[发明专利]一种基于双光子荧光的半导体载流子类型测试方法在审
| 申请号： | 202310192280.X | 申请日： | 2023-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN116297365A | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 姜小芳;李琛晖;王晶;刘颖臻;陈泽楷 | 申请（专利权）人： | 华南师范大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 深圳叁众知识产权代理事务所(普通合伙) 44434 | 代理人： | 董杨 |
| 地址： | 510006 广东省广州市番*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： |
本发明涉及一种基于双光子荧光的半导体载流子类型测试方法，其包括如下步骤：S1、选择钙钛矿作为待测样品，将所述待测对象放置于荧光光谱探测系统的样品台上；S2、调整所述荧光光谱探测系统的光源板块中的激发波长，所述激发波长通过4f系统，进入衰减片，并产生一个功率I |
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| 搜索关键词： | 一种 基于 光子 荧光 半导体 载流子 类型 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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