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[发明专利]基于太赫兹介电谱的阿胶含水量检测方法及系统-CN202011427786.7在审
发明人：张献生;常天英;刘陵玉;李羿璋;崔洪亮 -专利权人：山东省科学院自动化研究所
申请日： 2020-12-09 - 公布日： 2021-03-26 - 主分类号： G01N27/22 文献下载
摘要：本发明提供一种基于太赫兹介电谱的阿胶含水量检测方法及系统，属于含水量检测技术领域，获取与待检测阿胶相同批次的标准干燥阿胶的介电常数、待检测阿胶的介电常数以及水的介电常数；结合有效介质模型，根据标准干燥阿胶的介电常数、待检测阿胶的介电常数以及水的介电常数计算待检测阿胶中水分的体积系数；根据水分的体积系数计算待检测阿胶的含水量。本发明只需测试待检测阿胶、标准干燥阿胶和水的介电常数，利用有效介质模型，以干燥阿胶的介电常数为基准，计算待检测阿胶的含水量，缩短了测试时间，降低了检测成本，提高了生产效率；实现对测试样品的非接触无损测量
基于赫兹介电谱阿胶含水量检测方法系统

[发明专利]一种GIL局部放电监测方法、装置、系统及存储介质-CN202110452568.7在审
发明人：王增彬;高超;周福升;黄若栋;杨芸;熊佳明;王国利;宋坤宇;庞小峰;赵晓凤;姚聪伟 -专利权人：广东电网有限责任公司电力科学研究院;南方电网科学研究院有限责任公司
申请日： 2021-04-26 - 公布日： 2021-09-03 - 主分类号： G01R31/12 文献下载
摘要：本发明公开一种GIL局部放电监测方法，通过设置于GIL内的变介电常数电容传感器对GIL的气体的相对介电常数进行监测，并通过设置于GIL内的温度传感器对温度进行监测，基于预设的温度与相对介电常数之间的对应关系，获取与监测到的温度相匹配的理论相对介电常数，当监测到的相对介电常数与理论相对介电常数的差值大于预设阈值时，判定GIL发生局部放电。本发明实施例考虑温度对气体的相对介电常数的影响，通过对GIL中气体的相对介电常数和温度的监测，对GIL的局部放电情况进行判断，提高了GIL局部放电监测的灵敏度。
一种 gil 局部放电监测方法装置系统存储介质

[发明专利]具有高相对介电常数层的集成高压电子器件-CN202211583230.6在审
发明人： E·顿切尔 -专利权人：德克萨斯仪器股份有限公司
申请日： 2022-12-09 - 公布日： 2023-06-13 - 主分类号： H01F27/28 文献下载
摘要：本申请公开了具有高相对介电常数层的集成高压电子器件。一种磁性组件(110)包括具有核心介电层(161)、介电堆叠层(162、163、164、165)、高介电常数介电层(181、182)以及第一和第二图案化导电特征(109、111)的多层级层压或金属化结构(112)，介电堆叠层(162、163、164、165)具有第一相对介电常数，高介电常数介电层(181、182)在第一图案化导电特征(109)和介电堆叠层(162)或核心介电层(161)中的一个之间延伸并与其接触，高介电常数介电层(181、182)具有第二相对介电常数，并且第二相对介电常数至少是第一相对介电常数的1.5倍，以减轻隔离产品中的介电击穿。
具有相对介电常数集成高压电子器件

[发明专利]一种宽带双波束介质谐振器天线-CN202311040470.6在审
发明人：方家兴;施金;吴博文 -专利权人：南通至晟微电子技术有限公司
申请日： 2023-08-18 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： H01Q1/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种宽带双波束介质谐振器天线，包括金属顶层、上层高介电常数基片、金属中间层、中层低介电常数基片、金属大地、下层底层低介电常数基片以及金属底层，金属顶层和金属中间的中部均具有矩形开口，上层高介电常数基片与矩形开口对应的位置形成高介电常数介质矩形，高介电常数介质矩形上设置有若干非金属化过孔；金属中间层的金属面位于矩形开口的两长边侧对称设置有金属矩形片；中层低介电常数基片与矩形开口对应的位置形成低介电常数介质矩形；金属大地的中部设置有平行矩形槽；
一种宽带波束介质谐振器天线

[发明专利]一种基于对导数分析方法的交联聚乙烯电缆绝缘老化状态评估方法-CN201810587479.1有效
发明人：李建英;张媛媛;武康宁 -专利权人：西安交通大学
申请日： 2018-06-08 - 公布日： 2021-01-19 - 主分类号： G01R31/12 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于对导数分析方法的交联聚乙烯电缆绝缘老化状态评估方法，对XLPE电缆绝缘进行切片，制作不同的目标试样，对目标试样制作电极后置于在介电谱测试仪中，测得介电常数实部ε'和介电常数虚部ε”；获得介电常数实部ε'和介电常数虚部ε”随频率的变化曲线，对得到的介电常数实部ε'进行数学计算，获得介电常数实部ε'对角频率ω对数的一阶导数介电常数实部和介电常数虚部，变化规律更加明显，具有更清晰明确的老化状态指示作用，方法操作简单，评估结果准确。
一种基于导数分析方法交联聚乙烯电缆绝缘老化状态评估

[发明专利]一种复合导电膜的仿真分析方法及其电子设备、存储介质-CN201910796830.2有效
发明人：柴常春;靳文轩;李赟;王平;张楠;白浩 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2019-08-27 - 公布日： 2021-05-18 - 主分类号： G06F30/23 文献下载
摘要：本发明公开了一种复合导电膜的仿真分析方法及其电子设备、存储介质，该方法包括对高介电常数基板和复合导电膜层进行建模得到高介电常数基板几何模型和复合导电膜层几何模型，为高介电常数基板几何模型和复合导电膜层几何模型设置材料模块和若干物理场接口模块，并为每个物理场接口模块设置边界条件，得到基于高介电常数基板的复合导电膜模型；在基于高介电常数基板的复合导电膜模型上建立有限元网格模型，对有限元网格模型进行计算得到仿真结果。本发明将高介电常数基板和复合导电膜层同步建模，考虑了高介电常数基板和复合导电膜层之间的相互作用，从而评估高介电常数基板上复合导电膜层脱落情况，仿真模型更加接近实际情况，仿真结果准确性高。
一种复合导电仿真分析方法及其电子设备存储介质

[发明专利]箔条空气混合介电常数测量方法、系统、设备、介质及终端-CN202111156211.0有效
发明人：卢雅雯;彭傲;左炎春;郭立新;刘伟;余乐;方争光;李金本;佘俊杰 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2021-09-29 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明属于材料介电常数的微波测量分析技术领域，公开了一种箔条空气混合介电常数测量方法，所述箔条空气混合介电常数测量系统包括：设备连接模块、设备校准模块、目标测量模块、数据采集模块以及图像处理模块。本发明依据矩形波导法测量物质介电常数的测量设备，选用不同填充率对箔条空气的混合介电常数进行测量；利用NRW传输/反射法的散射方程推导出待测样品的介电常数，在矩形波导内填充不同的箔条数控制填充率，对箔条空气的混合介电常数进行测量，解决实验中的校准问题，弥补实验流程的空白；获取箔条空气混合介电常数的具体数据，对于后续箔条干扰物的传播特性研究提供最真实有效的数据，为后续新型材料的研究奠定数据基础。
箔条空气混合介电常数测量方法系统设备介质终端

[实用新型]一种介电常数的测试装置-CN202121585715.X有效
发明人：倪耀威;左俊;陶辉涛 -专利权人：郑州大学
申请日： 2021-07-13 - 公布日： 2021-12-03 - 主分类号： G01R1/18 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种介电常数的测试装置，包括防护壳主体、储液箱主体和稳定底座，所述防护壳主体内部表面固定连接了合金屏蔽铅板，合金屏蔽铅板下端表面固定连接了合金屏蔽镍板，所述防护壳主体内部下端固定连接了介电常数测试装置本体本实用新型所述的一种介电常数的测试装置，可以对介电常数测试装置本体进行很好的电磁屏蔽作用，防止外界的电磁辐射影响介电常数测试装置本体的测试精准度，而且还可以防止介电常数测试装置本体产生的电磁辐射对工作人员造成伤害，还可以对介电常数测试装置本体进行散热处理，防止内部热量过高，还可以对介电常数测试装置本体进行缓冲保护，增加其使用寿命，较为实用。
一种介电常数测试装置

[发明专利]柔性扁平电缆-CN201180019528.8有效
发明人：依田直人;坂口英二;林重雄 -专利权人：东京特殊电线株式会社
申请日： 2011-07-13 - 公布日： 2013-02-06 - 主分类号： H01B7/08 文献下载
摘要：聚烯烃粘合剂层（2）的介电常数比泡沫聚酯树脂绝缘层（1a，1b）的介电常数低。为了降低介电常数，首先降低聚烯烃粘合剂层（2）的介电常数，并且导致泡沫聚酯树脂绝缘层（1a，1b）的介电常数大于聚烯烃粘合剂层（2）的介电常数。由于可以降低电缆的介电常数，而不需要通过提高发泡率以降低泡沫聚酯树脂绝缘层的介电常数，可以避免柔性扁平电缆变得易受脆性断裂影响。
柔性扁平电缆

[发明专利]一种低介电常数薄膜的成膜方法-CN201410193144.3有效
发明人：桑宁波;雷通;贺忻 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2014-05-08 - 公布日： 2014-07-23 - 主分类号： H01L21/768 文献下载
摘要：本发明提供了一种低介电常数薄膜的成膜方法，包括：形成第一层金属层；在第一层金属层上生长刻蚀阻挡层；在刻蚀阻挡层上生长低介电常数薄膜，其中在生长低介电常数薄膜时引入两步以上的液源稳定过程；对低介电常数薄膜进行紫外线固化；在低介电常数薄膜上沉积光刻掩模并进行光刻刻蚀。
一种介电常数薄膜方法

[发明专利]固化多孔低介电常数层的方法-CN200710004070.4无效
发明人：陈美玲;赖国智;宋述仁 -专利权人：联华电子股份有限公司
申请日： 2007-01-23 - 公布日： 2008-07-30 - 主分类号： H01L21/3105 文献下载
摘要：一种固化多孔低介电常数层的方法，应用于已形成有一多孔低介电常数层的基底，此多孔低介电常数层中尚含有一成孔剂。首先对多孔低介电常数层进行处理条件较温和的第一紫外光固化处理，再对多孔低介电常数层进行处理条件较剧烈的第二紫外光固化处理，以完成其固化。
固化多孔介电常数方法

[发明专利]电缆绝缘层老化程度的测试方法和装置-CN202110957166.2在审
发明人：潘泽华;叶宽;闫春江;郭卫;门业堃;戴润东;周士贻;任志刚;赵建勇;李华春;及洪泉;段大鹏 -专利权人：国网北京市电力公司;国家电网有限公司;中国电力科学研究院有限公司
申请日： 2021-08-19 - 公布日： 2021-11-30 - 主分类号： G01R31/08 文献下载
摘要：本申请提供了一种电缆绝缘层老化程度的测试方法和装置，该方法包括：测试至少三个直流偏压下待测试电缆绝缘层的介电常数，得到至少三个目标介电常数；根据直流偏压和目标介电常数确定待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率，介电常数的变化率用于表征待测试电缆绝缘层的老化程度。由于根据测试研究发现介电常数的变化率与电缆绝缘层的热老化处理时间正相关，该测试方法根据介电常数的变化率可以准确评估待测试电缆绝缘层的老化程度，以解决现有技术中电缆绝缘层的历史数据未知导致老化程度的评估不准确的问题
电缆绝缘老化程度测试方法装置

[发明专利]一种基于介电常数确定粗颗粒土基质吸力的方法-CN202210926534.1在审
发明人：顾凡;许戈韦;张军辉 -专利权人：长沙理工大学
申请日： 2022-08-03 - 公布日： 2022-11-11 - 主分类号： G01N33/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于介电常数确定粗颗粒土基质吸力的方法，具体为：确定土体饱和介电常数εs；建立基质吸力介电常数特征曲线模型，通过三个点对基质吸力介电常数特征曲线模型进行多元回归分析，第一个点为基质吸力最大值处，第二个点为土体饱和介电常数εs处，第三个点为基质吸力与介电常数实测点；以实测基质吸力与拟合基质吸力差值最小为目标，确定五个拟合参数值得到基质吸力介电常数特征曲线
一种基于介电常数确定颗粒基质吸力方法

[发明专利]液晶显示器-CN201410490478.7有效
发明人：金东奎;申暻周;孙廷昊;尹容国;李濬表;白承洙 -专利权人：三星显示有限公司
申请日： 2009-01-21 - 公布日： 2017-05-03 - 主分类号： G02F1/1333 文献下载
摘要：如果沿与液晶长轴平行的方向的介电常数定义为水平介电常数ε∥，沿与液晶长轴垂直的方向的介电常数定义为垂直介电常数ε⊥，并且垂直介电常数ε⊥与水平介电常数ε∥之间的差定义为介电各向异性Δε，那么该液晶合成物的介电各向异性Δε与垂直介电常数ε⊥的比Δε/ε⊥为0.5或更小。
液晶显示器包括中的液晶合成物

[发明专利]一种高介电常数材料栅结构及其制备工艺-CN200310108275.9有效
发明人：陈寿面 -专利权人：上海集成电路研发中心有限公司;上海华虹（集团）有限公司
申请日： 2003-10-30 - 公布日： 2004-10-27 - 主分类号： H01L29/78 文献下载
摘要：本发明为一种高介电常数材料栅结构及其制备工艺。在硅片表面氧化生长一非常薄的氮氧化硅层作为高介电常数材料与硅衬底之间的界面缓冲区，以便有效隔离高介电常数材料中的杂质元素与硅衬底间的扩散；在高介电常数材料表面进行氮化处理或者淀积一薄层氮化硅，把高介电常数材料覆盖住，并作为高介电常数材料与多晶硅的界面层，同时阻挡来自P+多晶的硼穿透。由本发明方法制备的高介电常数材料栅可以被有效应用于65纳米以下的CMOS工艺技术。
一种介电常数材料结构及其制备工艺