专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种用于近场光学探测的介质探针及近场显微镜-CN202110566157.0在审
  • 刘愈;周围;陈国平;崔巍;谢应涛;毛雪峰;杜佳佳;黎淼 - 重庆邮电大学
  • 2021-05-24 - 2022-01-14 - G01N21/65
  • 本发明公开了一种用于近场光学探测的介质探针及近场显微镜。探针包括采用微米级导介质制备的探针柱,所述探针柱的一端为半球形,在半球形的顶部设置金属纳米颗粒或金属纳米颗粒阵列。用微米级光纤作为导介质,将一端制备为半球形作为探针基座,再将金属纳米颗粒制备到探针柱顶端作为局域增强电场的产生点“热点”,热点位置可以在纳米尺度的空间范围内产生极强的电场增强。导介质可以作为入射激发光的有效导,也可以作为散射和反射的有效收集导。得益于近场激发和收集的同时增强,由这种探针构建的近场显微镜,其光谱扫描的综合效率较远场收集的针尖增强拉曼光谱设备至少提高2个数量级。
  • 一种用于近场光学探测介质探针显微镜
  • [发明专利]检查用连接装置及检查用连接装置的组装方法-CN202110881944.4在审
  • 佐藤实 - 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
  • 2021-08-02 - 2022-02-18 - G01R31/26
  • 本发明提供探针的更换和定位容易的检查用连接装置及其组装方法。检查用连接装置包括:探针(100);以及探针头(1),其具有多个引导板,在该多个引导板分别形成有供探针(100)贯穿的贯通孔,且该多个引导板沿着贯通孔的中心轴线方向互相分离地配置。探针头(1)具有:第1引导板(21);以及第2引导板(22),其设置为,在探针(100)贯穿了贯通孔的状态下,沿着贯通孔的半径方向相对于第1引导板(21)相对地移动自如。探针头(1)在第1引导板(21)的贯通孔的中心轴线的位置和第2引导板(22)的贯通孔的中心轴线的位置沿着半径方向错开的状态下,利用第1引导板(21)和第2引导板(22)各自的贯通孔的内壁面夹持探针(100
  • 检查连接装置组装方法
  • [发明专利]一种基于加权探针的叠层衍射位置校正方法-CN202310532396.3在审
  • 谷洪刚;钟磊;刘世元;刘力 - 华中科技大学
  • 2023-05-11 - 2023-09-05 - G01N21/47
  • 本发明提供了一种基于加权探针的叠层衍射位置校正方法,属于相干衍射成像领域,该方法为:采集衍射场强度信息,同时初始化照明探针和待测样品的信息函数以及探针位置;获得出口波并导入传播模型获得模拟衍射场,替换衍射场强度信息进而获得更新衍射场;将更新衍射场导入逆向传播模型并获得衍射出口波,进而更新各个扫描位置待测样品和照明探针的信息函数;在探针位置周围形成探针矩阵,计算相关性后更新探针位置,重复上述步骤以进行迭代,直至完成预设次数迭代或达到预设条件
  • 一种基于加权探针衍射位置校正方法
  • [实用新型]一种伏组件绝缘耐压自动测试装置和测试系统-CN202020904194.9有效
  • 贾现宁;周江泽;王盼 - 义乌晶澳太阳能科技有限公司
  • 2020-05-26 - 2020-12-29 - H01L21/66
  • 本实用新型公开了一种伏组件绝缘耐压自动测试装置和测试系统,所述测试装置包括:测试架、及设置在所述测试架上的绝缘耐压测试仪、测试工装接触探针顶升装置、测试工装接触探针、归正装置、阻挡装置、边框接触探针顶升装置、边框接触探针;所述测试工装接触探针顶升装置连接所述测试工装接触探针,带动测试工装接触探针与测试工装接触,所述边框接触探针顶升装置连接边框接触探针,带动边框接触探针与边框接触,所述测试工装接触探针与所述边框接触探针分别与绝缘耐压测试仪连接所述伏组件绝缘耐压自动测试装置和测试系统能够自动完成对光伏组件的绝缘、耐压和电阻测试,提高伏组件的生产加工效率,提高了测试的安全性。
  • 一种组件绝缘耐压自动测试装置系统
  • [发明专利]一种基于声定量检测设备的单核苷酸突变检测方法-CN202210218083.6在审
  • 田博;肖嘉莹;袁楚琪;彭宽 - 中南大学
  • 2022-03-08 - 2022-05-06 - C12Q1/6858
  • 本发明提供一种基于声定量检测设备的单核苷酸突变检测方法。所述基于声定量检测设备的单核苷酸突变检测方法包括:核酸扩增检测策略、声传感定量策略及设备搭建;所述核酸扩增检测策略包括挂锁探针,二级引物和检测探针的DNA序列,并将所述检测探针DNA修饰至纳米金粒子表面,形成特异性纳米金探针,且通过核酸连接酶连接挂锁探针,触发分支滚环扩增,所述分支滚环扩增的产物将引起纳米金探针的聚集,从而产生光声信号;所述声传感定量是一种基于声效应的无损检测技术。本发明提供的基于声定量检测设备的单核苷酸突变检测方法具有高灵敏、可重复、廉价,检测过程中的信号抗干扰能力强的优点。
  • 一种基于定量检测设备核苷酸突变方法
  • [发明专利]一种芯片测试探针及芯片测试装置-CN202210537148.3在审
  • 罗跃浩;黄建军;胡海洋 - 苏州联讯仪器有限公司
  • 2022-05-18 - 2022-06-21 - G01R1/073
  • 本发明提供了一种芯片测试探针及芯片测试装置,属于芯片测试技术领域。该芯片测试探针包括:测试探针本体,用于在其测试端部与待测芯片接触时探测所述待测芯片上的电信号;和导部,由高纯度的二氧化硅制成,用于传导信号,所述导部设置于所述测试探针本体的周侧表面或所述测试探针本体的内部,所述导部的一端用于与所述待测芯片相对设置、另一端用于与红外测温装置相连,以便所述红外测温装置根据接收到的所述待测芯片发出并通过所述导部传导的信号计算所述待测芯片的温度。本发明的芯片测试探针和芯片测试装置能够提高芯片温度的测量准确性。
  • 一种芯片测试探针装置
  • [发明专利]基于偏振态检测的温度自补偿双光纤耦合球微尺度传感器-CN201410118360.1有效
  • 崔继文;李俊英;谭久彬 - 哈尔滨工业大学
  • 2014-03-20 - 2017-05-17 - G01B11/00
  • 一种基于偏振态检测的温度自补偿双光纤耦合球微尺度传感器属于精密仪器制造及测量技术;传感器包括偏振发生装置、半透半反棱镜、波片、测量探针、偏振态检测装置、温度补偿装置、计算机,其中偏振发生装置、半透半反棱镜、波片、测量探针依次排列,偏振发生装置的出射光光轴与测量探针的入射光光轴重合,偏振态检测装置A位于测量探针的出射经半透半反棱镜后的反射路光轴A上,偏振态检测装置B位于参考探针的出射经反射镜B反射后的反射路光轴B上,当偏振态检测装置A检测到的光束的偏振态相对于偏振态检测装置B检测到的偏振态的差值发生变化时,测量探针与待测微孔发生触测;本传感器具有温度补偿功能、精度高、速度快。
  • 基于偏振检测温度补偿光纤耦合尺度传感器
  • [实用新型]一种全自动LED分光机的检测机构-CN201921313240.1有效
  • 邓朝旭 - 深圳市朝阳光科技有限公司
  • 2019-08-13 - 2020-05-15 - G01M11/02
  • 本实用新型涉及一种全自动LED分光机的检测机构,包括底座、支撑座、伺服电机、凸轮、第一导轨、轴承座、上轴承、下轴承、拉簧、拉簧座、支撑杆、X‑Y燕尾滑台、滑台上固定座、滑台下固定座、第二导轨、导轨安装座、探针连接座、探针固定座、探针组件、耦和耦感应片。采用从上向下接触LED产品进行测试,伺服电机为驱动部件,带动凸轮旋转,凸轮依次推动轴承座、拉簧座、探针连接座、探针固定座和探针组件升降,使探针组件与LED产品接触或分开,实现检测功能;所述X‑Y燕尾滑台实现探针组件在水平面内的微调,对位更精准,测试结果更准确,定位工序少,测试效率高,耦感应片置于耦中间,可监测检测机构的运行状态,稳定性好。
  • 一种全自动led分光检测机构

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