[发明专利]提升SSD不良品分析效率的方法、装置、存储介质及设备

说明书

本发明涉及数据存储技术领域，提供一种提升SSD不良品分析效率的方法、装置、存储介质及设备，该方法包括：从log文件中获取测试出的不良SSD在测试中的异常事件；对各个异常事件进行解析，得到异常事件对应的物理器件；根据异常事件对应物理器件不同将异常事件划分为不同事件类型；根据各个事件类型中异常事件的数量和事件类型的评分权重计算与每一事件类型对应的物理器件的异常评分；将异常评分大于对应的预设评分阈值的物理器件判定为异常元器件并查询其在PCB上位置。本发明能够自动定位到SSD不良品的异常元器件，以便维修人员根据分析结果进行相应器件的维修，精简了不良品的维修流程，降低维修流程人员成本，提高生产效率。

技术领域

本发明涉及数据存储技术领域，尤其涉及一种提升SSD不良品分析效率的方法、装置、存储介质及设备。

背景技术

SSD（Solid State Disk或Solid State Drive，固态硬盘）在工厂被生产出来，需要经过多个阶段的测试验证。每个阶段测试在不同的环境中测试不同的模块和功能，通过这些测试剔除不合格的产品。对于不良品，测试或者生产人员无法知道导致不良的原因，以及不良器件的位置，无法直接给出维修方案。通常需要研发人员从SSD中导出记录异常信息的log文件，然后分析log，找到不良的根本原因，并提供维修方案。

目前，现有技术方案在进行故障分析大多是以SSD的使用者的角度获取SSD的信息，由于信息量有限，所以很难从根本上判断故障的详细原因，判断元器件级别是否故障的方法不够精确。

而且，现有的技术方案在生产端不良品的处理方式，主要是基于研发人员的人工处理。由于工厂量产出来的SSD数量巨大，产生的不良品数量较大，如果每片都需要研发人员详细分析并提出解决建议，那么对研发来说，工作量巨大。维修人员在根据建议维修不良品SSD，在这个过程中，涉及到测试人员、固件开发人员、硬件开发人员和维修人员相互配合才能完成。此外，由于生产过程中，可能存在不同型号的SSD不良品，SSD的主要器件是NANDFlash，对于不同的厂家、型号、类型，NAND Flash的特性都有较大的区别，在对NAND Flash进行故障分析时需要针对性的分析和判断，那么对于不良品的分析就还需要对应的参数信息才能正确的分析出结果。可见，在SSD生产测试中进行故障分析存在问题较多，而且错综复杂，光靠研发人员的计算、统计和分析，不但消耗大量人力物力时间，效率低下，而且容易出错。

发明内容

鉴于上述问题，提出了本发明以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的提升SSD不良品分析效率的方法、装置、存储介质及设备。

本发明的一个方面，提供了一种提升SSD不良品分析效率的方法，所述方法包括：

读取log文件，以从log文件中获取测试出的不良SSD在测试中的异常事件；

对各个异常事件进行解析，得到各个异常事件对应的物理器件；

根据各个异常事件对应的物理器件不同将异常事件划分为不同的事件类型；

根据各个事件类型中异常事件的数量和预设的各个事件类型的评分权重计算与每一事件类型对应的物理器件的异常评分；

判断各个物理器件的异常评分是否大于各自对应的预设评分阈值，将异常评分大于对应的预设评分阈值的物理器件判定为异常元器件。

进一步地，在读取log文件过程中，所述方法还包括：

从log文件中获取测试出的不良SSD的固件配置信息；

相应的，所述对各个异常事件进行解析，得到各个异常事件对应的物理器件，包括：基于不良SSD的固件配置信息对log文件中异常事件发生的位置信息进行解析，得到各个异常事件对应的物理器件。

进一步地，在读取log文件过程中，所述方法还包括：