[发明专利]一种高载流子浓度重掺杂氧化镓外延薄膜的生长方法在审

专利信息
申请号: 202310794544.9 申请日: 2023-06-30
公开(公告)号: CN116752232A 公开(公告)日: 2023-09-15
发明(设计)人: 冯倩;李佳乐;王垚;田旭升;李文吉;张雅超;张进成 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: C30B25/18 分类号: C30B25/18;C30B25/16;C30B29/16;C30B25/14;H01L21/02
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华
地址: 710071 陕*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开了一种高载流子浓度重掺杂氧化镓外延薄膜的生长方法,主要解决现有重掺杂外延薄膜衬底使用成本高、缺陷密度高及载流子浓度低的问题。其实现方案为:选取蓝宝石衬底并进行清洗;将清洗好的衬底放入MOCVD的反应腔内进行预处理;通过改变反应室的温度、压强和反应源的比值,以在衬底上依次生长两层不同机理的缓冲层;再以GeH4为掺杂剂和催化剂,利用脉冲MOCVD法在第二缓冲层上外延浓度为1019cm‑3‑1020cm‑3的Ge重掺杂β‑Ga2O3薄膜,并对其进行退火处理,完成外延薄膜的制备。本发明降低了外延薄膜的缺陷密度和衬底使用成本,提高了载流子浓度,可用于功率器件和开关器件的制备。
搜索关键词: 一种 载流子 浓度 掺杂 氧化 外延 薄膜 生长 方法
【主权项】:
暂无信息
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