专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]空间频域下生物组织光学特性参数查表方法-CN202210910971.4在审
  • 于双;于欣;赵烟桥;邹旭彤;吴海滨;孙晓明;于晓洋 - 哈尔滨理工大学
  • 2022-07-29 - 2022-11-25 - G06F30/20
  • 本发明空间频域下生物组织光学特性参数查表方法属于生物组织光学特性检测技术领域,具体涉及光学特性参数反演方法;该方法首先设置生物组织光学特性参数,蒙特卡罗模拟计算两个空间频率下的漫反射率值,得到漫反射率值与光学特性参数的对应关系;然后利用所述对应关系,对两个空间频率漫反射率值下的光学特性参数进行三次样条插值,获得插值后的漫反射率值与光学特性参数的对应关系;再计算漫反射率测量值与对应关系中漫反射率值的欧氏距离,并找到最小欧氏距离所对应漫反射率值;最后根据对应关系和漫反射率值,得到漫反射率测量值所对应的光学特性参数;本发明可以提升光学特性参数的反演速度,同时克服约化散射系数要远大于吸收系数的限制。
  • 空间频域下生物组织光学特性参数方法
  • [发明专利]量子效率测量系统和使用方法-CN201080021874.5有效
  • R.焦肯;J.多诺赫;A.费尔德曼;Z.李 - 纽波特公司
  • 2010-05-19 - 2012-05-02 - H01L31/18
  • 公开了一种用于测量太阳能电池的特性的系统,并且该系统包括:光源,辐照具有从约100nm到约3000nm的谱范围的光学信号;波长选择器,被配置为选择性地收窄光学信号的谱范围;分束器;参考检测器,与分束器光学通信并且被配置为测量光学信号的特性;样品,用光学信号来辐照;反射率检测器,经由分束器来与样品光学通信并且被配置为测量样品反射的光学信号的光学特性;复用器;与参考检测器、样品和反射率检测器中的至少一个通信;以及处理器,经由复用器来与参考检测器、样品和反射率检测器中的至少一个通信并且被配置为计算样品的至少一个特性
  • 量子效率测量系统使用方法
  • [发明专利]大口径光学元件光学特性的快速检测方法及装置-CN201210199966.3有效
  • 吴周令;陈坚;吴令奇 - 合肥知常光电科技有限公司
  • 2012-06-18 - 2012-09-19 - G01M11/02
  • 本发明公开了一种大口径光学元件光学特性的快速检测方法及装置,首先将泵浦光束照射到被测样品表面上的测量点1,由测量点1反射出来的泵浦光经能量回收反射镜后再次照射到样品表面上的测量点2,以此类推,泵浦光经能量回收反射镜后多次与被测样品表面相互作用,在被测样品表面的测量点1到测量点N都引起了局部材料特性变化。这N个测量点的局部材料特性变化由探测光束进行并行探测。本发明利用泵浦光能量回收反射镜对被测样品反射出来的激光能量进行回收重复利用从而大幅度提高大口径光学元件光学特性检测速度,该方法和装置可以用于光热无损检测、光热精密测量光学吸收光谱、光热成像与缺陷分析等多个领域,特别适用于对大口径激光反射镜微弱吸收特性的快速检测与成像。
  • 口径光学元件特性快速检测方法装置
  • [实用新型]OLED光学测量机具-CN201220405631.8有效
  • 余章凯 - 光达检测科技有限公司
  • 2012-08-16 - 2013-03-13 - G01M11/02
  • 一种OLED光学测量机具,包含:一个测量机台,其包含一个上方测量空间及一个下方机件区。该上方测量空间的底面配置有数个测量区,各测量区配置有:一个OLED测试治具,该OLED测试治具主要是位在四边的四个脚架及由四个脚架所支撑的测试平台,该测试平台上可用于放置OLED,以及该OLED测试治具底部尚包含一个底面,该底面用于将该OLED测试治具放置于该上方测量空间的底面;一个光学测量仪器,用于测量该OLED的光学特性,该光学测量仪器位在该上方测量空间的上方,用于接收来自该OLED的光以测量OLED特性;一三维空间调整座,位在该光学测量仪器的上方并将该光学测量仪器夹持住,可令该光学测量仪器进行三轴的调整。
  • oled光学测量机具
  • [发明专利]测量装置和成膜装置-CN201280073844.8有效
  • 佐井旭阳;日向阳平;大泷芳幸;姜友松 - 株式会社新柯隆
  • 2012-09-10 - 2017-03-15 - G01N21/84
  • 提供一种能够实现更高速的测量并能够获得更高精度的测量结果的装置,来作为对薄膜的光学特性值和光学膜厚值中的至少一个值进行测量测量装置。对形成于监视基板(Sm)的薄膜的包括光学特性值和光学膜厚值中的至少一方的值进行测量测量装置(101)具备光信号产生机构(10),其将多个LED单元(11a~11f)利用光学滤光镜所生成的单色光调制成对于每个光源单元互不相同的设定频率其对检测机构(30)所输出的电信号实施带通滤波器的滤波处理,从该电信号中将每个设定频率的成分信号分离出来;以及计算机构(80),其基于分离出来的每个设定频率的成分信号,按照每个设定频率计算出成分信号所表示的光学特性值,该测量装置同时测量多个所述光学特性值。
  • 测量装置

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