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[发明专利]检查用连接装置-CN202080032342.5有效
发明人：佐藤实 -专利权人： 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
申请日： 2020-04-03 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：检查用连接装置包括：探针头(30)，该探针头(30)以电连接件(10)的顶端部和光连接件(20)的顶端部分别在该探针头(30)的下表面暴露的状态保持该电连接件(10)和光连接件(20)；以及转换器(40)，在该转换器(40)的内部配置有连接布线(41)并且贯穿有光布线(42)。电连接件(10)的基端部和光连接件(20)的基端部分别在探针头(30)的上表面暴露，与电连接件(10)的基端部电连接的连接布线(41)的一侧的端部和与光连接件(20)的基端部光学连接的光布线(42)的连接端配置于转换器(40)的下表面。探针头(30)的下表面处的电连接件(10)的顶端部和光连接件(20)的顶端部的位置关系与半导体元件的电信号端子和光信号端子的位置关系相对应。
检查连接装置

[发明专利]布线基板的设计辅助装置、导孔配置方法以及记录介质-CN201910744180.7有效
发明人：三国胜志;八木泽隆一;山口昭嗣 -专利权人： 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
申请日： 2019-08-13 - 公布日： 2023-09-08 - 主分类号： G06F30/392 文献下载
摘要：本发明的布线基板的设计辅助装置、导孔配置方法以及记录介质能以良好的作业效率性、在不扩大导孔配置区域的情况下以纵向及横向上均无偏倚的方式提高布线收容性。该布线基板设计辅助装置在布线基板上配置多个导孔，其的特征在于，具备：设计信息存储单元，其存储与要配置到布线基板上的导孔及布线相关的设计信息；以及布线基板导孔配置单元，其根据设计信息使将纵横的间隔设成等间隔的格子点的位置在纵向及横向上移动规定移动量程度，针对该格子的每一行而交替改变格子点的横向的移动方向并针对该格子的每一列而交替改变格子点的纵向的移动方向，并在移动后的格子点的位置配置导孔。
布线设计辅助装置配置方法以及记录介质

[发明专利]电连接装置-CN202210178066.4在审
发明人：郭顺宝;小笠原崇 -专利权人： 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
申请日： 2022-02-25 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明提供一种能够抑制导电线中的信号干扰的电连接装置。电连接装置具有探针、保持探针的保持部、配置于保持部的第2方向侧的面的安装板、设于安装板的第2方向侧的面的印刷基板、第1导电线以及第2导电线。保持部具有与探针中的一个探针电连接的第1连接部、以及电连接于与连接于第1连接部的探针不同的探针中的一个探针的第2连接部。印刷基板具有形成于第1方向侧的面的第1布线图案、以及形成于第2方向侧的面的第2布线图案。第1导电线沿着安装板的第1方向侧的面延伸，将第1连接部与第1布线图案连接起来。第2导电线越过安装板的第2方向侧的面而延伸，将第2连接部与第2布线图案连接起来。
连接装置

[发明专利]光探针、光探针阵列、检查系统以及检查方法-CN202011055158.0有效
发明人：奥田通孝;齐藤祐贵;竹谷敏永;原子翔;福士树希也;佐藤实;成田寿男 -专利权人： 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
申请日： 2020-09-29 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： G02B6/26 文献下载
摘要：本发明提供一种光探针、光探针阵列、检查系统以及检查方法，能够抑制光半导体元件的检查时间的增加。光探针(10)接收从被检查体(200)输出的光信号(L)。光探针(10)具有由芯部(111)和配置于芯部(111)的外周的包层部(112)构成的光波导(11)，光波导(11)的射入光信号(L)的入射面(100)为曲率半径(R)固定的凸球面。
探针阵列检查系统以及方法

[发明专利]检查用连接装置-CN202080028197.3有效
发明人：佐藤实 -专利权人： 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
申请日： 2020-04-03 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：检查用连接装置包括：探针头(30)，该探针头(30)以电连接件(10)的顶端部和光连接件(20)的顶端部分别在该探针头(30)的下表面暴露的状态保持该电连接件(10)和光连接件(20)，电连接件(10)的基端部在该探针头(30)的上表面暴露，且光连接件(20)固定于该探针头(30)；以及转换器(40)，在该转换器(40)的内部配置有连接布线(41)，与电连接件(10)的在探针头(30)的上表面暴露的基端部电连接的连接布线(41)的一侧的端部配置于该转换器(40)的下表面，且光连接件(20)滑动自如地贯穿该转换器(40)。探针头(30)的下表面处的电连接件(10)的顶端部和光连接件(20)的顶端部的位置关系与半导体元件的电信号端子和光信号端子的位置关系相对应。光连接件(20)连续地贯穿探针头(30)和转换器(40)。
检查连接装置

[发明专利]电连接装置和电连接装置的制造方法-CN202180080967.3在审
发明人：成田聪 -专利权人： 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
申请日： 2021-12-03 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：电连接装置具备：第1引导板，其具有供探针贯通的第1引导孔；第2引导板，其具有供探针贯通的第2引导孔；以及导入薄膜，其配置于第1引导板与第2引导板之间，具有供探针贯通的导入引导孔。导入薄膜由通过不会溶解第1引导板、第2引导板以及探针的特定的溶剂溶解的材料构成。
连接装置制造方法

[发明专利]电连接装置-CN202211511041.8在审
发明人：久我智昭 -专利权人： 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
申请日： 2022-11-29 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明提供一种能够抑制被检查体的电极端子与电路图案的接触不良的电连接装置。电连接装置具备刚体的绝缘性的支承基板和刚体的导电性的电路图案。支承基板具有彼此相对的第1主面和第2主面、以及分别从第1主面朝向第2主面的彼此相对的第1侧面和第2侧面。电路图案配置于第1主面。电路图案从第1主面与第1侧面相连接的支承基板的第1边朝向第1主面与第2侧面相连接的支承基板的第2边延伸。
连接装置

[发明专利]探针卡-CN202010216400.1有效
发明人：水谷正吾 -专利权人： 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
申请日： 2020-03-25 - 公布日： 2023-05-02 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：能够跟随被检查体的热膨胀或热收缩来容易地确保各电触头的边缘裕度，提高测定精度，并且能够降低电路基板的翘曲以防止接触部的位置偏移。本发明的探针卡具备：电路形成基板，其具有与布线电路连接的多个基板电极；多个电触头，它们具有使被检查体的电极端子与所述基板电极之间电导通的通电部、和弹性地支承通电部的由合成树脂材料形成的基部；以及触头固定基板，其在与电路形成基板的各基板电极的位置对应的位置具有多个导通部，在一个表面上固定各电触头的基部而设置各电触头，使另一个表面与电路形成基板相对而设置。
探针

[发明专利]电连接装置-CN202211174166.6在审
发明人：成田聪;中村海斗;佐藤祐树 -专利权人： 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
申请日： 2022-09-26 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明提供一种在由多个接触件构成的接触件群的顶端与被检查体的电极接触时能吸收各接触件上产生的压力的大小的差异、从而能抑制探针的破损等的电连接装置。本发明为一种电连接装置，其将检查装置与接触被检查体的电极的多个接触件之间电连接，其特征在于，具备：基板构件；以及多个接触件，它们设置在基板构件的一端部侧，接触被检查体的所述电极，基板构件具有压力差抑制部，该压力差抑制部抑制对被检查体的电极的接触带来的接触件间的压力差。
连接装置

[发明专利]检查装置、位置调整单元及位置调整方法-CN202210722105.2在审
发明人：成田聪;白户顺 -专利权人： 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
申请日： 2022-06-24 - 公布日： 2023-01-03 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：不是依靠操作者的感觉的操作方法，而能够高精度地调整探针相对于电极焊盘的初始对位。本发明的检查装置是使用与被检查体的电极电接触的触头，检查被检查体的电特性，该检查装置具备：位置调整单元，其具有触头、调整触头的顶端位置的位置调整部、检测触头与电极的接触载荷值的载荷检测部；位置导出部，其基于在特定方向上的触头的接触位移量与触头及电极的接触载荷值的关系，导出在特定方向上的触头的初始位置；以及移动执行部，其基于由位置导出部导出的、特定方向上的初始位置，使触头的顶端位置移动。
检查装置位置调整单元方法

[发明专利]探针单元-CN202210620068.4在审
发明人：成田聪;原子翔;福士树希也 -专利权人： 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
申请日： 2022-06-02 - 公布日： 2022-12-06 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种探针单元，即便触头对高频电路的接合位置发生偏移也能使触头的自由长度固定，从而能稳定地接触电极，提高测定品质。本发明的探针单元具备：同轴连接器，其安装于主体部，经由同轴电缆与测试器之间收发电信号；高频电路，其与同轴连接器连接而传输电信号；多个触头，它们的顶端部电性接触被检查体的电极，与高频电路之间收发电信号；以及底座，其介存于触头与高频电路之间，底座以各触头的自由长度变为规定长度的方式分别设置于触头上。
探针单元

[发明专利]电触头、电连接结构及电连接装置-CN202011049439.5有效
发明人：久我智昭 -专利权人： 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
申请日： 2020-09-29 - 公布日： 2022-12-06 - 主分类号： H01R13/15 文献下载
摘要：本发明的电触头、电连接结构及电连接装置能够以较少的部件数形成，并能提高弹性构件的滑动性、与接触对象的电接触稳定性，并能提高电触头中的导通性。本发明的板状构件具备主体部、上部臂部、上部臂部的顶端的第一顶端部、下部臂部和下部臂部的顶端的第二顶端部，电触头具备：卷绕第一顶端部形成的第一接触部；卷绕上部臂部形成的竹笋弹簧结构的第一弹性部；卷绕第二顶端部形成的第二接触部；卷绕下部臂部形成的竹笋弹簧结构的第二弹性部；以及卷绕主体部而使第一弹性部和第二弹性部分别具有弹性且连结第一弹性部和第二弹性部的连结部，与第一接触对象接触的第一接触部的顶端面、和与第二接触对象接触的第二接触部的顶端面两方或某一方为倾斜面。
电触头连接结构装置

[发明专利]电连接装置-CN201880035841.2有效
发明人：伊藤达哉 -专利权人： 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
申请日： 2018-05-17 - 公布日： 2022-11-08 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本发明的电连接装置包括：布线配置构件(30)；探针(10)，其具有与形成于布线配置构件(30)的布线图案相连接的基端部和用于与被检查体(2)相接触的端头部；探针头(20)，其与布线配置构件(30)相邻地配置，该探针头(20)保持探针(10)；以及固定部件(100)，其以一端部自探针头(20)朝向布线配置构件(30)突出的方式配置于探针头(20)，该固定部件(100)的一端部固定于布线配置构件(30)的与探针头(20)相对的固定面(301)，将探针头(20)和布线配置构件(30)结合起来。
连接装置

[发明专利]二次电池-CN201780047913.0有效
发明人：工藤拓夫;出羽晴匡;高野光;斋藤友和;殿川孝司 -专利权人： 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
申请日： 2017-07-21 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： H01L49/00 文献下载
摘要：本发明的二次电池设置有：第一电极(11)；第二电极(17)；充电层(14)，布置在第一电极(11)和第二电极(17)之间并且含有绝缘材料与第一n型氧化物半导体材料的混合物；n型氧化物半导体层(13)，布置在充电层(14)与第一电极(11)之间并且含有第二n型氧化物半导体材料；p型氧化物半导体层(16)，布置在充电层(14)与第二电极(17)之间并且含有p型氧化物半导体材料；混合物层(15)，布置在充电层(14)与p型氧化物半导体层(16)之间并且含有氧化硅与第三n型氧化物半导体材料的混合物；和导电层(12)，布置在第一电极(11)与n型氧化物半导体层(13)之间并且含有金属材料。
二次电池

[发明专利]光探针、探针卡、测定系统以及测定方法-CN202080093269.2在审
发明人：奥田通孝;齐藤祐贵;福士树希也 -专利权人： 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
申请日： 2020-12-24 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：光探针由芯部和配置于芯部的外周的包层部构成，光信号所入射的入射面是曲率半径(R)的曲面。使用光信号的辐射角(γ)、以不透过包层部的方式在芯部中传播的光信号的入射面处的有效入射半径(Se)、光信号的入射面的入射点处的芯部的折射率(n(r))及入射点处的折射角(β)，曲率半径(R)和入射点处的中心半角(ω)满足以下关系：R＝Se/sin(ω)，ω＝±sin‑1({K22/(K12+K22)}1/2)。其中，K1＝n(r)×cos(β)‑cos(γ/2)，K2＝n(r)×sin(β)‑sin(γ/2)。
探针测定系统以及方法

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