[发明专利]一种基于物联网的半导体数据测试异常预警系统及方法

权利要求书

1.一种基于物联网的半导体数据测试异常预警方法，其特征在于，所述方法包括：

步骤S100：对在半导体测试台中开展的所有历史测试记录进行数据传输存储；分别对各历史测试记录进行特征信息提取；

步骤S200：分别将规格型号相同的目标测试半导体所对应的历史测试记录进行汇集，得到若干个历史测试记录集合；设一个历史测试记录集合对应为在一种半导体测试要求标准下得到的历史测试记录集合；

步骤S300：分别在每一个历史测试记录集合中，基于所有历史测试记录之间的特征信息分布关系，对在半导体测试中存在的信息链接对进行挖掘；

步骤S400：分别对每一个历史测试记录集合中存在的每一条信息链接对进行特征指数计算；基于特征指数计算结果，筛选出在对应每一个历史测试记录集合的半导体测试要求标准下存在的特征信息链接对；并对各特征信息链接对进行补充参考数据的提取；

步骤S500：整合在所有半导体测试要求标准下的特征信息链接对和对应的补充参考数据，构建半导体测试模型；通过在半导体测试模型中输入待测试半导体的规格型号以及对应的测试要求，将满足测试输入条件的特征信息链接对以及补充参考数据反馈给测试工程师，辅助测试工程师进行相应测试流程的制定以及相应异常测试数据的分析。

2.根据权利要求1所述的一种基于物联网的半导体数据测试异常预警方法，其特征在于，所述步骤S100包括：

步骤S101：分别获取每一历史测试记录所对应的若干测试要求；其中，一个测试要求对应一种目标测试功能；将汇集若干测试要求得到的测试要求集合设为所述每一历史测试记录的第一特征信息；

步骤S102：分别在每一历史测试记录中，捕捉测试工程师基于所述每一历史测试记录所对应的测试要求信息，对目标测试半导体所制定的测试流程；捕捉在所述测试流程中每一测试工序下对应需执行的测试内容，基于所述测试内容对所述每一测试工序所目标测试的特性参数项进行锁定，汇集锁定的全部特性参数项，得到特性参数项集合，将所述特性参数项集合设为所述每一历史测试记录的第二特征信息；

步骤S103：分别在每一历史测试记录中，捕捉测试工程师对在每一测试工序下得到的测试数据，判定是否异常时所遵循的判定条件，分别构建得到对应所述每一测试工序的信息对[x_i,yx_i]；其中，x_i表示第i个测试工序所目标测试的特性参数项，yx_i表示测试工程师将在x_i下得到的测试数据判定是否异常时所遵循的判定条件；汇集所有信息对，得到信息对集合，将所述信息对集合设为所述每一历史测试记录的第三特征信息。

3.根据权利要求2所述的一种基于物联网的半导体数据测试异常预警方法，其特征在于，每一测试工序下，判定得到的测试数据是否异常时所遵循的判定条件包括：所述得到的测试数据与某个基准值之间需满足的数值比对关系，或者所述得到的测试数据与某个基准范围之间需满足的包含关系。