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[实用新型]一种汽车挡风玻璃花点缺陷的自动检测装置-CN202223103225.9有效
发明人：陈炜;沈力;陈炜杰;马莹;李建兴;罗堪 -专利权人：福建工程学院
申请日： 2022-11-22 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本实用新型公开一种汽车挡风玻璃花点缺陷的自动检测装置，包括上位机、PLC、支撑架和单轴滑轨驱动模组，单轴滑轨驱动模组设于支撑架的顶部，且单轴滑轨驱动模组与产线传动方向垂直设置，所述单轴滑轨驱动模组上连接有两个间隔设置的工业相机本实用新型能实现汽车挡风玻璃花点缺陷图像的清晰采集，以及花点缺陷的在线自动检测，以便替代人工检测，解决挡风玻璃花点图案印刷和烘干质量的实时在线检测问题，并达到工业产线要求的检测准确率。
一种汽车挡风玻璃点缺陷自动检测装置

[发明专利]一种利用点缺陷掺杂降低能耗的场效应晶体管器件结构-CN202111430047.8在审
发明人：贺园园;赵健伟;程娜 -专利权人：嘉兴学院
申请日： 2021-11-29 - 公布日： 2022-03-04 - 主分类号： H01L29/786 文献下载
摘要：本发明提供了一种利用点缺陷掺杂降低能耗的场效应晶体管器件结构，涉及半导体技术领域，本发明利用点缺陷周期性掺杂提升电流开关比，降低延迟时间和功耗延迟积等性能的场效应晶体管器件结构；该结构分别通过引入Se(S)取代缺陷和锡空位缺陷实现对SnS2的n型和p型缺陷，改善材料的电学性能。在此基础上，使用点缺陷掺杂后的Sn4S7Se和Sn5S8
一种利用点缺陷掺杂降低能耗场效应晶体管器件结构

[发明专利]一种基于图像处理的机械零件氢损伤检测方法-CN202210016823.8有效
发明人：金杰;谢辉;李斯伟 -专利权人：江苏南通元辰钢结构制造有限公司
申请日： 2022-01-08 - 公布日： 2022-04-05 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明涉及人工智能领域，具体涉及一种基于图像处理的机械零件氢损伤检测方法，包括：对采集到的X射线零件缺陷图像进行处理，通过获取二值图得到白点缺陷的连通域；对连通域内有无暗色像素点进行检测，若无暗色像素点764760DEST_PATH_IMAGE002.JPG" imgContent="drawing" imgFormat="JPEG" orientation="portrait" inline="yes" />对其对应连通域的白点缺陷类别进行再次判断300915DEST_PATH_IMAGE004.JPG" imgContent="drawing" imgFormat="JPEG" orientation="portrait" inline="yes" />对不确定连通域的白点缺陷类别进行判断通过上述方法能够有效判断机械零件氢损伤白点缺陷类别，极大提高缺陷类别判断的合理性和准确率。
一种基于图像处理机械零件损伤检测方法

[发明专利]一种接触网缺陷关联挖掘及预防方法-CN202210182145.2在审
发明人：占栋;黄瀚韬;张金鑫;罗旺春;佘夏威 -专利权人：成都唐源电气股份有限公司
申请日： 2022-02-25 - 公布日： 2022-06-10 - 主分类号： G06F16/215 文献下载
摘要：本发明公开了一种接触网缺陷关联挖掘及预防方法，具体包括如下步骤：首先根据包含由缺陷类型构成的缺陷数据构建缺陷数据库；再根据缺陷数据库，构建用于表示重点缺陷类型的头节点链表；再对缺陷数据库进行清洗；进而挖掘清洗后的缺陷数据库中的缺陷同步关系和缺陷因果关系；最后根据重点缺陷类型、缺陷同步关系和缺陷因果关系构建缺陷预防方案；本发明，采用数据挖掘技术，从接触网历史缺陷记录中挖掘信息，事先揭示铁路接触网系统缺陷的机理，通过实施预防性措施的方式来防止关联缺陷的发生
一种接触缺陷关联挖掘预防方法

[发明专利]缺陷定位方法-CN201510087311.0有效
发明人：高保林;王倩 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2015-02-25 - 公布日： 2019-01-18 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明揭示了一种缺陷定位方法，包括：提供半导体基底，所述半导体基底内包括多个在垂直方向延伸的金属塞，所述半导体基底的材料对激光具有透光性；沿着所述垂直方向对半导体基底制备断面，所述断面与所述金属塞的距离大于等于100μm；以及对所述金属塞通电，并用所述激光从所述断面对所述半导体基底进行照射，并进行热点分析，通过亮点的位置判断缺陷在垂直方向的深度。由于所述半导体基底的材料对激光具有透光性，所以，如果所述金属塞中具有缺陷，所述缺陷经过激光的照射，所述缺陷的电阻值会发生变化，并呈现出亮点，从而经过热点分析，通过亮点的位置判断缺陷在垂直方向的深度。
缺陷定位方法

[发明专利]一种制备高质量的半绝缘碳化硅单晶衬底的方法-CN201811205277.2有效
发明人：高超;柏文文;张红岩;窦文涛 -专利权人：山东天岳先进材料科技有限公司
申请日： 2018-10-16 - 公布日： 2019-07-23 - 主分类号： C30B23/02 文献下载
摘要：该制备方法通过对高纯碳化硅单晶晶片进行高温快速热处理技术和表面激光退火技术，将引入到高纯半绝缘碳化硅衬底表面一定区域内的点缺陷进行清除，同时保留距离衬底表面的内部点缺陷，从而实现在无缺陷的碳化硅单晶衬底表层洁净区并保留碳化硅单晶衬底的半绝缘特性
衬底制备半绝缘碳化硅单晶碳化硅单晶衬底表面点缺陷高纯半导体材料领域快速热处理技术碳化硅单晶晶片半绝缘碳化硅表面激光退火技术半绝缘洁净区保留引入申请

[发明专利]一种基于AI与机器视觉算法的口罩焊点缺陷检测方法-CN202211293216.2在审
发明人：王志伟;朱鸿泰;朱涛;艾亚辉;陈锦宝;王小龙;杨一粟;殷俊 -专利权人：中科芯集成电路有限公司
申请日： 2022-10-21 - 公布日： 2023-01-10 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开一种基于AI与机器视觉算法的口罩焊点缺陷检测方法，属于口罩缺陷检测领域。在深度学习算法上，通过图像增强模型对原始相机采集的图像进行图像增强，使用目标检测模型将焊点ROI区域进行有效提取，进而输送给语义分割、分类模型进行焊点脏污、半焊点、打结等缺陷的检测；在传统机器视觉算法上，使用自主设计的SJDD1和SJDD2算法，对焊点ROI图像进行处理，检测是否存在毛刺、耳带超出、压穿等缺陷；最后综合五种算法的结果得到口罩焊点是否存在缺陷的结论，故算法具有极高的鲁棒性与准确性。本发明将深度学习算法与自主设计的传统机器视觉算法相结合，进行有效的口罩焊点缺陷检测；有效节省了算力以及耗时。
一种基于 ai 机器视觉算法口罩点缺陷检测方法

[发明专利]用于CPU散热板缺陷的检测方法及检测系统-CN202110309288.0有效
发明人：刘新辉 -专利权人：上海晨兴希姆通电子科技有限公司
申请日： 2021-03-23 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于CPU散热板缺陷的检测方法及检测系统，通过分析待测散热板的背景孔的频率特征，将背景孔对应的幅值频率设为零以将其从图像中排除，避免在检测中需要对待测散热板的背景孔精准定位的弊端，解决了因背景孔干扰而导致待测散热板的小黑点缺陷的容易漏判的问题，在此基础上，基于行灰度值均值的局部极小值分割，找到缺陷，检测效率高且检测精度高。本发明解决了在采用传统的缺陷检测方法对CPU散热板检测时，由于CPU散热板的多个背景孔的干扰容易导致CPU散热板的缺陷(如小黑点缺陷)的漏判的问题。
用于 cpu 散热缺陷检测方法系统

[发明专利]一种基于激光超声的BGA焊点缺陷检测系统及检测方法-CN202211305398.0在审
发明人：李岩;章飚;曾永红;李鑫;刘慧婕 -专利权人：天津津航计算技术研究所
申请日： 2022-10-24 - 公布日： 2023-04-25 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于激光超声的BGA焊点缺陷检测系统及检测方法，属于芯片检测领域。本发明的系统包括激光超声发射装置、激光超声检测装置、数据处理计算机、可移动检测平台和摄像机。本发明的基于激光超声的BGA焊点缺陷检测系统能够自动进行数据记录，自动对焦，减少人工成本。本发明基于激光超声的检测方法：使用机器学习方法，提前对有缺陷和无缺陷样本进行模型训练，在检测过程中，自动识别样本中是否含有缺陷。
一种基于激光超声 bga 点缺陷检测系统方法

[发明专利]一种提高显示屏校正亮度的方法-CN202011342636.6在审
发明人：苗静;李宏侠;周洋;曹慧;丁铁夫 -专利权人：长春希达电子技术有限公司
申请日： 2020-11-26 - 公布日： 2021-02-26 - 主分类号： G09G3/20 文献下载
摘要：本发明涉及一种提高显示屏校正亮度的方法，该方法如下：在相机视场可容纳的显示屏范围内，首先完成整屏亮度校正；在校正过程中，得到整屏所有半亮点的亮度值和位置坐标；根据整屏的校正亮度与半亮点亮度的比值，计算出亮度补偿比例；根据半亮点的位置坐标确定其周围像素坐标；根据亮度补偿比例对半亮点周围像素进行增亮，消除所有半亮点处的亮度缺陷。本发明能够淡化亮度缺陷的影响，使得视觉效果上的未校正比例降低，提高了显示质量，在保证原来未校正比例的情况下，提高了显示屏亮度。
一种提高显示屏校正亮度方法

[发明专利]一种基于MEMS工艺THz波段EMXT腔体滤波器-CN201210580434.4无效
发明人：刘埇;司黎明;周凯;郑超;卢宏达;朱思衡 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2012-12-27 - 公布日： 2013-05-15 - 主分类号： H01P1/208 文献下载
摘要：下层硅圆片和主体部分；上层硅圆片有定位槽和盲文标示；主体部分包括PBG结构和波导腔，PBG结构由硅柱组成，硅柱之间填充有空气；PBG结构位于波导腔的腔体内；所述的硅柱的表面溅射有金层；在PBG结构中引入了线缺陷和点缺陷，线缺陷形成PBG波导，位于波导腔的腔体内左右两侧，点缺陷形成中间三个谐振腔结构；滤波器采用上层硅圆片和下层硅圆片进行加工。
一种基于 mems 工艺 thz 波段 emxt 滤波器

[发明专利]一种光子晶体多通道分束器及优化方法-CN202210227387.9在审
发明人：李培丽;柯航 -专利权人：南京邮电大学
申请日： 2022-03-08 - 公布日： 2022-06-28 - 主分类号： G02B6/125 文献下载
摘要：本发明公开了一种光子晶体多通道分束器及优化方法，本发明在主波导两侧设置对称分布的Y分支波导，Y分支波导与主波导交汇处引入点缺陷介质柱，两个Y分支波导的中央均引入调控介质柱，通过改变点缺陷介质柱和调控介质柱参数
一种光子晶体通道分束器优化方法

[发明专利]一种用于产生多涡旋的复合腔结构-CN202310717509.7在审
发明人：白振旭;安嘉硕;王雨雷;吕志伟 -专利权人：河北工业大学
申请日： 2023-06-16 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： H01S3/08 文献下载
摘要：一种用于产生多涡旋的复合腔结构，涉及涡旋激光器技术领域，针对现有技术中涡旋激光器只能输出单个涡旋，并不能输出多涡旋的问题，本申请通过在腔内插入透镜并与刻有点缺陷的平面反射镜结合，通过调整分路中平面镜的位置及点缺陷的尺寸可以有效产生高阶涡旋光束并实现阶次可调
一种用于产生涡旋复合结构

[发明专利]一种含磷高强IF钢及其表面麻点缺陷的消除方法-CN201811504307.X有效
发明人：王明哲;王林;青靓;张誉公;陈瑾;焦会立;商光鹏;吴耐 -专利权人：北京首钢股份有限公司
申请日： 2018-12-10 - 公布日： 2021-01-08 - 主分类号： C22C38/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种含磷高强IF钢及其表面麻点缺陷的消除方法，属于轧钢技术领域。本发明含磷高强IF钢及其表面麻点缺陷的消除方法可以消除含磷高强IF钢连退产品表面发麻。
一种高强 if 及其表面麻点缺陷消除方法

[发明专利]一种表面无坑点缺陷的铝材及其制备方法-CN201711342299.9有效
发明人：高崇;赵丕植;江钟宇;黄瑞银;谷宁杰;陈清 -专利权人：中铝材料应用研究院有限公司;中铝瑞闽股份有限公司
申请日： 2017-12-14 - 公布日： 2020-09-25 - 主分类号： C25D11/08 文献下载
摘要：本发明提供了一种表面无坑点缺陷的铝材，该铝材表面的第二相面积占比＜0.10％，第二相数量＜230个/mm2。本发明提供的铝材在阳极氧化处理后形成的氧化层表面没有坑点缺陷，铝材外观均匀性优良。
一种表面点缺陷及其制备方法