[发明专利]一种栅对准选区JFET注入的VDMOSFET器件及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202211329546.2 申请日: 2022-10-27
公开(公告)号: CN115692200A 公开(公告)日: 2023-02-03
发明(设计)人: 韩超;谷晓洁;汤晓燕;陶利;王东;吴勇;陈兴;黄永 申请(专利权)人: 西安电子科技大学芜湖研究院
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;H01L29/78;H01L29/06;H01L29/10
代理公司: 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 代理人: 李薇
地址: 241002 安徽省芜湖市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种栅对准选区JFET注入的VDMOSFET器件及其制备方法,该方法包括:在N+衬底上外延形成N‑漂移区,在N‑漂移区上淀积SiO2层;在SiO2层上使用预设的多晶硅栅的掩膜版形成反转胶图形;刻蚀反转胶图形之间的SiO2层形成凹槽;在SiO2层上表面及凹槽中进行离子注入以在凹槽下方形成JFET区;在N‑漂移区上方依次形成SiO2栅氧化层和多晶硅栅;利用多晶硅栅进行自对准离子注入,以在JFET区两侧分别形成一个P阱,在每个P阱上表面进行离子注入及退火推结,形成N+源区;在SiO2栅氧化层和多晶硅栅上淀积形成层间介质,并在整个器件的上表面形成源极;在N+衬底背面形成漏极。本发明提高了P阱处纵向PN结的承压能力同时有效减小JFET电阻进而提高了VDMOSFET器件导通性和功率优值。
搜索关键词: 一种 对准 选区 jfet 注入 vdmosfet 器件 及其 制备 方法
【主权项】:
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