[实用新型]复合SiC外延片以及半导体器件有效

专利信息
申请号: 202220387555.6 申请日: 2022-02-24
公开(公告)号: CN216773256U 公开(公告)日: 2022-06-17
发明(设计)人: 杨冰;袁俊 申请(专利权)人: 湖北九峰山实验室
主分类号: H01L29/16 分类号: H01L29/16;H01L21/02
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 姚璐华
地址: 430070 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本申请公开了一种复合SiC外延片以及半导体器件,所述复合SiC外延片包括:基于预设半导体衬底形成的第一SiC层,所述第一SiC层为多晶SiC外延层;键合在所述第一SiC外延层表面上的第二SiC层,所述第二SiC层为单晶SiC薄片。本申请技术方案提供了一种复合式SiC外延片,在多晶SiC外延层上键合单晶SiC薄片,通过对高质量单晶SiC薄片的有效利用,达到降低材料成本,提高产出质量,提升供应安全性的目的。
搜索关键词: 复合 sic 外延 以及 半导体器件
【主权项】:
暂无信息
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