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[发明专利]透镜测量仪-CN200810082032.5有效
发明人：梶野正 -专利权人：株式会社尼德克
申请日： 2008-02-28 - 公布日： 2008-09-03 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：能够高度稳定和精确地获取透镜的光学特性的透镜测量仪具有：测量光学系统，该测量光学系统包括具有测量目标的目标面板和光电接收测量光束的光电检测器，该测量目标具有第一测量目标和第二测量目标；计算光学特性的计算装置，该计算装置包括根据光电检测器对第一测量目标的检测结果来计算第一光学特性的第一计算装置、和根据第一和第二测量目标的检测结果来计算第二光学特性的第二计算装置；以及显示控制装置，如果第一计算装置的计算结果或光电检测器的检测结果满足预定条件，则显示第二光学特性作为透镜的光学特性，以及如果未满足预定条件，则显示第一光学特性。
透镜测量仪

[发明专利]光学特性测量装置-CN201210094553.9有效
发明人：安藤利典 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2012-04-01 - 公布日： 2012-10-17 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学特性测量装置。该光学特性测量装置在多个评估面上获取与被检测的光学系统的图像特性有关的测量值，并且测量光学特性，该光学特性测量装置包括测量值校正单元，其校正评估面上的与射束的线扩散分布和点扩散分布中的一个的宽度或光强度有关的测量值，其中，在测量值与宽度有关的情况下，像面被视为评估基准面，并且，测量值校正单元输出校正值；在测量值与光强度有关的情况下，像面被视为评估基准面，并且，测量值校正单元也输出校正值，并且，基于校正值测量被检测的光学系统的光学特性
光学特性测量装置

[发明专利]通过自制固体仿体对农产品光学特性检测装置校正的方法-CN201710005065.9有效
发明人：饶秀勤;何学明;傅霞萍;李庭苇 -专利权人：浙江大学
申请日： 2017-01-04 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种通过自制固体仿体对农产品光学特性检测装置校正的方法。制作具有不同光学特性参数的固体仿体，并根据标准方法与理论公式计算获得其光学特性参数的参考值，通过农产品光学特性参数检测装置在可见‑近红外波段下进行检测，获得不同波长下的光学特性参数的测量值，根据不同固体仿体在各波长下的光学特性参数的测量值与参考值对应的关系进行拟合获得拟合参数，在通过农产品光学特性参数检测装置测量实际样品后，用拟合参数对测量获得的光学特性参数的测量值进行修正。本发明的模具模块化成本低，制作固体仿体时间短，制作的固定固体仿体能够长期保存，完成对检测装置的校正，提高农产品光学特性的检测精度。
通过自制固体农产品光学特性检测装置校正方法

[发明专利]透镜测量仪-CN200580051913.5有效
发明人：梶野正 -专利权人：株式会社尼德克
申请日： 2005-11-02 - 公布日： 2008-10-29 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：一种用于测量待测量透镜的光学特性的透镜测量仪，包括测量光学系统，其包括将测量光束投射至透镜的光源，以及接收已经通过透镜的测量光束的光接收传感器；运算部，其基于光接收传感器的光接收结果获得透镜的预定测量区域的光学特性分布；近视部判定装置，其基于测量区域中的光学特性分布判定透镜的近视部是否存在于该测量区域；以及检测装置，其基于光接收传感器的光接收结果检测测量区域中除透镜的光学区域之外的非光学区域的存在；当近视部判定装置没有判定测量区域中存在近视部并且检测装置检测出测量区域中存在非光学区域时，运算部基于测量区域中光学区域的光学特性分布获得透镜的附加度数。
透镜测量仪

[发明专利]光学特性测量装置以及光学特性测量方法-CN201210285463.8有效
发明人：山崎雄介;冈本宗大 -专利权人：大塚电子株式会社
申请日： 2012-08-10 - 公布日： 2013-03-06 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明提供一种光学特性测量装置以及光学特性测量方法。光学特性测量装置(100)具备光源(10)、检测器(40)以及数据处理部(50)。数据处理部(50)具备建模部、分析部以及拟合部。将多个膜模型方程式联立，假设包含在多个膜模型方程式中的光学常数相同来进行规定的运算，通过进行将算出的膜的膜厚以及光学常数代入膜模型方程式而获得的波形与由检测器(40)获取的波长分布特性的波形的拟合来判定包含在多个膜模型方程式中的光学常数是否相同，由分析部算出的膜的膜厚以及光学常数是否为正确的值。
光学特性测量装置以及测量方法

[发明专利]光学特性测量装置及光学特性测量方法-CN201480045838.0有效
发明人：小野修司 -专利权人：富士胶片株式会社
申请日： 2014-08-13 - 公布日： 2018-01-19 - 主分类号： G01N21/47 文献下载
摘要：本发明提供一种能够减轻材料光学特性的测量负荷并在短时间内进行简便且高精度的测量的光学特性测量装置及光学特性测量方法。光学特性测量装置例如BRDF测量装置(11)具备对试料(16)照射光的光照射单元例如光源部(40)及点光源(42)及接收来自试料(16)的光的受光单元。
光学特性测量装置测量方法

[发明专利]光学特性测量装置以及光学特性测量方法-CN201280010861.7有效
发明人：石丸伊知郎 -专利权人：国立大学法人香川大学
申请日： 2012-02-28 - 公布日： 2013-11-20 - 主分类号： G01N21/23 文献下载
摘要：而且，由这些镜部反射的测量光经由检偏振器(15)通过成像透镜(17)在检测器(19)的受光面形成干涉图像。
光学特性测量装置以及测量方法

[发明专利]树脂涂敷设备、光学特性校正设备和光学特性校正方法-CN201010266370.1有效
发明人：尹相福;严海龙;刘美花;洪承珉;李相勋;金容九 -专利权人：三星LED株式会社
申请日： 2010-08-27 - 公布日： 2011-04-06 - 主分类号： B05C11/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种树脂涂敷设备、一种光学特性校正设备、一种光学特性校正方法和一种用于制造发光二极管封装件的方法。树脂涂敷设备包括：光学特性测量单元，测量发光二极管(LED)芯片发射的光的光学特性，LED芯片安装在封装体上并且透明树脂没有涂敷在LED芯片上；树脂涂敷单元，根据树脂涂敷量将包含光转换材料的透明树脂涂敷到LED芯片，所述树脂涂敷量是根据由光学特性测量单元测量的光学特性来决定的。
树脂敷设光学特性校正设备方法

[发明专利]镜片测量仪-CN02144279.7无效
发明人：柳英一 -专利权人：株式会社拓普康
申请日： 2002-10-08 - 公布日： 2003-04-16 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明的镜片测量仪中，在采用从被测镜片的凸面一侧使作为测量光束的平行光束射入被测镜片且利用透过被测镜片后的测量光束的位移求出被测镜片其光学特性的测量原理类型来测量被测镜片偏心位置上的光学特性时、以及在采用从被测镜片的凹面一侧使测量光束射入被测镜片而且将目标沿测量光轴移动使得从凸面一侧射出平行光束时利用目标板的移动量求出被测镜片光学特性的测量原理类型来测量被测镜片偏心位置上的光学特性时，其光学特性不一致，为消除该光学特性不一致，从被测镜片的凸面一侧使作为测量光束的平行光束射入被测镜片的这种测量原理类型的光学系统，采用将与测量光轴倾斜的平行光束P1′及P1″作为测量光束使其射入被测镜片的结构
镜片测量仪

[实用新型]光学辐射测量单元-CN201721710152.6有效
发明人：雷正伟;牛刚;夏明飞;甄红涛;张东;刘海涛;郭晓冉 -专利权人：中国人民解放军63908部队
申请日： 2017-12-11 - 公布日： 2018-06-26 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光学辐射测量单元，涉及光学辐射测量和标定的装置技术领域。所述测量单元包括测量单元外壳、光管外壳、管上夹座、燕尾座、光管座、透镜、分光棱镜、CCD探测单元、光谱仪单元、CCD探测单元座、光谱仪座、棱镜座和棱镜压片。利用标定后的光学辐射标准单元将光学辐射量值传递给光学辐射测量单元，实现光学辐射测量单元的光电测量特性的标定；然后将光学辐射测量单元的光学系统对准被测对象（各种光学辐射输出装置如各类光源），通过测量被测对象的光学辐射量值和光谱特性，从而实现被测对象光学辐射输出特性的标定。且所述光学辐射测量单元具有小型化，自动化等优点。
光学辐射测量单元标定被测对象测量透镜测量单元外壳装置技术领域本实用新型光谱仪单元光谱仪标准单元分光棱镜光电测量光谱特性光学系统量值传递输出特性输出装置光管座棱镜座上夹座燕尾座棱镜光管压片光源对准自动化

[发明专利]一种深紫外光学元件光学性能的综合测试方法-CN201410005252.3有效
发明人：李斌成 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2014-01-06 - 公布日： 2014-04-09 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种深紫外光学元件光学性能的综合测试方法，采用激光量热技术测量深紫外光学元件的吸收损耗绝对值，采用激光诱导荧光光谱技术测量深紫外光学元件在深紫外激光照射下的荧光光谱，采用拉曼光谱技术测量深紫外光学元件材料的缺陷能级通过测量深紫外光学元件在深紫外激光波长的吸收损耗特性、荧光光谱特性及拉曼光谱特性评估深紫外光学元件的综合光学性能，通过测量深紫外光学元件在深紫外激光照射过程中吸收损耗、荧光光谱和拉曼光谱的实时变化监测深紫外光学元件性能的稳定性在同一测量装置中测量深紫外光学元件的光学特性参数和实时监测深紫外光学元件在深紫外激光照射过程中光学特性的变化。
一种深紫光学元件性能综合测试方法

[发明专利]初缩掩模版和光学特性测量方法-CN02828759.2有效
发明人：盐出吉宏 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2002-07-19 - 公布日： 2005-06-08 - 主分类号： H01L21/027 文献下载
摘要：一种光学特性测量方法，用于测量投影光学系统(10a)的光学特性，其中：提供具有多个图案(TP)的初缩掩模版(9)；从一个孔将散射光射到所述多个图案(TP)上，从而光束在相互不同的方向被投射到所述多个图案上，借此通过所述投影光学系统(10a)形成所述多个图案的图像。分别检测所述多个图案的图像的位置，并使用检测结果，检测所述投影光学系统的光学特性。本发明实现了一种光学特性测量方法和用于该方法的初缩掩模版，它们适合用来进行光学系统的光学特性比如波前像差的高精度测量。
初缩掩模版光学特性测量方法

[发明专利]强激光参量的测量方法与测量装置-CN200610012137.4无效
发明人：于靖;邓玉强;李健;徐涛;熊利民 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2006-06-07 - 公布日： 2007-12-12 - 主分类号： G01J1/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种强激光参量及光学材料非线性特性的测量方法与装置结构，该方法能够测量出超强的激光功率和能量，消除强激光测量过程中因材料的非线性光学特性和被测激光的偏振特性带来的测量误差，提高强激光功率和能量的测量能力和测量精度，并实现强激光条件下光学材料非线性特性的测量。
激光参量测量方法测量装置

[发明专利]光学特性测量装置和光学式位移计-CN200310104631.X无效
发明人：岩波孝志;柳原英次 -专利权人：株式会社三协精机制作所
申请日： 2003-10-31 - 公布日： 2004-05-26 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明揭示一种光学特性测量装置和光学式位移计，可在测量入射激光的光学特性的光学特性测量装置和应用其原理的光学式位移计中，用简易的光学系统测量各种光学特性。其中光学特性测量装置(1A)具有半导体激光发光元件产生的激光(L0)以利用准直透镜形成平行光的状态入射的开口(11)、配置在此开口(11)的出射光路由上的并且由棱镜组成的分光器(12)、接收此棱镜(12
光学特性测量装置位移

[发明专利]光学测量系统及其装置-CN201110169191.0无效
发明人：郑勗廷;曾一士;王遵义 -专利权人：致茂电子股份有限公司
申请日： 2011-06-17 - 公布日： 2012-12-19 - 主分类号： G01J1/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学测量系统，用于对一待测物的光学特性进行测量，光学测量系统包含一待测物、一光检测模块、一导光模块以及一分析模块。本发明在光学测量系统中利用了该导光模块来从该待测物发出的光线中，接收轴向光线进行光学特性分析。故此，除可准确地测量待测物所发出光线的光强度以外，也可同时取得待测物的轴向光线的光学特性。
光学测量系统及其装置

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