[实用新型]半导体测试用防止损坏的安全门加强结构

摘要

本实用新型公开了半导体测试用防止损坏的安全门加强结构，包括第一本体、第二本体、调节装置和固定装置，所述第一本体通过滑动装置镶嵌有第二本体，且第一本体和第二本体为T形，所述第一本体和第二本体的一端均镶嵌有调节装置，且第一本体和第二本体与调节装置之间设置有固定装置，所述调节装置与第一本体和第二本体均构成滑动结构，且调节装置和第一本体和第二本体上均设置有螺栓孔。该半导体测试用防止损坏的安全门加强结构为T形街否，能够通过螺栓孔使用螺栓把加强装置固定在安全门上面，大大加强了门边缘的强度，防止们出现破裂影响使用，大大延长了安全门的使用寿命，降低了公司的成本。