[发明专利]工件缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202211708556.7 | 申请日： | 2022-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN116245808A | 公开（公告）日： | 2023-06-09 |
| 发明（设计）人： | 刘红 | 申请（专利权）人： | 凌云光技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/774;G06V10/764 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 张娜 |
| 地址： | 100094 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种工件缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，属于图像处理技术领域。该方法包括：获取待测工件的第一工件图像；将第一工件图像输入至缺陷检测模型，获得缺陷检测模型输出的第一缺陷信息；其中，将第一工件图像输入至缺陷检测模型，获得缺陷检测模型输出的第一缺陷信息进一步包括：对第一工件图像的掩膜区域进行掩膜处理，得到第二工件图像，第一工件图像的掩膜区域基于目标缺陷分布密度图确定；对第二工件图像进行缺陷检测，得到第一缺陷信息；其中，缺陷检测模型是基于样本图像集及其对应的样本标签训练得到的，目标缺陷分布密度图用于表征样本图像集中各个缺陷类别分布的相对密度。该方法可以精准定位图像中的掩膜区域。 | ||
| 搜索关键词： | 工件 缺陷 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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