[发明专利]一种阻容与芯片集成封装制备方法在审
申请号: | 202310045241.7 | 申请日: | 2023-01-30 |
公开(公告)号: | CN115966477A | 公开(公告)日: | 2023-04-14 |
发明(设计)人: | 袁渊 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;H01L21/48;H01L23/31;H01L23/528 |
代理公司: | 无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙) 32340 | 代理人: | 杨强 |
地址: | 214000 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开一种阻容与芯片集成封装制备方法,属于晶圆级扇出型封装领域。将芯片与阻容贴装在临时键合载板上;通过模封料将临时键合载板上的芯片与阻容注塑成型,重构形成新的圆片;将临时键合载板进行解键合,解键合后的正面用于后续再布线等工艺加工;在圆片正面通过光刻和电镀工艺完成再布线和引出焊盘层制备;在再布线和引出焊盘层上进行晶圆级凸点制备,完成封装模组信号引出;对圆片背面减薄,通过划片完成单个芯片与阻容一体化集成的封装模组。本发明通过晶圆级扇出型封装技术可以实现多个阻容或者芯片与阻容的多功能和高密度集成,具备模块尺寸减小,模块集成度提高,节省基板外层空间等优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 芯片 集成 封装 制备 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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