[发明专利]一种半导体存储类产品的性能测试方法及系统有效
| 申请号： | 202211536858.0 | 申请日： | 2022-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN115543715B | 公开（公告）日： | 2023-05-05 |
| 发明（设计）人： | 李庭育;陈育鸣;齐元辅 | 申请（专利权）人： | 江苏华存电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G11C29/56 |
| 代理公司： | 南通国鑫智汇知识产权代理事务所(普通合伙) 32606 | 代理人： | 吕林峰 |
| 地址： | 226000 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种半导体存储类产品的性能测试方法，所述方法包括：获得第一半导体存储产品的结构单元设计信息；根据所述结构单元设计信息，确定第一存储类别；按照所述第一存储类别，配置第一测试指标集；根据所述第一测试指标集和所述数据采集装置采集多组测试样本数据，获得第一测试函数；根据所述多组测试样本数据对所述第一半导体存储产品进行存储时间响应测试，输出第一响应结果；根据所述第一响应结果进行数据曲线拟合分析，输出第二测试函数；通过对所述第一测试函数和所述第二测试函数进行函数比对，根据比对结果获得产品性能测试结果。解决了现有性能测试方法所获半导体存储类产品性能测试结果与产品实际性能有出入的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 存储 类产品 性能 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏华存电子科技有限公司，未经江苏华存电子科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202211536858.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
