[发明专利]集成沟道二极管的碳化硅槽栅MOSFET器件及制造方法在审
| 申请号: | 202310563743.9 | 申请日: | 2023-05-18 |
| 公开(公告)号: | CN116525681A | 公开(公告)日: | 2023-08-01 |
| 发明(设计)人: | 张跃;张腾;黄润华;柏松;杨勇 | 申请(专利权)人: | 南京第三代半导体技术创新中心有限公司;南京第三代半导体技术创新中心 |
| 主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L21/336 |
| 代理公司: | 南京睿之博知识产权代理有限公司 32296 | 代理人: | 杨晓玲 |
| 地址: | 211111 江苏省南京市江宁经济技术*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | 本发明公开了一种集成沟道二极管的碳化硅槽栅MOSFET器件及制造方法,器件包括第一沟槽、第二沟槽、第一导电类型衬底、外延层、源区和沟道二极管源区、第二导电类型阱区、沟道二极管阱区。本发明于第一沟槽中形成栅极电极,于第一沟槽和第二沟槽中形成沟道二极管控制栅,在不增加元胞尺寸的前提下,于元胞中集成沟道二极管。在第三象限工作条件下,沟道二极管充当器件的续流二极管,抑制了体二极管的导通,避免了双极退化效应,有效减小了功率损耗。同时,沟道二极管的引入明显减小了器件的栅电容,有效改善了器件的开关特性。 | ||
| 搜索关键词: | 集成 沟道 二极管 碳化硅 mosfet 器件 制造 方法 | ||
【主权项】:
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