[实用新型]半导体测试用防止损坏的安全门加强结构有效

专利信息
申请号: 202221164281.0 申请日: 2022-05-13
公开(公告)号: CN217760632U 公开(公告)日: 2022-11-08
发明(设计)人: 毛丹辉;周鑫 申请(专利权)人: 江苏艾科半导体有限公司
主分类号: E06B3/30 分类号: E06B3/30;E06B3/88
代理公司: 南京申云知识产权代理事务所(普通合伙) 32274 代理人: 邱兴天
地址: 212000 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 半导体 测试 防止 损坏 安全门 加强 结构
【权利要求书】:

1.半导体测试用防止损坏的安全门加强结构,其特征在于:包括第一本体(1)、第二本体(2)、调节装置(3)和固定装置(7),所述第一本体(1)通过滑动装置镶嵌有第二本体(2),且第一本体(1)和第二本体(2)为T形,第一本体(1)和第二本体(2)为固定连接,所述第一本体(1)和第二本体(2)的一端均镶嵌有调节装置(3),且第一本体(1)和第二本体(2)与调节装置(3)之间设置有固定装置(7),所述调节装置(3)与第一本体(1)和第二本体(2)均构成滑动结构,且调节装置(3)和第一本体(1)和第二本体(2)上均设置有螺栓孔(10)。

2.根据权利要求1所述的半导体测试用防止损坏的安全门加强结构,其特征在于:所述第一本体(1)和第二本体(2)内均匀设置有2条插孔(11)。

3.根据权利要求1所述的半导体测试用防止损坏的安全门加强结构,其特征在于:所述调节装置(3)包括安装板(4)和插条(5),所述安装板(4)的一侧设置有2个插条(5),插条(5)与插孔(11)相对应,且插条(5)的一侧面上均匀设置有钳口(6)。

4.根据权利要求1所述的半导体测试用防止损坏的安全门加强结构,其特征在于:所述固定装置(7)设置有在第一本体(1)和第二本体(2)上,固定装置(7)包括按板(8)和插头(9),按板(8)和插头(9)固定连接,按板(8)和插头(9)之间设置有插杆,插头(9)位于插孔(11)中,且插头(9)与钳口(6)相对应。

5.根据权利要求4所述的半导体测试用防止损坏的安全门加强结构,其特征在于:所述钳口(6)切面为倒置梯形,插头(9)的切面为倒置梯形,且插头(9)顶端两侧设置有间隙。

6.根据权利要求1所述的半导体测试用防止损坏的安全门加强结构,其特征在于:所述固定装置(7)与第一本体(1)和第二本体(2)活动连接。

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