[发明专利]一种感光芯片检测方法、装置、设备和介质在审
| 申请号： | 202310450318.9 | 申请日： | 2023-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN116542917A | 公开（公告）日： | 2023-08-04 |
| 发明（设计）人： | 韩志远;袁子超 | 申请（专利权）人： | 昆山丘钛光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;H04N23/73 |
| 代理公司： | 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 | 代理人： | 杨海霞 |
| 地址： | 215300 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种感光芯片检测方法、装置、设备和介质，包括：获取待测感光芯片在预设条件下拍摄得到的N张图片，N张图片的曝光时间不相同；确定每张图片各自的亮度值与曝光时间的第一关联关系，以及N张图片之间的亮度值与曝光时间的第二关联关系；若N张图片中至少M张图片对应的第一关联关系与第二关联关系之间的偏差度大于第一预设阈值，确定待测感光芯片不合格。本发明通过确定每张图片中亮度值与曝光时间之间的第一关联关系，以及N张图片之间亮度值与曝光时间之间的第二关联关系，基于第一关联关系和第二关联关系之间的偏差度，确定待测感光芯片的亮度值与曝光时间是否满足需求，即确定待测感光芯片是否合格。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 感光 芯片 检测 方法 装置 设备 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于昆山丘钛光电科技有限公司，未经昆山丘钛光电科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202310450318.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
