[发明专利]一种半导体存储类产品的性能测试方法及系统

说明书

本发明提供了一种半导体存储类产品的性能测试方法，所述方法包括：获得第一半导体存储产品的结构单元设计信息；根据所述结构单元设计信息，确定第一存储类别；按照所述第一存储类别，配置第一测试指标集；根据所述第一测试指标集和所述数据采集装置采集多组测试样本数据，获得第一测试函数；根据所述多组测试样本数据对所述第一半导体存储产品进行存储时间响应测试，输出第一响应结果；根据所述第一响应结果进行数据曲线拟合分析，输出第二测试函数；通过对所述第一测试函数和所述第二测试函数进行函数比对，根据比对结果获得产品性能测试结果。解决了现有性能测试方法所获半导体存储类产品性能测试结果与产品实际性能有出入的技术问题。

技术领域

本发明涉及信息存储技术领域，具体涉及一种半导体存储类产品的性能测试方法及系统。

背景技术

存储器是现代信息技术中进行信息保存的重要工具，现阶段半导体存储介质因其在体积大小、存储容量以及读写速度等方面的优势，而逐渐替代其他类型存储器被广泛应用于信息存储中。

目前一般将存储器工作的峰值数据速率作为评估存储类产品性能的性能规范，且存储器峰值数据速率也被应用于主流的存储器件命名中。通过对存储器进行一定数据量的数据存储测试，获得存储器的峰值数据速率，完成对存储产品的性能评价和产品命名。

现有的半导体存储类产品在使用过程中，设备的实际工作性能不能维持甚至完全无法达到峰值数据速率，通过现有的存储器性能测试方法对半导体存储类产品进行性能测试，所获性能测试结果存在不稳定、不准确，与产品的实际性能有出入的技术问题。

发明内容

本申请提供了一种半导体存储类产品的性能测试方法及系统，用于针对解决现有技术中存储器性能测试方法对半导体存储类产品进行性能测试，所获性能测试结果存在不稳定、不准确，与产品的实际性能有出入的技术问题。

鉴于上述问题，本申请提供了一种半导体存储类产品的性能测试方法及系统。

本申请的第一个方面，提供了一种半导体存储类产品的性能测试方法，所述方法包括：获得第一半导体存储产品的结构单元设计信息；根据所述结构单元设计信息，确定第一存储类别；按照所述第一存储类别，配置第一测试指标集，其中，所述第一测试指标集为产品测试的性能指标；根据所述第一测试指标集和所述数据采集装置采集多组测试样本数据，获得第一测试函数，其中，所述多组测试样本数据为样本数量不相同的数据，且所述多组测试样本数据的数据量具有函数关系；根据所述多组测试样本数据对所述第一半导体存储产品进行存储时间响应测试，输出第一响应结果，所述第一响应结果包括多组存储时间响应结果；根据所述第一响应结果进行数据曲线拟合分析，输出第二测试函数；通过对所述第一测试函数和所述第二测试函数进行函数比对，根据比对结果对所述第一响应结果进行标定，获得产品性能测试结果。

本申请的第二个方面，提供了一种半导体存储类产品的性能测试系统，所述系统包括：第一获得单元，用于获得第一半导体存储产品的结构单元设计信息；第一处理单元，用于根据所述结构单元设计信息，确定第一存储类别；第一配置单元，用于按照所述第一存储类别，配置第一测试指标集，其中，所述第一测试指标集为产品测试的性能指标；第二获得单元，用于根据所述第一测试指标集和数据采集装置采集多组测试样本数据，获得第一测试函数，其中，所述多组测试样本数据为样本数量不相同的数据，且所述多组测试样本数据的数据量具有函数关系；第一输出单元，用于根据所述多组测试样本数据对所述第一半导体存储产品进行存储时间响应测试，输出第一响应结果，所述第一响应结果包括多组存储时间响应结果；第二输出单元，用于根据所述第一响应结果进行数据曲线拟合分析，输出第二测试函数；第三获得单元，用于通过对所述第一测试函数和所述第二测试函数进行函数比对，根据比对结果对所述第一响应结果进行标定，获得产品性能测试结果。

本申请的第三个方面，提供了一种半导体存储类产品的性能测试系统，包括：处理器，所述处理器与存储器耦合，所述存储器用于存储程序，当所述程序被所述处理器执行时，使系统以执行如第一方面所述方法的步骤。