[发明专利]一种修正光掩模图形位置偏差的设备及方法在审
申请号: | 202211047725.7 | 申请日: | 2022-08-30 |
公开(公告)号: | CN115494695A | 公开(公告)日: | 2022-12-20 |
发明(设计)人: | 郑怀志;施维 | 申请(专利权)人: | 广州新锐光掩模科技有限公司 |
主分类号: | G03F1/42 | 分类号: | G03F1/42;G03F1/72;G03F1/48 |
代理公司: | 北京清大紫荆知识产权代理有限公司 11718 | 代理人: | 黎飞鸿;黄贞君 |
地址: | 510555 广东省广州市(*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请提供了一种修正光掩模图形位置偏差的设备及方法,属于光掩模技术领域,具体包括上盖板和下盖板,上盖板和下盖板之间通过上盖板支柱连接,上盖板下侧设有光掩模,光掩模通过光掩模支柱固定于下盖板上,光掩模下侧设有保护膜边框,保护膜边框内设有保护膜,保护膜边框通过保护膜支柱固定于下盖板上,上盖板支柱、光掩模支柱和保护膜支柱均设置为可伸缩结构;保护膜边框的外周设有控制棒,控制棒远离保护膜边框的一端连接有微距控制组件,微距控制组件用于控制控制棒带动保护膜边框进行移动;设备还包括控制系统,与设备内的各个部件连接进行控制。本申请提高了光掩模图形位置准确性和芯片良率。 | ||
搜索关键词: | 一种 修正 光掩模 图形 位置 偏差 设备 方法 | ||
【主权项】:
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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