[实用新型]半导体测试用防止损坏的安全门加强结构

说明书

本实用新型公开了半导体测试用防止损坏的安全门加强结构，包括第一本体、第二本体、调节装置和固定装置，所述第一本体通过滑动装置镶嵌有第二本体，且第一本体和第二本体为T形，所述第一本体和第二本体的一端均镶嵌有调节装置，且第一本体和第二本体与调节装置之间设置有固定装置，所述调节装置与第一本体和第二本体均构成滑动结构，且调节装置和第一本体和第二本体上均设置有螺栓孔。该半导体测试用防止损坏的安全门加强结构为T形街否，能够通过螺栓孔使用螺栓把加强装置固定在安全门上面，大大加强了门边缘的强度，防止们出现破裂影响使用，大大延长了安全门的使用寿命，降低了公司的成本。

技术领域

本实用新型属于半导体生产设备技术领域，具体为半导体测试用防止损坏的安全门加强结构。

背景技术

半导体(semiconductor)，指常温下导电性能介于导体(conductor)与绝缘体(insulator)之间的材料。半导体在收音机、电视机以及测温上有着广泛的应用。如二极管就是采用半导体制作的器件。半导体是指导电性可受控制，范围可从绝缘体至导体之间的材料，半导体在生产过程中要进行测试，在生产过程中，操作员因为需要反复打开设备安全门，导致安全门经常损坏。

实用新型内容

针对现有技术存在的上述问题，本实用新型所要解决的技术问题在于提供半导体测试用防止损坏的安全门加强结构，以解决目前的反复打开设备安全门，导致安全门经常损坏的问题。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为：

半导体测试用防止损坏的安全门加强结构，包括第一本体、第二本体、调节装置和固定装置，所述第一本体通过滑动装置镶嵌有第二本体，且第一本体和第二本体为T形，第一本体和第二本体为固定连接，所述第一本体和第二本体的一端均镶嵌有调节装置，且第一本体和第二本体与调节装置之间设置有固定装置，所述调节装置与第一本体和第二本体均构成滑动结构，且调节装置和第一本体和第二本体上均设置有螺栓孔。

进一步的，所述第一本体和第二本体内均匀设置有2条插孔上。

进一步的，所述调节装置包括安装板和插条，所述安装板的一侧设置有2个插条，插条与插孔相对应，且插条的一侧面上均匀设置有钳口。

进一步的，所述固定装置设置有在第一本体和第二本体上，固定装置包括按板和插头，按板和插头固定连接，按板和插头之间设置有插杆，插头位于插孔中，且插头与钳口相对应。

进一步的，所述钳口切面为倒置梯形，插头的切面为倒置梯形，且插头顶端两侧设置有间隙。

进一步的，所述固定装置与第一本体和第二本体活动连接。

有益效果：与现有技术相比，本申请具有以下优势：

1.该半导体测试用防止损坏的安全门加强结构为T形街否，能够通过螺栓孔使用螺栓把加强装置固定在安全门上面，大大加强了门边缘的强度，防止们出现破裂影响使用，大大延长了安全门的使用寿命，降低了公司的成本。

2.该半导体测试用防止损坏的安全门加强结构的第一本体和第二本体均设置有调节装置，使用者可根据不同的安全门来控制调节装置的位置，调节装置可以在第一本体和第二本体内延伸增加长度，以此提高长度，当长度调节完毕之后，按下固定装置，固定装置就会卡死在调节装置中，以此控制整体的大小，大大提高加强装置与不同安全门的配合度，提高适用性。

附图说明

图1是半导体测试用防止损坏的安全门加强结构面结构示意图；

图2是半导体测试用防止损坏的安全门加强结构部分结构示意图；

图3是固定装置结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型做进一步的说明。