[发明专利]集成沟道二极管的碳化硅槽栅MOSFET器件及制造方法在审

专利信息
申请号: 202310563743.9 申请日: 2023-05-18
公开(公告)号: CN116525681A 公开(公告)日: 2023-08-01
发明(设计)人: 张跃;张腾;黄润华;柏松;杨勇 申请(专利权)人: 南京第三代半导体技术创新中心有限公司;南京第三代半导体技术创新中心
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L21/336
代理公司: 南京睿之博知识产权代理有限公司 32296 代理人: 杨晓玲
地址: 211111 江苏省南京市江宁经济技术*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种集成沟道二极管的碳化硅槽栅MOSFET器件及制造方法,器件包括第一沟槽、第二沟槽、第一导电类型衬底、外延层、源区和沟道二极管源区、第二导电类型阱区、沟道二极管阱区。本发明于第一沟槽中形成栅极电极,于第一沟槽和第二沟槽中形成沟道二极管控制栅,在不增加元胞尺寸的前提下,于元胞中集成沟道二极管。在第三象限工作条件下,沟道二极管充当器件的续流二极管,抑制了体二极管的导通,避免了双极退化效应,有效减小了功率损耗。同时,沟道二极管的引入明显减小了器件的栅电容,有效改善了器件的开关特性。
搜索关键词: 集成 沟道 二极管 碳化硅 mosfet 器件 制造 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京第三代半导体技术创新中心有限公司;南京第三代半导体技术创新中心,未经南京第三代半导体技术创新中心有限公司;南京第三代半导体技术创新中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202310563743.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top