[发明专利]提升SSD不良品分析效率的方法、装置、存储介质及设备有效
| 申请号： | 202211080666.3 | 申请日： | 2022-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN115171768B | 公开（公告）日： | 2022-12-02 |
| 发明（设计）人： | 徐高翔;薛红军;孙丽华 | 申请（专利权）人： | 北京得瑞领新科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G06Q10/00;G06K9/62;G11C29/38;G11C29/44 |
| 代理公司： | 北京慧智兴达知识产权代理有限公司 11615 | 代理人： | 李丽颖 |
| 地址： | 100192 北京市海淀区西小口路66号*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及数据存储技术领域，提供一种提升SSD不良品分析效率的方法、装置、存储介质及设备，该方法包括：从log文件中获取测试出的不良SSD在测试中的异常事件；对各个异常事件进行解析，得到异常事件对应的物理器件；根据异常事件对应物理器件不同将异常事件划分为不同事件类型；根据各个事件类型中异常事件的数量和事件类型的评分权重计算与每一事件类型对应的物理器件的异常评分；将异常评分大于对应的预设评分阈值的物理器件判定为异常元器件并查询其在PCB上位置。本发明能够自动定位到SSD不良品的异常元器件，以便维修人员根据分析结果进行相应器件的维修，精简了不良品的维修流程，降低维修流程人员成本，提高生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 提升 ssd 不良 分析 效率 方法 装置 存储 介质 设备 | ||
【主权项】：
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