[发明专利]一种适用于存储器芯片测试程序的生成方法及装置

说明书

本申请公开了一种适用于存储器芯片测试程序的生成方法及装置，该方法中确定待测试存储器芯片的封装类型，根据接收到的测试需求指令对待测试存储器芯片的测试程序进行修改得到修改后的测试程序，根据封装类型对应的指令解析方式对测试需求指令进行解析得到测试结果，根据封装类型对应的校验方式对测试结果进行校验，当校验通过时输出修改后的测试程序作为待测试存储器芯片的测试程序。本申请根据不同的封装类型对应的不同的指令解析方式对测试需求指令进行解析得到测试结果以及对应的不同的校验方式对测试结果进行校验，并在校验通过时输出测试程序。全程无需人为参与，避免人为修改测试程序出现错误，降低测试程序出现错误的概率，提高测试效率。

技术领域

本申请涉及存储器技术领域，尤其涉及一种适用于存储器芯片测试程序的生成方法及装置。

背景技术

在存储器芯片测试项目中，通常要根据存储器芯片的产品手册功能定义以及存储器芯片内部采用的通信协议来生成存储器芯片的测试所需程序即测试程序，然后通过测试程序对实际的存储器芯片进行相关指令的测试。

现有生成测试程序的方式为：通过RTL（Register Transfer Level，寄存器转换级电路）仿真生成测试使用的测试程序。但所生成的测试程序未必能直接与测试厂的测试机台进行适配，为了使所生成的测试程序与测试机台适配，需要人为修改测试程序的内容，且对于不同封装形式的存储器芯片，测试机台所需的测试程序的格式与流程均不相同，并且内容较为复杂的测试程序无法实现手动修改。

由于人为修改测试程序的过程中极容易出现错误，导致测试程序出现错误的概率较高，使得测试效率较低。

发明内容

本申请提供一种适用于存储器芯片测试程序的生成方法及装置，降低了测试程序出现错误的概率，提高了测试效率。

第一方面，本申请提供了一种适用于存储器芯片测试程序的生成方法，包括：

确定待测试存储器芯片的封装类型；

根据接收到的测试需求指令对所述待测试存储器芯片的测试程序进行修改得到修改后的测试程序；

根据所述封装类型对应的指令解析方式对所述测试需求指令进行解析得到测试结果；

根据所述封装类型对应的校验方式对所述测试结果进行校验，当校验通过时，输出所述修改后的测试程序作为所述待测试存储器芯片的测试程序。

可选的，所述确定待测试存储器芯片的封装类型的步骤，包括：

接收输入的待测试存储器芯片的封装类型。

可选的，所述根据接收到的测试需求指令对所述待测试存储器芯片的测试程序进行修改得到修改后的测试程序的步骤，包括：

根据接收到的测试需求指令对应的修改方式对所述待测试存储器芯片的测试程序进行修改得到修改后的测试程序。

可选的，所述根据所述封装类型对应的指令解析方式对所述测试需求指令进行解析得到测试结果的步骤，包括：

当所述封装类型为封装类型一时，根据数据线SDA信号的内容确定接收到的测试需求指令的指令类型，并根据所述指令类型对所述测试需求指令进行解析得到测试结果，其中，所述封装类型一为输入和输出均包含数据线SDA端口和时钟线SCL端口的封装类型；

当所述封装类型为封装类型二时，根据所述待测试存储器芯片所使用的集成电路总线IIC通信协议对接收到的测试需求指令进行解析得到测试结果，其中，所述封装类型二为输入和输出均包含数据线SDA端口、时钟线SCL端口和操作码的封装类型。

可选的，所述指令类型为读指令、写指令或功能指令。

可选的，所述根据所述指令类型对所述测试需求指令进行解析得到测试结果的步骤，包括：

将十六进制的所述测试需求指令转换为二进制的测试需求指令；