[发明专利]一种基于改进YOLOv5的小样本芯片外观缺陷检测方法及检测系统在审
| 申请号： | 202310363269.5 | 申请日： | 2023-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN116228740A | 公开（公告）日： | 2023-06-06 |
| 发明（设计）人： | 陈俊风;成佳康;谢迎娟;王海滨 | 申请（专利权）人： | 河海大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/764;G06V10/774;G06V10/82;G06N3/0464;G06N3/048;G06N3/08 |
| 代理公司： | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人： | 王安琪 |
| 地址： | 210024 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于改进YOLOv5的小样本芯片外观缺陷检测方法及检测系统，该方法包括获取有缺陷的图像作为原始数据集；利用原始数据集训练生成对抗网络，从而获得扩增数据集；在YOLOv5神经网络模型中引入CBAM注意力机制，获得改进YOLOv5：利用扩增数据集训练改进YOLOv5神经网络模型，获得缺陷检测模型；获取待测芯片的图片，并进行预处理后输入缺陷检测模型中进行检测，将检测出有缺陷的图片输入到显示器进行显示，根据显示的图片找出对应的芯片；该系统包括模型训练模块、图片采集模块、显示和打标模块。本发明解决了现有技术中基于YOLOv4网络构建的缺陷检测所用的深度学习网络模型存在着缺陷数据量过少容易导致网络模型过拟合的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 改进 yolov5 样本 芯片 外观 缺陷 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
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