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[发明专利]光源模块-CN202010101463.2有效
发明人：小尼古拉斯·J·克鲁利奥;彼得·斯科特;道格拉斯·H·拜尔;凯文·卢德卢姆;凯斯·赫尔布莱;彼得·大卫 -专利权人： 光谱传感器公司
申请日： 2020-02-19 - 公布日： 2023-05-26 - 主分类号： G01J3/10 文献下载
摘要：本发明涉及一种光源模块，可以包括基座，该基座具有支撑特征，该支撑特征从基座的表面突出，并固着光源以将辐射引导远离所述表面。透镜单元可以——可选地通过固着在套筒内——附接在该表面附近，该套筒在一个端部处附接到该表面。多导体部件可以包括电导体和接触基座的基座温度传感器。基座温度传感器可以电连接到多个导电元件中的至少一个，并且进一步连接到光学点火安全保护系统，该光学点火安全保护系统被配置成如果基座温度传感器指示光源的温度在安全范围之外则中断到光源的电流。
光源模块

[发明专利]用于外推校准光谱的系统和计算机实施的方法-CN202110372939.0在审
发明人：凯文·卢德卢姆;马克·温特;本杰明·谢勒;刘翔 -专利权人： 光谱传感器公司
申请日： 2021-04-07 - 公布日： 2021-10-12 - 主分类号： G06F30/27 文献下载
摘要：本申请涉及用于外推校准光谱的系统和计算机实施的方法。本公开涉及一种用于预测校准光谱的计算机实施的方法，该方法包括提供使用与在不同压力下的不同气体种类相对应的历史校准数据训练的机器学习模型的步骤。该计算机实施的方法还包括以下步骤：使用分析仪对在一种压力下的一个气体种类执行校准扫描，并且使用机器学习模型和校准扫描为分析仪生成与在多种压力下的一个或多个气体种类相对应的校准曲线。此后，使用分析仪获得光谱，并且使用该光谱和至少一条校准曲线生成浓度测量。
用于校准光谱系统计算机实施方法

[发明专利]具有复杂背景成分的样品气体中的目标分析物检测和量化-CN201580061417.1有效
发明人：刘翔;阿尔弗雷德·菲提施;基斯·本杰明·赫尔布莱;詹姆斯·特德斯柯 -专利权人： 光谱传感器公司
申请日： 2015-11-11 - 公布日： 2021-10-08 - 主分类号： G01N21/3504 文献下载
摘要：表示样本气体的实际背景成分的背景成分浓度数据被用来将针对气体样本获得的吸收光谱法测量数据建模，并且基于该建模来校正吸收光谱法数据的分析(例如对结构性干扰和碰撞展宽)。
具有复杂背景成分样品气体中的目标分析检测量化

[发明专利]本质安全的光谱分析仪-CN201680014716.4有效
发明人：基斯·本杰明·赫尔布莱;于尔根·德塞克;哈拉尔德·米勒;尼古拉·芬克;威廉·布瓦莱;彼得·多恩;保罗·西尔瓦 -专利权人： 光谱传感器公司
申请日： 2016-03-09 - 公布日： 2021-08-03 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：一种激光光谱仪能够操作以分析存在于可燃气体混合物中的一种或多种分析物。所述光谱仪能够包括使得能够进行本质安全操作的一个或多个特征。即，在所述光谱仪的可能存在爆炸性气体混合物的危险区域内，能够限制电气、电子和、热/或光学能量源。
本质安全光谱分析

[发明专利]具有可变光束功率和形状的光谱仪-CN201580044578.X有效
发明人：阿尔弗雷德·菲提施;刘翔;张志铉;黄旭弘 -专利权人： 光谱传感器公司
申请日： 2015-07-09 - 公布日： 2021-06-08 - 主分类号： G01J3/42 文献下载
摘要：至少一个光源被配置成向吸收介质的样品体积中发射光束。另外，至少一个检测器被定位以检测由至少一个光源发射的至少部分光束。此外，至少一个光束调整元件被定位在所述至少一个检测器和所述至少一个光源之间，以选择性地改变由至少一个检测器检测到的、由至少一个光源发射的所述光束的(i)功率强度，或者(ii)形状中的至少一个。控制电路被耦合至所述光束调整元件。描述了相关装置方法、生产的物品、系统等等。
具有可变光束功率形状光谱仪

[发明专利]定量光谱的频率配准偏差的确定和校正-CN201680045262.7有效
发明人：刘翔;加里·耶赫;亚当·S·沙伊莫夫蒂斯;威廉·延科;阿尔弗雷德·菲提施 -专利权人： 光谱传感器公司
申请日： 2016-08-03 - 公布日： 2021-04-06 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：当样本流体的光谱分析系统偏离标准校准状态时，对该光谱分析系统在分析期间收集的现场频谱量化频率配准偏差。使用至少一种光谱偏移技术基于频率配准偏差来校正现场频谱，并且使用经校正的现场频谱计算由现场频谱表示的至少一种分析物浓度。描述了相关的系统、方法和物品。
定量光谱频率偏差确定校正

[发明专利]用于光束转向的设备、方法和计算机可读存储介质-CN201580044615.7有效
发明人：阿尔弗雷德·菲提施;刘翔;基斯·本杰明·赫尔布莱;道格拉斯·拜尔 -专利权人： 光谱传感器公司
申请日： 2015-07-09 - 公布日： 2021-03-12 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：一种光谱仪，包括向包含吸收介质的样品体积内发射光束的光源。之后，至少一个检测器检测所述光源发射的光束的至少一部分。之后基于所述检测的光束的至少一部分并且由控制器确定所述光束的位置和/或角度应被改变。然后，光源发射的光束由致动元件在所述控制器的控制下被有效地转向。另外，所述吸收介质的浓度能够被量化或者以其它方式计算(使用本地或远程的控制器或者可选的不同处理器)。致动元件能够被耦合至所述光源、检测器以及位于所述光源和检测器之间的反射器中的一个或多个。
用于光束转向设备方法计算机可读存储介质

[发明专利]具有宽扫描可调谐二极管激光器的光谱仪-CN202010644643.5在审
发明人：刘翔;阿尔弗雷德·菲提施;加里·耶赫;张志铉 -专利权人： 光谱传感器公司
申请日： 2020-07-07 - 公布日： 2021-01-15 - 主分类号： G01N21/39 文献下载
摘要：本发明涉及具有宽扫描可调谐二极管激光器的光谱仪。提供了一种通过激光光谱仪实现的方法。该方法包括通过调整由激光光源发射并穿过样品气体的光束的波长，由控制单元使用第一组激光光谱仪操作参数进行第一波长范围的第一扫描。第一波长范围包含与第一成分相对应的第一光谱特征。该方法还包括通过调整从激光光源发射并穿过样品气体的光的波长，由控制单元使用第二组激光光谱仪操作参数进行第二波长范围的至少一个第二扫描。第二波长范围具有对应于至少一个第二成分的第二光谱特征。控制单元还确定第一成分的第一浓度和至少一个第二成分的第二浓度。
具有扫描调谐二极管激光器光谱仪

[发明专利]用于定量光谱的频率配准偏差的重构-CN201680045279.2有效
发明人：阿尔弗雷德·菲提施;刘翔;凯文·卢德卢姆;马蒂亚斯·施里姆佩尔 -专利权人： 光谱传感器公司
申请日： 2016-08-03 - 公布日： 2020-11-10 - 主分类号： G01J3/10 文献下载
摘要：在由光谱分析系统进行的频率或波长范围扫描期间发生的频率配准偏差可以使用被动和/或主动方法来校正。被动的方法可以包括确定数学转换并将其应用于记录的现场光谱。主动方法可以包括修改光谱分析系统的一个或多个操作参数以减小频率配准偏差。
用于定量光谱频率偏差

[发明专利]体积减小的光谱样品池-CN201480061002.X有效
发明人：彼得·斯科特;阿尔弗雷德·菲提施;彼得·多恩;亚当·S·谢伊姆维茨;黄旭弘;马蒂亚斯·施里姆佩尔;卢茨·凯勒 -专利权人： 光谱传感器公司
申请日： 2014-11-06 - 公布日： 2019-10-29 - 主分类号： G01N21/03 文献下载
摘要：样品池(100)能够被设计成最小化过量气体体积。所描述的特征能够在减小在光谱测量期间流经所述样品池所需的气体量，以及缩短在取样事件之间冲刷所述池(100)所需的时间(例如，总气体体积)方面是有利的。在一些示例中，接触所含气体的所述样品池的内表面(202)的轮廓能够被成形、定尺度等等，以便在一个或者更多位置处在所述内表面(202)之间设置最大间隙距离(120)。还描述了系统、方法和设备等等。
体积减小光谱样品

[发明专利]用于分光计气体池的光学反射器-CN201380065067.7有效
发明人：卢茨·凯勒;阿尔弗雷德·菲提施;彼得·斯科特;马蒂亚斯·施里姆佩尔;内森·圣约翰 -专利权人： 光谱传感器公司
申请日： 2013-12-12 - 公布日： 2018-10-26 - 主分类号： G01N21/03 文献下载
摘要：一种分光计池可包括间隔件、至少一个端盖以及具有反射表面的至少一个镜。端盖可被定位成接近间隔件的第一接触端以使得端盖和间隔件至少部分地封闭分光计池的内容积。镜可通过机械附接而被紧固在适当位置，所述机械附接可包括对于至少一种反应气体化合物呈化学惰性的附接材料，在高于至少120℃的温度下是热稳定的，且能够将反射表面的光轴相对于分光计池和或包括分光计池的分光计装置的其它组件保持在固定取向上。镜可选地由例如不锈钢、铜、铝、硅酸铝盐、陶瓷等材料构造而成。描述了相关方法、制品、系统等。
用于分光计气体光学反射

[发明专利]分光计光学头组件-CN201680050759.8在审
发明人：乔舒亚·科恩;内森·圣约翰;阿尔弗雷德·菲提施 -专利权人： 光谱传感器公司
申请日： 2016-08-31 - 公布日： 2018-06-08 - 主分类号： G01J3/02 文献下载
摘要：提供了一种在分光计中使用的光学头组件(160)，所述分光计被配置成表征样品气体内的一种或多种成分。所述组件包括：热电冷却器(TEC)(310)，所述TEC在一端具有冷侧面并在相对端具有热侧面；冷板(315)，所述冷板与所述TEC的所述冷侧面热连通；热块(305)，所述热块与所述TEC的所述热侧面热连通；光源(105)，所述光源与所述冷板热连通，使得所述TEC的温度的变化使所述光源的一个或多个特性(例如，波长等)改变；以及光学元件(325)，所述光学元件与所述冷板热连通，被定位成使由所述光源发射的通过所述样品气体的光准直(使得所述光学元件的特性基于所述TEC的温度的变化而变化)。
热连通冷板光学元件分光计光源侧面光学头组件热块热电冷却器表征样品光源发射样品气体组件包括光准直相对端波长配置

[发明专利]在光谱分析仪中使用实时或近实时验证的碰撞展宽补偿-CN201380015938.4有效
发明人：阿尔弗雷德·菲提施;刘翔;黄旭弘;季文海;理查德·L·克莱因 -专利权人： 光谱传感器公司
申请日： 2013-03-21 - 公布日： 2017-05-31 - 主分类号： G01N21/3504 文献下载
摘要：验证检验数据可被收集或者接收，该验证检验数据量化在光跨越已知路径长度穿过验证气体之后从光谱仪的光源到达光谱仪的检测器的光的强度。所述验证气体能够包括一定数量的分析物化合物和无扰动背景组分，该无扰动背景组分表示使用光谱仪待分析的样品气体的样品气体背景组分。所述样品气体背景组分可包括一个或多个背景成分。所述验证检验数据可被与存储的所述光谱仪的校准数据相比较以使得计算浓度调整因子，并且可使用这个调整因子来修改用所述光谱仪收集的样品测量数据以利用所述背景成分补偿所述分析物化合物的光谱峰值的碰撞展宽。描述了相关的方法、制品、系统等。
光谱分析使用实时验证碰撞展宽补偿

[发明专利]半导体激光器的无焊安装-CN201380055599.2在审
发明人：阿尔弗雷德·菲提施;加比·纽鲍尔;马蒂亚斯·施里姆佩尔 -专利权人： 光谱传感器公司
申请日： 2013-10-23 - 公布日： 2015-07-01 - 主分类号： H01S5/022 文献下载
摘要：能够将半导体激光器芯片(302)的第一接触表面(310)形成至第一目标表面粗糙度且将负载基座(304)的第二接触表面(312)形成至第二目标表面粗糙度。能够任选地将包含第一金属的第一结合准备层(306)施加至形成的第一接触表面，且能够任选地将包含第二金属的第二结合准备层(308)施加至形成的第二接触表面。准备层两者可以由金制成，且因在压力下加热装置而产生扩散结合。能够将第一接触表面与第二接触表面接触，且无焊固定处理能够将半导体激光器芯片固定至负载基座。还对相关的系统、方法、制品等进行了说明。
半导体激光器安装

[发明专利]安装有完整扩散阻挡层的半导体激光器-CN201280040057.3在审
发明人：马蒂亚斯·施里姆佩尔;阿尔弗雷德·菲提施;加比·纽鲍尔 -专利权人： 光谱传感器公司
申请日： 2012-08-14 - 公布日： 2014-05-07 - 主分类号： H01S5/022 文献下载
摘要：半导体激光器芯片（302）的第一接触（310）表面被形成为具有一表面粗糙度，所述表面粗糙度被选择为具有比扩散阻挡层厚度充分小的最大峰-谷高度。可以将包括非金属导电化合物且具有所述阻挡层厚度的扩散阻挡层施加到第一接触表面，并且通过将焊料组合物加热到比一阈值温度低的温度，利用焊料组合物（306）沿着第一接触表面将半导体激光器芯片焊接到承载底座（304），在所述阈值温度，发生所述阻挡层溶解到焊料组合物中。从而扩散阻挡层保持连续。该非金属导电化合物包括氮化钛、氧氮化钛、氮化钨、氧化铈和氧氮化铈钆中的至少一种。
装有完整扩散阻挡半导体激光器

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