[发明专利]一种基于物联网的半导体数据测试异常预警系统及方法有效
申请号: | 202310232466.3 | 申请日: | 2023-03-13 |
公开(公告)号: | CN116090258B | 公开(公告)日: | 2023-06-09 |
发明(设计)人: | 邹毅;罗松枝 | 申请(专利权)人: | 常州满旺半导体科技有限公司 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G06F18/213;G06F16/9035;G16Y40/10 |
代理公司: | 北京华际知识产权代理有限公司 11676 | 代理人: | 袁瑞红 |
地址: | 213000 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及半导体测试数据管理技术领域,具体为一种基于物联网的半导体数据测试异常预警系统及方法,包括分别对各历史测试记录进行特征信息提取;分别将规格型号相同的目标测试半导体所对应的历史测试记录进行汇集;分别在每一个历史测试记录集合中,对在半导体测试中存在的信息链接对进行挖掘;分别对每一个历史测试记录集合中存在的每一条信息链接对进行特征指数计算;筛选出在对应每一个历史测试记录集合的半导体测试要求标准下存在的特征信息链接对;并对各特征信息链接对进行补充参考数据的提取;整合在所有半导体测试要求标准下的特征信息链接对和对应的补充参考数据,构建半导体测试模型。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 联网 半导体 数据 测试 异常 预警系统 方法 | ||
【主权项】:
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