当·S·沙伊莫夫蒂斯;威廉·延科;阿尔弗雷德·菲提施 -专利权人：光谱传感器公司
申请日： 2016-08-03 - 公布日： 2021-04-06 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：当样本流体的光谱分析系统偏离标准校准状态时，对该光谱分析系统在分析期间收集的现场频谱量化频率配准偏差。使用至少一种光谱偏移技术基于频率配准偏差来校正现场频谱，并且使用经校正的现场频谱计算由现场频谱表示的至少一种分析物浓度。描述了相关的系统、方法和物品。
定量光谱频率偏差确定校正

[发明专利]光谱分析方法、装置及可读存储介质-CN202011319624.1在审
发明人：何骥鸣 -专利权人：中移物联网有限公司;中国移动通信集团有限公司
申请日： 2020-11-23 - 公布日： 2022-05-24 - 主分类号： G16C20/70 文献下载
摘要：本发明提供了一种光谱分析方法、装置及可读存储介质，涉及光谱分析技术领域，该光谱分析方法包括：接收电子设备发送的检测对象的光谱；根据预先存储的属性配置信息和光谱分析模型，对所述光谱进行分析，以确定所述检测对象的属性分析结果，其中，所述属性配置信息是针对不同检测对象使用相同的配置格式配置而成的信息，用于供所述光谱分析模型调用；将所述属性分析结果反馈至所述电子设备。这样，在需要新增或者更新检测对象的属性分析方法时，只需要在云端服务器中的属性配置信息中进行相应的新增或者更新即可，无需单独对编写好的分析方法的代码进行调整，从而简化了代码开发工作，同时有利于对检测对象的扩展
光谱分析方法装置可读存储介质