[发明专利]半导体装置及电子设备在审

专利信息
申请号: 202280016473.3 申请日: 2022-02-14
公开(公告)号: CN116868157A 公开(公告)日: 2023-10-10
发明(设计)人: 楠纮慈;渡边一德;热海知昭;吉本智史 申请(专利权)人: 株式会社半导体能源研究所
主分类号: G06F3/042 分类号: G06F3/042
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 宋俊寅;张鑫
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 提供一种具有光检测功能的包括高清晰显示部的半导体装置。半导体装置包括多个像素,像素包括第一及第二受光器件、第一至第五晶体管、电容器及第一布线。第一受光器件的一个电极与第一布线电连接,第一受光器件的另一个电极与第一晶体管的源极和漏极中的一个电连接。第二受光器件的一个电极与第一布线电连接,第二受光器件的另一个电极与第二晶体管的源极和漏极中的一个电连接。第二晶体管的源极和漏极中的另一个与第一晶体管的源极和漏极中的另一个电连接。第一晶体管的源极和漏极中的另一个与电容器的一个电极、第三晶体管的源极和漏极中的一个及第四晶体管的栅极电连接。
搜索关键词: 半导体 装置 电子设备
【主权项】:
暂无信息
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