[发明专利]一种感光芯片检测方法、装置、设备和介质

说明书

本发明公开了一种感光芯片检测方法、装置、设备和介质，包括：获取待测感光芯片在预设条件下拍摄得到的N张图片，N张图片的曝光时间不相同；确定每张图片各自的亮度值与曝光时间的第一关联关系，以及N张图片之间的亮度值与曝光时间的第二关联关系；若N张图片中至少M张图片对应的第一关联关系与第二关联关系之间的偏差度大于第一预设阈值，确定待测感光芯片不合格。本发明通过确定每张图片中亮度值与曝光时间之间的第一关联关系，以及N张图片之间亮度值与曝光时间之间的第二关联关系，基于第一关联关系和第二关联关系之间的偏差度，确定待测感光芯片的亮度值与曝光时间是否满足需求，即确定待测感光芯片是否合格。

技术领域

本发明涉及感光芯片技术领域，尤其涉及一种感光芯片检测方法、装置、设备和介质。

背景技术

摄像头模组是影像捕捉至关重要的电子器件，能够将物体的光信号转换为可以读取和储存的数字信号，主要包括镜头、感光芯片、马达、滤光片、电路板、底座等部件。其中，感光芯片(也可以称为影像传感芯片)是摄像头模组的核心器件，主要用于感受光线并经过光电转换产生数字图片。

对于感光芯片而言，芯片接收的光照量越多(例如曝光时间越长)，拍摄的图片越亮。然而，如何根据芯片拍摄图片的曝光时间和亮度，判断当前芯片是否合格是亟需解决的问题。

发明内容

本申请实施例通过提供一种感光芯片检测方法、装置、设备和介质，解决了现有技术中无法根据芯片拍摄图片的曝光时间和亮度，判断当前芯片是否合格的技术问题，实现了根据芯片拍摄图片的曝光时间和亮度，识别当前芯片是否合格的技术效果。

第一方面，本申请提供了一种感光芯片检测方法，方法包括：

获取待测感光芯片在预设条件下拍摄得到的N张图片，N张图片的曝光时间不相同；N为大于等于2的正整数；

确定每张图片各自的亮度值与曝光时间的第一关联关系，以及N张图片之间的亮度值与曝光时间的第二关联关系；

若N张图片中至少M张图片对应的第一关联关系与第二关联关系之间的偏差度大于第一预设阈值，确定待测感光芯片不合格；M为小于等于N且大于等于1的正整数。

进一步地，在待测感光芯片拍摄N张图片的过程中或者在拍摄N张图片之前，方法还包括：

根据待测感光芯片的最大曝光时间，确定待测感光芯片拍摄N张图片时各张图片对应的曝光时间。

进一步地，在确定每张图片各自的亮度值与曝光时间的第一关联关系之前，方法还包括：

根据待测感光芯片的检测需求，在每张图片中划定目标区域；

根据每张图片的目标区域的亮度值，确定每张图片的亮度值。

进一步地，每张图片的目标区域为中心区域。

进一步地，确定每张图片各自的亮度值与曝光时间的第一关联关系，包括：

根据每张图片的亮度值和曝光时间，以及待测感光芯片的暗电流值，确定每张图片中亮度值和曝光时间之间的第一关联关系，第一关联关系与线性关系相关。

进一步地，确定N张图片之间的亮度值与曝光时间的第二关联关系，包括：

拟合N张图片之间的亮度值和曝光时间，确定N张图片之间的亮度值与曝光时间的第二关联关系，第二关联关系与线性关系相关。

进一步地，在获取N张图片之后，方法还包括：

识别每张图片的目标种类通道；

确定每张图片各自的目标种类通道的亮度值与曝光时间的第三关联关系，以及N张图片之间的目标种类通道的亮度值与曝光时间的第四关联关系；