[发明专利]环境电容的确定、检测方法和系统、芯片、电子设备

说明书

本申请公开一种环境电容的确定、检测方法和系统、芯片、电子设备。其中环境电容的确定方法用于确定电容式芯片在接近检测过程中采用的当前环境电容，包括：获取第一接近电容；根据所述第一接近电容与预设的第一环境电容确定第一差值，所述第一环境电容为所述电容式芯片在无干扰环境下获得的电容参数，所述第一差值用于识别所述第一接近电容是否对应对象接近；根据所述第一差值与第一阈值之间的关系选择所述电容式芯片当前环境电容的确定方式，所述第一阈值用于识别所述电容式芯片的所处环境。本申请可以准确地确定电容式芯片的当前环境电容。

技术领域

本申请涉及数据处理技术领域，具体涉及一种环境电容的确定、检测方法和系统、芯片、电子设备。

背景技术

SAR(Specific Absorption Rate，电磁辐射能量吸收比率)指的是单位时间内单位质量的物质吸收的电磁辐射能量，SAR主要用于手机辐射的认证，是辐射被头部的软组织吸收的比率，SAR值越低，辐射被脑部吸收的量越少。SAR传感器主要用于区分无生命物体(如便携式电子设备等物品)和人体的接近度，可用于便携式电子设备，如智能手机和可穿戴设备。SAR传感器主要原理是测量人体/物体与对应传感器电极之间形成的电容，根据电容的大小来判断是否有人体/物体接近。发明人对SAR传感器对应的接近检测方案进行研究，发现在一些情况下，接近检测方案存在检测准确性低的问题。

发明内容

鉴于此，本申请提供一种环境电容的确定、检测方法和系统、芯片、电子设备，以解决在一些情况下，接近检测方案存在检测准确性低的问题。

本申请提供一种环境电容的确定方法，用于确定电容式芯片在接近检测过程中采用的当前环境电容；所述确定方法包括：

获取第一接近电容；

根据所述第一接近电容与预设的第一环境电容确定第一差值，所述第一环境电容为所述电容式芯片在无干扰环境下获得的电容参数，所述第一差值用于识别所述第一接近电容是否对应对象接近；

根据所述第一差值与第一阈值之间的关系选择所述电容式芯片当前环境电容的确定方式，以根据所述确定方式确定所述电容式芯片的当前环境电容，所述第一阈值用于识别所述电容式芯片的所处环境。

可选地，所述第一环境电容包括所述电容式芯片在出厂且无对象接近时，获得的电容参数。

可选地，所述第一环境电容具有对应的第一温度；所述根据所述第一接近电容与预设的第一环境电容确定第一差值包括：获取所述第一接近电容对应的第二温度；根据所述第一温度和所述第二温度确定所述第一环境电容对应的第二环境电容；根据所述第一接近电容和所述第二环境电容之间的差值确定所述第一差值。

可选地，所述根据所述第一温度和所述第二温度确定所述第一环境电容对应的第二环境电容，包括：获取所述电容式芯片对应的环境电容-温度变化关系，所述环境电容-温度变化关系用于记录所述电容式芯片的环境电容随温度的变化特征；根据所述第一温度、所述第二温度和所述环境电容-温度变化关系计算第一电容变化量；根据所述第一电容变化量和所述第一环境电容计算所述第二环境电容。

可选地，所述确定方式包括：根据预存的环境电容确定所述当前环境电容，以及实时校准所述当前环境电容。

可选地，所述根据所述第一差值与第一阈值之间的关系选择所述电容式芯片当前环境电容的确定方式，以根据所述确定方式确定所述电容式芯片的当前环境电容，包括：若所述第一差值大于或等于所述第一阈值，则将所述第一环境电容确定为所述当前环境电容；若所述第一差值小于所述第一阈值，则根据所述电容式芯片当前获取的第三环境电容确定所述当前环境电容。

可选地，所述第三环境电容的获取方法包括：读取所述电容式芯片当然获得的多个初始电容；对各个所述初始电容进行滤波处理，以确定所述第三环境电容。

本申请还提供一种检测方法，用于电容式芯片检测相应对象是否接近；所述检测方法包括：