[发明专利]一种感光芯片检测方法、装置、设备和介质

权利要求书

1.一种感光芯片检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待测感光芯片在预设条件下拍摄得到的N张图片，所述N张图片的曝光时间不相同；N为大于等于2的正整数；

确定每张图片各自的亮度值与曝光时间的第一关联关系，以及所述N张图片之间的亮度值与曝光时间的第二关联关系；

若所述N张图片中至少M张图片对应的所述第一关联关系与所述第二关联关系之间的偏差度大于第一预设阈值，确定所述待测感光芯片不合格；M为小于等于N且大于等于1的正整数。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述待测感光芯片拍摄所述N张图片的过程中或者在拍摄所述N张图片之前，所述方法还包括：

根据所述待测感光芯片的最大曝光时间，确定所述待测感光芯片拍摄所述N张图片时各张图片对应的曝光时间。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在确定每张图片各自的亮度值与曝光时间的第一关联关系之前，所述方法还包括：

根据所述待测感光芯片的检测需求，在每张图片中划定目标区域；

根据每张图片的目标区域的亮度值，确定每张图片的亮度值。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，每张图片的目标区域为中心区域。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定每张图片各自的亮度值与曝光时间的第一关联关系，包括：

根据每张图片的亮度值和曝光时间，以及所述待测感光芯片的暗电流值，确定每张图片中亮度值和曝光时间之间的第一关联关系，所述第一关联关系与线性关系相关。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述N张图片之间的亮度值与曝光时间的第二关联关系，包括：

拟合所述N张图片之间的亮度值和曝光时间，确定所述N张图片之间的亮度值与曝光时间的第二关联关系，所述第二关联关系与线性关系相关。

7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在获取所述N张图片之后，所述方法还包括：

识别每张图片的目标种类通道；

确定每张图片各自的目标种类通道的亮度值与曝光时间的第三关联关系，以及所述N张图片之间的目标种类通道的亮度值与曝光时间的第四关联关系；

若所述N张图片中至少P张图片的目标种类通道对应的第三关联关系与所述第四关联关系之间的偏差度大于第二预设阈值，确定所述待测感光芯片不合格；P为小于等于N且大于等于1的正整数。

8.一种感光芯片检测装置，其特征在于，所述装置包括：

图片获取模块，用于获取待测感光芯片在预设条件下拍摄得到的N张图片，所述N张图片的曝光时间不相同；N为大于等于2的正整数；

关系确定模块，用于确定每张图片各自的亮度值与曝光时间的第一关联关系，以及所述N张图片之间的亮度值与曝光时间的第二关联关系；

判断模块，用于若所述N张图片中至少M张图片对应的所述第一关联关系与所述第二关联关系之间的偏差度大于第一预设阈值，确定所述待测感光芯片不合格；M为小于等于N且大于等于1的正整数。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：

处理器；

用于存储所述处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为执行以实现如权利要求1至7中任一项所述的一种感光芯片检测方法。

10.一种非临时性计算机可读存储介质，当所述存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时，使得电子设备能够执行实现如权利要求1至7中任一项所述的一种感光芯片检测方法。