[发明专利]一种超结VDMOS新结构及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202211078330.3 申请日: 2022-09-05
公开(公告)号: CN115172466B 公开(公告)日: 2022-11-08
发明(设计)人: 李伟聪;姜春亮;雷秀芳 申请(专利权)人: 深圳市威兆半导体股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336
代理公司: 北京惟盛达知识产权代理事务所(普通合伙) 11855 代理人: 陈钊
地址: 518000 广东省深圳市南山区桃源街道福*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明属于功率半导体器件技术领域,具体涉及一种超结VDMOS新结构及其制备方法。本发明的一种超结VDMOS新结构,通过在超结VDMOS的P柱中部引入SiO2的氧化浮岛,使器件在反向耐压状态下时,电场分布向SiO2集中,从而抬高超结结构中P柱的中部电场;通过在N柱中部引入N型低掺杂的补偿浮岛,形成的P+NN‑结相对于原本的P+N结,N柱中电场下降更慢,从而能够缓解超结结构中部电场凹陷,抬高N柱中部的电场;并且由于避免了在N柱中引入氧化浮岛,载流子流通路径未被截断,能够保证器件具有较低的导通电阻;通过抬高超结结构中部电场,使超结结构两端区域电场降低,能够有效扩展超结器件的耐压和动态雪崩工艺窗口。
搜索关键词: 一种 vdmos 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
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