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[发明专利]铁掺杂磷化镍钴与三氧化钼复合的电解水双功能催化剂及其制备方法-CN202211674427.0在审
发明人：陈迁乔;郭丰野;刘懿峰;刘业凡;沈嘉莹;李文化 -专利权人：南京理工大学
申请日： 2022-12-26 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： C25B1/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种铁掺杂磷化镍钴与三氧化钼复合的电解水双功能催化剂及其制备方法。所述方法采用一步水热法先合成Mo7O246‑离子插层结构的层状双氢氧化物Fe‑NiCo‑LDHs‑Mo7O246‑前驱体，再采用低温磷化法合成铁掺杂磷化镍钴与三氧化钼的复合材料。本发明的制备过程简单，成本低廉，且由于Fe‑NiCoP与MoO3复合所形成的特殊界面以及多金属的耦合作用，使得Fe‑NiCoP‑MoO3表现出优异的催化性能。
掺杂磷化氧化钼复合电解水功能催化剂及其制备方法

[发明专利]环境电容的确定、检测方法和系统、芯片、电子设备-CN202211291506.3在审
发明人：洪聪;程涛;刘业凡;张荣生;谢伟军;张忠 -专利权人：上海艾为电子技术股份有限公司
申请日： 2022-10-20 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本申请公开一种环境电容的确定、检测方法和系统、芯片、电子设备。其中环境电容的确定方法用于确定电容式芯片在接近检测过程中采用的当前环境电容，包括：获取第一接近电容；根据所述第一接近电容与预设的第一环境电容确定第一差值，所述第一环境电容为所述电容式芯片在无干扰环境下获得的电容参数，所述第一差值用于识别所述第一接近电容是否对应对象接近；根据所述第一差值与第一阈值之间的关系选择所述电容式芯片当前环境电容的确定方式，所述第一阈值用于识别所述电容式芯片的所处环境。本申请可以准确地确定电容式芯片的当前环境电容。
环境电容确定检测方法系统芯片电子设备

[发明专利]电容检测方法及电容检测装置-CN202211320893.9在审
发明人：程涛;刘业凡 -专利权人：上海艾为电子技术股份有限公司
申请日： 2022-10-26 - 公布日： 2023-01-31 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本申请提供一种电容检测方法，用于电容检测装置，该方法包括：获取检测通道在第一环境状态中第一工作模式下的第一电容测量值和第一环境状态中第二工作模式下的第二电容测量值；获取检测通道在第二环境状态中第一工作模式下的第三电容测量值和将第二环境状态中第二工作模式下的第四电容测量值；根据所获取的电容测量值，进而确定旁路通道的电容测量变化值和检测通道的电容测量变化值，确定补偿后的检测通道的电容测量值。采用上述技术方案，能够校正由于环境变化所引起的寄生电容变化，从而确保触摸电容检的测精度，避免发生误判。本申请还提供一种电容检测装置。
电容检测方法装置

[发明专利]一种待测电容检测方法及装置-CN202211170940.6在审
发明人： 刘业凡;娄声波;张忠;程涛;谢伟军 -专利权人：上海艾为电子技术股份有限公司
申请日： 2022-09-23 - 公布日： 2023-01-24 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本申请涉及触摸传感领域，公开了一种电容检测方法及装置。本申请的电容检测方法包括：获取基准补定状态时，获取待测电容的测量值；根据待测电容的测量偿值；当待测电容的电容值处于变化状态时，根据基准补偿值，确定参考补偿值；当待测电容的电容值处于稳值和参考补偿值，确定待测电容的有效测量值。本申请还根据待测电容的变化，实时更新参考补偿值，以使参考补偿值可相对于待测电容所在的电子设备内部环境变化进行适应调整，进一步便于补偿电子设备内部环境变化对于待测电容的电容值的影响。
一种电容检测方法装置

[发明专利]检测方法、系统、芯片和电子设备-CN202211290593.0在审
发明人：洪聪;程涛;刘业凡;张荣生;谢伟军 -专利权人：上海艾为电子技术股份有限公司
申请日： 2022-10-20 - 公布日： 2023-01-03 - 主分类号： G01V3/00 文献下载
摘要：本申请公开一种检测方法、系统、芯片和电子设备。其中检测方法应用于电容式芯片，所述电容式芯片包括第一引脚和第二引脚，所述第一引脚连接第一传感器电极；所述检测方法包括：若存在对象接近，在对所述第二引脚进行第一配置后，获取第一参数，在对所述第二引脚进行第二配置后，获取第二参数，所述第一配置用于构建所述第一引脚和所述第二引脚之间的电容，所述第二配置用于消除所述第一引脚和所述第二引脚之间的电容；获取所述第一参数和所述第二参数之间的差值；根据所述差值所处的方向识别所接近对象的类别。本申请可以提高检测过程的准确性。
检测方法系统芯片电子设备

[发明专利]一种电容检测方法及电容检测装置-CN202211165277.0在审
发明人： 刘业凡;郭辉;张忠;程涛;谢伟军 -专利权人：上海艾为电子技术股份有限公司
申请日： 2022-09-23 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本申请涉及触摸检测领域，公开了一种电容检测方法及装置，其中检测方法包括：获取待测电容的测量值，当待测电容的测量值处于稳定状态时，获取参考电容的测量值，并确定第一参考补偿系数，根据参考电容的测量值和第一参考补偿系数确定第一参考补偿值；获取基准有效测量值和待测电容的目标电容值，根据基准有效测量值和待测电容的目标电容值确定第二参考补偿值；基于第一参考补偿值和第二参考补偿值对待测电容的测量值进行补偿，获得待测电容的有效测量值。本申请通过第一参考补偿值和第二参考补偿值共同进行补偿，可实现更为准确的补偿效果。
一种电容检测方法装置

[发明专利]一种电容传感装置、接近度测量方法-CN202210498374.5在审
发明人：王旭旭;刘业凡 -专利权人：上海艾为电子技术股份有限公司
申请日： 2022-05-09 - 公布日： 2022-07-29 - 主分类号： H03K17/955 文献下载
摘要：本发明提供一种电容传感装置、接近度测量方法，该方法包括：获取电容数据；判断该电容数据中的电容采样值是否在当前的接近度测量范围内；当前的接近度测量范围为电容数据中的当前补偿电容值对应的测量范围；若电容采样值在当前的接近度测量范围内，则依据电容数据确定当前的接近度；若电容采样值超出当前的接近度测量范围内，则调整补偿电容值、以调整接近度测量范围，并以调整后的补偿电容信息确定当前的接近度；从而实现动态调整接近度测量范围，可以测量接近度变化范围大于电容传感器的量程范围的情况，满足同时测试较远和较近接近度的测试要求。
一种电容传感装置接近测量方法

[发明专利]触摸按键检测方法-CN201911053363.0有效
发明人： 刘业凡;徐琴;黄以亮;钱斌;陈长华 -专利权人：中电海康无锡科技有限公司
申请日： 2019-10-31 - 公布日： 2022-02-15 - 主分类号： G01R31/50 文献下载
摘要：本发明提供一种触摸按键检测方法，包括以下步骤：进行初始化：包括设置按键灵敏度；设定基线值的初始值；根据灵敏度设置触摸阈值、噪声阈值，灵敏度越高，触摸阈值和噪声阈值越高，应满足触摸阈值噪声阈值；初始化结束后，读取传感器采集到的电容值；判断采集到的电容值是否超过基线值+触摸阈值，若否则进入下一步，若是则判定为触摸；判断电容值是否超过基线值+噪声阈值，若是则返回进行下一次检测，若否进入下一步；判断电容值是否低于基线值‑1/4噪声阈值，若是则返回进行下一次检测，若否则进入下一步；根据水桶算法更新基线值；本发明实现动态阈值判别方式的触摸按键检测功能。
触摸按键检测方法

[发明专利]基线更新、相对状态检测方法和系统、电子设备-CN202110792395.3在审
发明人：王旭旭;刘业凡 -专利权人：上海艾为电子技术股份有限公司
申请日： 2021-07-13 - 公布日： 2021-10-29 - 主分类号： G01D5/24 文献下载
摘要：本申请公开一种基线更新、相对状态检测方法和系统、电子设备，其中基线更新方法包括：获取电容传感器在各个采样时刻的电容变化量与对应的基线值之间的差值，得到第一检测差值；根据所述第一检测差值与检测阈值之间的关系识别所述电容传感器与参照物在所述各个采样时刻的参考相对状态；根据各个采样时刻的参考相对状态获取各个采样时刻的基线更新规则，以更新各个采样时刻的基线值。其使各个基线值与相应电容传感器所处状态和/或环境相匹配，可以提高依据相应基线进行电容传感器与参照物之间相对状态检测的准确性。
基线更新相对状态检测方法系统电子设备

[实用新型]无线充电系统中提高金属异物检测范围的装置-CN202020476295.0有效
发明人：徐琴;钱斌;刘业凡;常夕阳;王瀚正;徐金波 -专利权人：中电海康无锡科技有限公司
申请日： 2020-04-03 - 公布日： 2020-12-01 - 主分类号： H02J50/60 文献下载
摘要：本实用新型提供一种无线充电系统中提高金属异物检测范围的装置，包括主控MCU、数个热敏电阻；所述数个热敏电阻分散设置在发射端线圈的表面；所述发射端线圈表面划分为金属异物易检测区和金属异物不易检测区；金属异物易检测区位于发射端线圈的中间区域，大致呈圆形；金属异物不易检测区位于金属异物易检测区的外圈区域；所述数个热敏电阻均匀分布在发射端线圈表面的金属异物不易检测区，各热敏电阻分别连接主控MCU的相应模数转换端口。本实用新型能够扩大对金属异物的检测范围，并有效检测出无线充电发射端上的金属异物。
无线充电系统提高金属异物检测范围装置

[发明专利]一种用于MCU晶振修调的控制方法及系统-CN202010461551.3在审
发明人：钱斌;徐琴;孙乾程;刘业凡 -专利权人：中电海康无锡科技有限公司
申请日： 2020-05-27 - 公布日： 2020-08-11 - 主分类号： G05B19/042 文献下载
摘要：本发明涉及芯片修调技术领域，具体公开了一种用于MCU晶振修调的控制方法，其中，包括：向待修调的MCU发送修调控制信号，以启动待修调的MCU进入频率修调模式；按照预设顺序依次向待修调的MCU设置匹配电容；获取每次匹配电容对应的待修调的MCU的输出频率；选择待修调的MCU的输出频率与预设标准频率的差值的最小者对应的匹配电容的电容值作为补偿电容的电容值，得到补偿电容；将补偿电容设置在待修调的MCU内部。本发明还公开了一种用于MCU晶振修调的控制系统。本发明提供的用于MCU晶振修调的控制方法可以减少PCB板级的电容成本，节省PCB的元件布局空间，实现板级MCU晶振输出频率的自动修调，无需人工手动修调，节约大量人工修调时间。
一种用于 mcu 晶振修调控制方法系统

[发明专利]一种片上系统芯片的测试方法及系统-CN202010462607.7在审
发明人：钱斌;徐琴;刘业凡;孙乾程 -专利权人：中电海康无锡科技有限公司
申请日： 2020-05-27 - 公布日： 2020-07-31 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明涉及芯片测试技术领域，具体公开了一种片上系统芯片的测试方法，其中，包括：接收上位机的测试开始指令；根据上位机的测试开始指令对待测试芯片进行修调测试；记录所述待测试芯片的修调测试结果；将所述修调测试结果反馈至所述上位机；接收所述上位机的测试结束指令。本发明还公开了一种片上系统芯片的测试系统。本发明提供的片上系统芯片的测试方法不仅可以在待测试芯片的量产测试阶段关键参数的测试修调，还可以在待测试芯片的设计阶段，实现对其在FPGA的功能验证，从而确保芯片测试模式以及DFT等测试项功能的设计正确无误。
一种系统芯片测试方法

[实用新型]应用于智能门锁的触摸按键板-CN201922420363.1有效
发明人：钱斌;刘业凡;徐琴 -专利权人：中电海康无锡科技有限公司
申请日： 2019-12-28 - 公布日： 2020-06-26 - 主分类号： H03K17/96 文献下载
摘要：本实用新型提供一种应用于智能门锁的触摸按键板，包括PCB板，PCB板上设有多个触摸按键，其主要改进之处在于：所述多个触摸按键呈阵列排布；每个触摸按键分为两个子部；每一行中，各触摸按键的一个子部相连接，并对应于MCU的一个输入管脚；每一列中，各触摸按键的另一个子部相连接，并对应于MCU的一个输入管脚。本实用新型可减少触摸按键的引出线，从而可降低MCU所需输入管脚的数量。
应用于智能门锁触摸按键

[发明专利]应用于智能门锁的触摸按键板-CN201911383220.6在审
发明人：钱斌;刘业凡;徐琴 -专利权人：中电海康无锡科技有限公司
申请日： 2019-12-28 - 公布日： 2020-04-14 - 主分类号： H03K17/96 文献下载
摘要：本发明提供一种应用于智能门锁的触摸按键板，包括PCB板，PCB板上设有多个触摸按键，其主要改进之处在于：所述多个触摸按键呈阵列排布；每个触摸按键分为两个子部；每一行中，各触摸按键的一个子部相连接，并对应于MCU的一个输入管脚；每一列中，各触摸按键的另一个子部相连接，并对应于MCU的一个输入管脚。本发明可减少触摸按键的引出线，从而可降低MCU所需输入管脚的数量。
应用于智能门锁触摸按键

[发明专利]一种面向视觉巡线的简易直线自动定位方法-CN201710178728.7有效
发明人：李健;彭真明;李新彦;陈科;刘业凡;龙鸿峰;张鹏飞;宋立;吕洋;李丹;杨立峰 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2017-03-23 - 公布日： 2019-07-09 - 主分类号： G06T7/70 文献下载
摘要：本发明公开了一种面向视觉巡线的简易直线自动定位方法，属于机器人、小车巡线及无人机巡航等机器视觉应用领域，解决现有巡线技术中使用直线特征对视频进行描述时，提取图像中的所有直线信息，忽视了帧与帧之间的联系，从而增加了直线定位的时间，并导致得到的结果有较大的误差的问题。本发明在场景二值图像中以形心公式和直线点斜式方程为基础，将直线标识分割成两部分，分别求形心位置，进而得到直线的斜率和位置。有别于传统的分割线和区域固定不变模式，本发明采取结合前一帧直线标识的定位结果，自动更新分割线方程和区域，从而达到自动视觉定位的效果。
一种面向视觉简易直线自动定位方法

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