[发明专利]一种适用于存储器芯片测试程序的生成方法及装置

权利要求书

1.一种适用于存储器芯片测试程序的生成方法，其特征在于，包括：

确定待测试存储器芯片的封装类型；

根据接收到的测试需求指令对所述待测试存储器芯片的测试程序进行修改得到修改后的测试程序；

根据所述封装类型对应的指令解析方式对所述测试需求指令进行解析得到测试结果；

根据所述封装类型对应的校验方式对所述测试结果进行校验，当校验通过时，输出所述修改后的测试程序作为所述待测试存储器芯片的测试程序。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定待测试存储器芯片的封装类型的步骤，包括：

接收输入的待测试存储器芯片的封装类型。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据接收到的测试需求指令对所述待测试存储器芯片的测试程序进行修改得到修改后的测试程序的步骤，包括：

根据接收到的测试需求指令对应的修改方式对所述待测试存储器芯片的测试程序进行修改得到修改后的测试程序。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述封装类型对应的指令解析方式对所述测试需求指令进行解析得到测试结果的步骤，包括：

当所述封装类型为封装类型一时，根据数据线SDA信号的内容确定接收到的测试需求指令的指令类型，并根据所述指令类型对所述测试需求指令进行解析得到测试结果，其中，所述封装类型一为输入和输出均包含数据线SDA端口和时钟线SCL端口的封装类型；

当所述封装类型为封装类型二时，根据所述待测试存储器芯片所使用的集成电路总线IIC通信协议对接收到的测试需求指令进行解析得到测试结果，其中，所述封装类型二为输入和输出均包含数据线SDA端口、时钟线SCL端口和操作码的封装类型。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述指令类型为读指令、写指令或功能指令。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述指令类型对所述测试需求指令进行解析得到测试结果的步骤，包括：

将十六进制的所述测试需求指令转换为二进制的测试需求指令；

当所述指令类型不为读指令时，在二进制的测试需求指令的起始时间点增加开始信号以及结束时间点增加停止信号；

当所述指令类型为读指令时，在所述测试需求指令的起始时间点和结束时间点之间的任一时间点增加开始信号；

所述根据所述待测试存储器芯片所使用的集成电路总线IIC通信协议对接收到的测试需求指令进行解析得到测试结果的步骤，包括：

将所述测试需求指令中的十六进制操作码转换为二进制操作码，并在与每一位二进制操作码相邻的前后位的位置上增加时钟线SCL为低电平的信号。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述根据所述封装类型对应的校验方式对所述测试结果进行校验的步骤，包括：

当所述封装类型为封装类型一且所述指令类型不为读指令时，去除所增加的开始信号和结束信号得到去除后指令；

当所述封装类型为封装类型一且所述指令类型为读指令时，去除所增加的开始信号得到去除后指令；

当所述封装类型为封装类型二时，去除所增加的时钟线SCL为低电平的信号得到去除后指令；

将二进制的所述去除后指令转换为十六进制的指令，将所述十六进制的指令与所述测试需求指令进行对比校验。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述根据所述封装类型对应的校验方式对所述测试结果进行校验的步骤之后，所述方法还包括：

当校验未通过时，返回执行所述根据所述封装类型对应的指令解析方式对所述测试需求指令进行解析得到测试结果的步骤直至校验通过为止。