[发明专利]一种适用于存储器芯片测试程序的生成方法及装置在审
| 申请号： | 202211094932.8 | 申请日： | 2022-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN115458024A | 公开（公告）日： | 2022-12-09 |
| 发明（设计）人： | 黄金煌 | 申请（专利权）人： | 北京紫光青藤微系统有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08;G06F30/327;G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京康盛知识产权代理有限公司 11331 | 代理人： | 桑博宇 |
| 地址： | 100000 北京市海淀区王庄路*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种适用于存储器芯片测试程序的生成方法及装置，该方法中确定待测试存储器芯片的封装类型，根据接收到的测试需求指令对待测试存储器芯片的测试程序进行修改得到修改后的测试程序，根据封装类型对应的指令解析方式对测试需求指令进行解析得到测试结果，根据封装类型对应的校验方式对测试结果进行校验，当校验通过时输出修改后的测试程序作为待测试存储器芯片的测试程序。本申请根据不同的封装类型对应的不同的指令解析方式对测试需求指令进行解析得到测试结果以及对应的不同的校验方式对测试结果进行校验，并在校验通过时输出测试程序。全程无需人为参与，避免人为修改测试程序出现错误，降低测试程序出现错误的概率，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 适用于 存储器 芯片 测试 程序 生成 方法 装置 | ||
【主权项】：
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