[发明专利]基于弱监督目标检测的工业品表面缺陷位置检测方法有效
| 申请号： | 202211425972.6 | 申请日： | 2022-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN115661123B | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 董航程;刘国栋;刘炳国;黄颖妍;蒋宇浩;叶东 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/70;G06T7/136;G06V10/26;G06V10/46;G06V10/764;G06V10/82;G06V20/00;G06V20/70;G06N3/0464 |
| 代理公司： | 哈尔滨市松花江联合专利商标代理有限公司 23213 | 代理人： | 岳昕 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： |
基于弱监督目标检测的工业品表面缺陷位置检测方法，解决了如何利用有限数据、简易标注的样本实现高精度表面缺陷检测的问题，属于表面缺陷检测领域。本发明包括：获取工业品表面缺陷的基础分类模型，作为主干模型f |
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| 搜索关键词： | 基于 监督 目标 检测 工业品 表面 缺陷 位置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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