[发明专利]环境电容的确定、检测方法和系统、芯片、电子设备在审

专利信息
申请号: 202211291506.3 申请日: 2022-10-20
公开(公告)号: CN115684734A 公开(公告)日: 2023-02-03
发明(设计)人: 洪聪;程涛;刘业凡;张荣生;谢伟军;张忠 申请(专利权)人: 上海艾为电子技术股份有限公司
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 深圳市嘉勤知识产权代理有限公司 44651 代理人: 汤金燕
地址: 201100 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 本申请公开一种环境电容的确定、检测方法和系统、芯片、电子设备。其中环境电容的确定方法用于确定电容式芯片在接近检测过程中采用的当前环境电容,包括:获取第一接近电容;根据所述第一接近电容与预设的第一环境电容确定第一差值,所述第一环境电容为所述电容式芯片在无干扰环境下获得的电容参数,所述第一差值用于识别所述第一接近电容是否对应对象接近;根据所述第一差值与第一阈值之间的关系选择所述电容式芯片当前环境电容的确定方式,所述第一阈值用于识别所述电容式芯片的所处环境。本申请可以准确地确定电容式芯片的当前环境电容。
搜索关键词: 环境 电容 确定 检测 方法 系统 芯片 电子设备
【主权项】:
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